公开(公告)号：CN1912676A

公开(公告)日：2007-02-14

申请号：CN200510133992.6

申请日：2005-12-30

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 闵炫轸 ,  普特波夫·维蒂莫 ,  赵成训 ,  郑在贤 ,  李锡原 ,  李泰润

IPC: G02B27/00 ,  G02B5/04 ,  H04N5/335 ,  G03B11/00

Abstract: 本发明涉及一种光学装置的制造设备及制造方法。依据本发明所提供的具有多个棱镜的光学装置的制造设备包含：白色光源；波长选择滤光器，用于提取预定波长范围的光；集光器，用于集中所述波长选择滤光器所选择的光；台架，用于调节所述棱镜的位置；显示部，用于显示至少一对通过所述棱镜的光的干涉现象。因此，提供可以简单地使多个棱镜的光学距离相一致的一种光学装置的制造设备及制造方法。

公开(公告)号：CN100416335C

公开(公告)日：2008-09-03

申请号：CN200510133992.6

申请日：2005-12-30

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 闵炫轸 ,  普特波夫·维蒂莫 ,  赵成训 ,  郑在贤 ,  李锡原 ,  李泰润

IPC: G02B27/00 ,  G02B5/04 ,  H04N5/335 ,  G03B11/00

Abstract: 本发明涉及一种光学装置的制造设备及制造方法。依据本发明所提供的具有多个棱镜的光学装置的制造设备包含：白色光源；波长选择滤光器，用于提取预定波长范围的光；集光器，用于集中所述波长选择滤光器所选择的光；台架，用于调节所述棱镜的位置；显示部，用于显示至少一对通过所述棱镜的光的干涉现象。因此，提供可以简单地使多个棱镜的光学距离相一致的一种光学装置的制造设备及制造方法。

公开(公告)号：CN1917040A

公开(公告)日：2007-02-21

申请号：CN200510097429.8

申请日：2005-12-28

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 普特波夫·维蒂莫 ,  赵成训 ,  李锡原 ,  权宁健 ,  金大锡 ,  金洸秀 ,  李文九

IPC: G11B5/00

Abstract: 本发明涉及一种磁记录介质的检测装置及其检测方法。依据本发明所提供的磁记录介质的检测装置，包含：向所述磁记录介质发出光的外差激光器；使从所述磁记录介质反射的光按特定方向偏振的偏振部；用于接收偏振光的收光部；从接受到的光检测克尔磁信号的检测器；用于显示所检测到的所述克尔磁信号的显示部。据此，提供一种可以正确、简单地检测磁记录介质的克尔磁信号的光学设备检测装置及其检测方法。