公开(公告)号：CN1114109C

公开(公告)日：2003-07-09

申请号：CN97113226.7

申请日：1997-05-11

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 白云迪 ,  姜廷旻 ,  柳大根 ,  成荣福 ,  南彰祐

IPC: G01R31/00 ,  G11B20/18 ,  B25J21/00

CPC classification number: G06F11/2221 ,  G01R31/2849 ,  G06F11/24 ,  G11B27/36

Abstract: 一种用于对若干个硬盘驱动器(HDD)进行多测试的系统，包括一个按行和列有次序堆放HDD的高温老化柜；一个控制柜，该柜用一个间壁和所述的老化柜隔离，用于按行和列可拆卸地安装若干个HDD测试计算机，并且和所述的HDD电连接；以及，一个用于控制老化柜和HDD测试计算机内部环境的主机。

公开(公告)号：CN1177187A

公开(公告)日：1998-03-25

申请号：CN97113226.7

申请日：1997-05-11

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 白云迪 ,  姜廷旻 ,  柳大根 ,  成荣福 ,  南彰祐

IPC: G11B20/18 ,  G01R31/00

CPC classification number: G06F11/2221 ,  G01R31/2849 ,  G06F11/24 ,  G11B27/36

Abstract: 一种用于对若干个硬盘驱动器(HDD)进行多测试的系统,包括一个按行和列有次序堆放HDD的高温老化柜;一个控制柜,该柜用一个间壁和所述的老化柜隔离,用于按行和列可拆卸地安装若干个HDD测试计算机,并且和所述的HDD电连接;以及,一个用于控制老化柜和HDD测试计算机内部环境的主机。