公开(公告)号：CN1091259C

公开(公告)日：2002-09-18

申请号：CN97121820.X

申请日：1997-11-28

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金宇进 ,  郭朱锡 ,  金庆桓 ,  方郑浩

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/3181

CPC classification number: G01R31/01 ,  G01R31/31908

Abstract: 本发明涉及一种用于检测用以确定待测半导体器件是好还是失效的测试系统的测试设备操作错误的方法。本方法包括周期性地把数据输入到器件的步骤及检查能否读出原封不动的数据，以检测该测试设备的操作错误。

公开(公告)号：CN1204056A

公开(公告)日：1999-01-06

申请号：CN97121820.X

申请日：1997-11-28

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金宇进 ,  郭朱锡 ,  金庆桓 ,  方郑浩

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/01 ,  G01R31/31908

Abstract: 本发明涉及一种用于检测用以确定待测半导体器件是好还是失效的测试系统的测试设备操作错误的方法。本方法包括周期性地把数据输入到器件的步骤及检查能否读出原封不动的数据,以检测该测试设备的操作错误。