公开(公告)号：CN100394480C

公开(公告)日：2008-06-11

申请号：CN200410058986.4

申请日：2004-07-29

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 郑洪暎 ,  左寄勋 ,  金相勋

IPC: G11B7/00 ,  G11B20/18

CPC classification number: G11B20/1217 ,  G11B7/0053 ,  G11B2020/1239 ,  G11B2020/1274 ,  G11B2220/2562

Abstract: 一种能够精确地检测记录在装入光学驱动器的光学介质上的平台预凹坑(LPP)数据的装置和方法。该装置包括：LPP数据检测单元，从自光学介质反射的信号中，检测从中去除了摆频的LPP数据；摆动信号检测器，从反射的信号中检测摆动信号；以及LPP数据产生器，使用检测的LPP数据和检测的摆动信号，产生记录在光学介质上的LPP数据。

公开(公告)号：CN1584996A

公开(公告)日：2005-02-23

申请号：CN200410058986.4

申请日：2004-07-29

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 郑洪暎 ,  左寄勋 ,  金相勋

IPC: G11B7/00 ,  G11B20/18

CPC classification number: G11B20/1217 ,  G11B7/0053 ,  G11B2020/1239 ,  G11B2020/1274 ,  G11B2220/2562

Abstract: 一种能够精确地检测记录在装入光学驱动器的光学介质上的平台预凹坑(LPP)数据的装置和方法。该装置包括：LPP数据检测单元，从自光学介质反射的信号中，检测从中去除了摆频的LPP数据；摆动信号检测器，从反射的信号中检测摆动信号；以及LPP数据产生器，使用检测的LPP数据和检测的摆动信号，产生记录在光学介质上的LPP数据。