半导体装置和半导体系统

    公开(公告)号:CN105404410A

    公开(公告)日:2016-03-16

    申请号:CN201510543302.8

    申请日:2015-08-28

    Abstract: 一种半导体装置和半导体系统,其可通过三级相关双采样(CDS)来增强针对噪声的抗干扰性。半导体装置包括:放大器,通过外部输入来接收从面板提供的噪声和驱动信号,针对驱动信号的预定时间段进行重置且通过重置对噪声进行第一采样来生成第一采样噪声,第一采样噪声包括连续的重置时间点的噪声之间噪声差;采样器,对第一噪声交替地执行第二采样和第三采样来生成第二采样噪声和第三采样噪声且对第二采样噪声和第三采样噪声执行第四采样来生成第四采样噪声。这里,第一采用噪声包括第一噪声差至第三噪声差,第二采样噪声为第一噪声差与第二噪声差之差,第三噪声为第二噪声差与第三噪声差之差,第四采样噪声为第二采样噪声与第三采样噪声之差。

    半导体装置和半导体系统

    公开(公告)号:CN105404410B

    公开(公告)日:2020-06-26

    申请号:CN201510543302.8

    申请日:2015-08-28

    Abstract: 一种半导体装置和半导体系统,其可通过三级相关双采样(CDS)来增强针对噪声的抗干扰性。半导体装置包括:放大器,通过外部输入来接收从面板提供的噪声和驱动信号,针对驱动信号的预定时间段进行重置且通过重置对噪声进行第一采样来生成第一采样噪声,第一采样噪声包括连续的重置时间点的噪声之间噪声差;采样器,对第一噪声交替地执行第二采样和第三采样来生成第二采样噪声和第三采样噪声且对第二采样噪声和第三采样噪声执行第四采样来生成第四采样噪声。这里,第一采用噪声包括第一噪声差至第三噪声差,第二采样噪声为第一噪声差与第二噪声差之差,第三噪声为第二噪声差与第三噪声差之差,第四采样噪声为第二采样噪声与第三采样噪声之差。

Patent Agency Ranking