公开(公告)号：CN118069414A

公开(公告)日：2024-05-24

申请号：CN202310819615.6

申请日：2023-07-05

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 郑进勳 ,  金成峻 ,  金一镐 ,  朴璟珍 ,  尹昌镐 ,  李浩荣 ,  丁种愿 ,  崔仁寿 ,  韩京希 ,  黄允美

IPC: G06F11/14 ,  G06F3/06

Abstract: 提供用于存储器装置的错误恢复操作的方法和存储器系统。所述方法包括：在存储器系统上电时执行存储器装置的训练操作；通过基于训练操作的结果使用多个操作频率中的选择的操作频率来操作存储器装置，将操作系统启动至正常模式；响应于操作系统对存储器装置的选择的操作频率的改变而检测所述多个操作频率之中的错误频率，错误频率是导致存储器装置中的至少一个错误的操作频率；以及将关于检测到的错误频率的信息存储在第一寄存器中，第一寄存器被包括在与存储器装置相关联的存储器控制器中。

公开(公告)号：CN118262775A

公开(公告)日：2024-06-28

申请号：CN202311508669.7

申请日：2023-11-13

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 尹昌镐 ,  金成峻 ,  金有庆 ,  李采恩 ,  丁种愿

IPC: G11C29/12 ,  G11C29/18 ,  G11C29/44

Abstract: 一种存储器系统，包括：存储器模块，包括多个存储器芯片；镜像存储器模块，包括与多个存储器芯片相对应的多个镜像存储器芯片，多个镜像存储器芯片中的第一镜像存储器芯片存储与多个存储器芯片中的第一存储器芯片相同的数据；以及存储器控制器，被配置为，在存储器系统被启动之后能够执行根据用户请求的操作的系统运行状态中，向存储器模块提供用于指示执行正常操作的命令并且向镜像存储器模块提供用于指示执行存储器内置自测试(MBIST)的命令。