公开(公告)号：CN108089840B

公开(公告)日：2022-03-08

申请号：CN201710055989.X

申请日：2017-01-25

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 卡尔平斯基·博赫丹 ,  李容基 ,  卢美贞 ,  朴商旭 ,  金祺倬 ,  金容秀 ,  崔允赫

IPC: G06F7/58

Abstract: 本发明提供了一种用于随机数产生器的随机性测试设备及方法。一种用于测试随机数产生器的设备包括相关性测试电路和随机性确定电路。相关性测试电路提取由随机数产生器产生的比特流中的均包括彼此隔开第一距离的两个比特的第一多个比特对，获得所述第一多个比特对的各自两个比特之间的差的第一总和，并获得第二多个比特对的各自两个比特之间的差的第二总和，所述第二多个比特对的每个比特对包括彼此隔开与第一距离不同的第二距离的两个比特。随机性确定电路基于第一总和和第二总和来确定比特流的随机性。

公开(公告)号：CN108089840A

公开(公告)日：2018-05-29

申请号：CN201710055989.X

申请日：2017-01-25

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 卡尔平斯基·博赫丹 ,  李容基 ,  卢美贞 ,  朴商旭 ,  金祺倬 ,  金容秀 ,  崔允赫

IPC: G06F7/58

CPC classification number: G06F7/584 ,  G06F7/58

Abstract: 本发明提供了一种用于随机数产生器的随机性测试设备及方法。一种用于测试随机数产生器的设备包括相关性测试电路和随机性确定电路。相关性测试电路提取由随机数产生器产生的比特流中的均包括彼此隔开第一距离的两个比特的第一多个比特对，获得所述第一多个比特对的各自两个比特之间的差的第一总和，并获得第二多个比特对的各自两个比特之间的差的第二总和，所述第二多个比特对的每个比特对包括彼此隔开与第一距离不同的第二距离的两个比特。随机性确定电路基于第一总和和第二总和来确定比特流的随机性。