公开(公告)号：CN103487673B

公开(公告)日：2017-09-15

申请号：CN201310168065.2

申请日：2013-05-06

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李汉傲 ,  李在奎 ,  崔雄海 ,  李炳熙

IPC: G01R31/00

CPC classification number: G01R31/31924 ,  G01R31/001 ,  G01R31/002 ,  H04M1/24

Abstract: 提供一种被测装置的自动测试的设备和方法。在所述设备和方法中，将静电脉冲施加到DUT，从DUT检测故障类型，并根据检测的故障类型，向DUT发送控制命令以将DUT的测试模式返回到正常模式。

公开(公告)号：CN103487673A

公开(公告)日：2014-01-01

申请号：CN201310168065.2

申请日：2013-05-06

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李汉傲 ,  李在奎 ,  崔雄海 ,  李炳熙

IPC: G01R31/00

CPC classification number: G01R31/31924 ,  G01R31/001 ,  G01R31/002 ,  H04M1/24

Abstract: 提供一种被测装置的自动测试的设备和方法。在所述设备和方法中，将静电脉冲施加到DUT，从DUT检测故障类型，并根据检测的故障类型，向DUT发送控制命令以将DUT的测试模式返回到正常模式。