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发明公开
测试装置、测试装置的操作方法以及半导体器件测试系统审中-公开

公开(公告)号：CN119964626A

公开(公告)日：2025-05-09

申请号：CN202410966458.6

申请日：2024-07-18

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴世勋 , 琴贤顺 , 金东建 , 金峻演 , 金亨淳

IPC: G11C29/12 , G11C29/08

Abstract: 一种测试装置，包括：多个输入/输出端子，被配置为与形成在晶片上的器件电连接；比较电路，被配置为从形成在晶片上的被测器件接收多个测试信号，并基于多个测试信号生成多个测试结果信号；以及存储器，被配置为接收多个测试结果信号并存储由多个测试结果信号指示的与被测器件相关的坏单元信息和修复信息，其中，从被测器件一次接收到的多个测试信号的总数为整数。

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