电磁场测量系统
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108700622A

    公开(公告)日:2018-10-23

    申请号:CN201680082827.9

    申请日:2016-12-28

    申请人: 艺斐公司

    IPC分类号: G01R29/08

    摘要: 在电磁场测量系统中,探针基板(701)和传输线基板(703)形成T形结构,其中探针基板(701)形成帽,传输线基板(703)形成T形结构的杆。探针基板(701)包括探针(700),探针(700)具有第一探针元件(709),第二探针元件(710)和参考平面(711)。设置第一探针元件(709)和第二探针元件(710),使得在这些探针元件之间存在对称轴(712),该对称轴(712)垂直于传输线基板(703)。传输线基板(703)包括耦合到探针(700)的传输线结构。传输线结构将第一探针信号和第二探针信号分离地引向测量处理装置,该测量处理装置能够基于第一探针信号和第二探针信号提供测量结果。

    电磁场测量系统
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108700622B

    公开(公告)日:2020-07-03

    申请号:CN201680082827.9

    申请日:2016-12-28

    申请人: 艺斐公司

    IPC分类号: G01R29/08

    摘要: 在电磁场测量系统中,探针基板(701)和传输线基板(703)形成T形结构,其中探针基板(701)形成帽,传输线基板(703)形成T形结构的杆。探针基板(701)包括探针(700),探针(700)具有第一探针元件(709),第二探针元件(710)和参考平面(711)。设置第一探针元件(709)和第二探针元件(710),使得在这些探针元件之间存在对称轴(712),该对称轴(712)垂直于传输线基板(703)。传输线基板(703)包括耦合到探针(700)的传输线结构。传输线结构将第一探针信号和第二探针信号分离地引向测量处理装置,该测量处理装置能够基于第一探针信号和第二探针信号提供测量结果。

    测试仪器
    7.
    外观设计

    公开(公告)号:CN303653912S

    公开(公告)日:2016-04-27

    申请号:CN201530424317.3

    申请日:2015-10-29

    申请人: 艺斐公司

    设计人: M·雅克·多乐

    摘要: 1.本外观设计产品的名称:测试仪器。2.本外观设计产品的用途:测试仪器,具体而言,为特定吸收率测试设备。3.本外观设计产品的设计要点:产品的形状。4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片:立体图。