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发明公开
采样和保持电路、集成电路及其制造方法审中-公开

公开(公告)号：CN119673257A

公开(公告)日：2025-03-21

申请号：CN202411111187.2

申请日：2024-08-14

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 卢炯东 , 李炅勋 , 林雄泽 , 曹永载 , 崔炳贮

IPC: G11C27/02 , H03M1/12

Abstract: 采样和保持电路可以包括：第一晶体管，其连接在被配置为接收第一输入信号的第一输入端子和被配置为输出第一采样信号的第一输出端子之间；第二晶体管，连接在被配置为接收第二输入信号的第二输入端子与被配置为输出第二采样信号的第二输出端子之间；第一虚设晶体管，设置在第一输入端子与第二输出端子之间；以及第二虚设晶体管，设置在第二输入端子和第一输出端子之间。第一虚设晶体管的源极区和漏极区以及第二虚设晶体管的源极区和漏极区可以不电连接到将第一晶体管与第二晶体管连接的金属线。

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