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公开(公告)号：CN112700816A
公开(公告)日：2021-04-23
申请号：CN202011039061.0
申请日：2020-09-28
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C29/56 , G11C11/408
Abstract: 一种用于测试存储器芯片的方法，包括：对存储器芯片执行裸片电特性拣选(EDS)测试；当EDS测试通过时，执行封装测试；当封装测试通过时，执行模块测试；当模块测试通过时，执行安装测试；以及当EDS测试、封装测试、模块测试或安装测试失败时，通过熔丝操作将存储器芯片设置为镜像模式。
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