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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101803265A
公开(公告)日：2010-08-11
申请号：CN200880107083.7
申请日：2008-09-12
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H04L1/18
CPC classification number: H03M13/09 , H03M13/27 , H03M13/6525 , H04L1/0051 , H04L1/0061 , H04L1/0083
Abstract: 本发明提供了一种用于产生循环冗余校验(CRC)的方法和设备。在本发明的一个方面中，基于多个比特，使用选择的循环冗余校验生成多项式来计算多个循环冗余校验，基于具有特定比特排序的多个比特的第一子集来计算至少一个循环冗余校验，以及基于具有不同比特排序的多个比特的第二子集来计算至少另一循环冗余校验。比特的第二子集与比特的第一子集交叠。
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公开(公告)号：CN104253669A
公开(公告)日：2014-12-31
申请号：CN201410452437.9
申请日：2008-09-12
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H03M13/09 , H03M13/27 , H03M13/6525 , H04L1/0051 , H04L1/0061 , H04L1/0083
Abstract: 本发明提供了一种用于产生循环冗余校验(CRC)的方法和设备。在本发明的一个方面中，基于多个比特，使用选择的循环冗余校验生成多项式来计算多个循环冗余校验，基于具有特定比特排序的多个比特的第一子集来计算至少一个循环冗余校验，以及基于具有不同比特排序的多个比特的第二子集来计算至少另一循环冗余校验。比特的第二子集与比特的第一子集交叠。
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公开(公告)号：CN104253616A
公开(公告)日：2014-12-31
申请号：CN201410452630.2
申请日：2008-09-12
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H03M13/09 , H03M13/27 , H03M13/6525 , H04L1/0051 , H04L1/0061 , H04L1/0083
Abstract: 本发明提供了一种用于产生循环冗余校验(CRC)的方法和设备。在本发明的一个方面中，基于多个比特，使用选择的循环冗余校验生成多项式来计算多个循环冗余校验，基于具有特定比特排序的多个比特的第一子集来计算至少一个循环冗余校验，以及基于具有不同比特排序的多个比特的第二子集来计算至少另一循环冗余校验。比特的第二子集与比特的第一子集交叠。
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公开(公告)号：CN104253669B
公开(公告)日：2019-04-12
申请号：CN201410452437.9
申请日：2008-09-12
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 本发明提供了一种用于产生循环冗余校验(CRC)的方法和设备。在本发明的一个方面中，基于多个比特，使用选择的循环冗余校验生成多项式来计算多个循环冗余校验，基于具有特定比特排序的多个比特的第一子集来计算至少一个循环冗余校验，以及基于具有不同比特排序的多个比特的第二子集来计算至少另一循环冗余校验。比特的第二子集与比特的第一子集交叠。
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公开(公告)号：CN104253616B
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201410452630.2
申请日：2008-09-12
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 本发明提供了一种用于产生循环冗余校验(CRC)的方法和设备。在本发明的一个方面中，基于多个比特，使用选择的循环冗余校验生成多项式来计算多个循环冗余校验，基于具有特定比特排序的多个比特的第一子集来计算至少一个循环冗余校验，以及基于具有不同比特排序的多个比特的第二子集来计算至少另一循环冗余校验。比特的第二子集与比特的第一子集交叠。
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