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公开(公告)号：CN118053489A
公开(公告)日：2024-05-17
申请号：CN202310827246.5
申请日：2023-07-06
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 吴明真 , 朴璟真 , 崔容硕
IPC: G11C29/14
Abstract: 公开了半导体装置和测试保持力的方法。所述半导体装置包括：存储器测试电路，基于第二信号的逻辑电平和第三信号的逻辑电平输出第四信号，第二信号与由主机输出的第一信号对应；存储器装置，基于第四信号的逻辑电平变为活动的或非活动的；以及测试逻辑，输出第三信号并且基于第二信号的逻辑电平对存储器装置执行保持力测试。
