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公开(公告)号：CN118352208A
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202410053301.4
申请日：2024-01-12
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
Inventor： 虎井礼司
Abstract: 本发明提供一种工业用磁控管的制造方法，即使阳极圆筒体的发热量变大，也能够充分冷却而抑制性能降低、阳极圆筒体的故障。工业用磁控管(100)具备阳极圆筒体(3)和在阳极圆筒体(3)的外周配设成柱状的冷却块(200)，其中，冷却块(200)以环绕阳极圆筒体(3)的周围直接冷却阳极圆筒体(3)的方式配设使液态制冷剂流通的制冷剂流路(210)，制冷剂流路(210)在内壁面具有螺旋槽(220)。
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公开(公告)号：CN118352207A
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202410048454.X
申请日：2024-01-12
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
Inventor： 虎井礼司
Abstract: 本发明提供一种工业用磁控管的制造方法，在输出大的工业用磁控管中，能够有效地冷却阳极圆筒体和磁铁，抑制性能降低、阳极圆筒体的故障而能够连续地运转。工业用磁控管(100)具备：阳极圆筒体(3)、配设在阳极圆筒体(3)的上下并供给磁场的环状的永磁铁(4a、4b)、以及在阳极圆筒体(3)的外周配设成柱状的冷却块(200)，其中，冷却块(200)具有作为与阳极圆筒体(3)接触的部分的阳极圆筒体接触部(200c)和作为与永磁铁(4a、4b)接触的部分的永磁铁接触部(200d)，用一个冷却块将阳极圆筒体(3)和永磁铁(4a、4b)一起冷却。
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公开(公告)号：CN117546017A
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN202280043849.X
申请日：2022-06-14
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
IPC: G01N29/265
Abstract: 本发明提供一种图像偏差少的阵列式超声波影像装置及其控制方法，该阵列式超声波影像装置，将多个振子沿直线排列的超声波阵列探头进行平面扫描，对受检体的表面或层叠边界面照射超声波束，显示来自受检体的超声波反射波的信号强度，其中，所述平面扫描是通过一边进行以规定的扫描顺序对受检体照射超声波束的电子扫描一边在与振子的排列方向垂直的方向上使超声波阵列探头往复移动的扫描动作、和使超声波阵列探头与振子的排列方向平行地移动的移位动作来进行的，以成为在电子扫描的一端的照射点照射超声波束，接着在相对的另一端的照射点照射超声波束，从各个端部逐一地向中央部去交替地依次照射超声波束的扫描顺序的方式，选择多个振子照射超声波束来进行电子扫描。
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公开(公告)号：CN112334263B
公开(公告)日：2022-04-26
申请号：CN201980040991.7
申请日：2019-09-17
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
IPC: B23K20/12
Abstract: 本发明提供一种摩擦搅拌接合装置及摩擦搅拌接合方法，在利用摩擦搅拌接合装置对被接合构件进行摩擦搅拌接合时，能够进行接合工具的Z轴方向(铅垂方向)的高精度的位置控制。具备：接合工具，其由肩部和探头部构成，被插入被接合构件而进行旋转；接合头，其保持所述接合工具；装置主体，其保持所述接合头，使所述接合工具旋转，并且使所述接合工具移动；以及控制装置，其控制所述接合工具的动作，所述控制装置具有：基准设定模式，在所述接合工具被插入所述被接合构件之前的阶段，设定在通过所述接合工具接合所述被接合构件时产生的所述接合工具的Z轴方向的位置偏移校正中使用的校正基准；接合模式，将所述接合工具插入所述被接合构件而接合所述被接合构件；以及校正模式，测量在所述接合工具接合所述被接合构件时产生的所述接合工具的前端部的相对于所述校正基准的位置变动量，在所述位置变动量超过了预定的阈值时进行校正。
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公开(公告)号：CN113811500A
公开(公告)日：2021-12-17
申请号：CN202080035210.8
申请日：2020-04-14
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
IPC: B65H23/16 , B65H23/188 , B65H45/20 , H01M10/04
Abstract: 将从外部供给的长条片材(91)以预定的层叠长度曲折地层叠载置的层叠装置(10)具备：层叠台(21)，其具有至少层叠长度的长度，层叠载置长条片材；夹持装置(30)，其利用夹持头(31)夹持长条片材，在层叠台上沿层叠长度方向进行往复运动，从而将以层叠长度曲折地折回后的长条片材层叠载置在层叠台上；以及松紧调节装置(40)，其与层叠台上的夹持头的层叠长度方向的位置对应地使松紧调节部件(空气轴(41))沿铅垂方向上下移动，从而对层叠载置在层叠台上的长条片材施加期望的张力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112260055A
公开(公告)日：2021-01-22
申请号：CN202010553196.2
申请日：2020-06-17
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
IPC: H01S5/02345 , H01S5/0233
Abstract: 本发明提供一种两面安装基板、两面安装基板的制造方法及半导体激光器，能够在单晶SiC两面安装基板中防止由于微管缺陷引起的表面侧和背面侧的短路。两面安装基板(10)是单晶碳化硅的两面安装基板，在两面安装基板的制造阶段中产生的作为晶体缺陷的微管(8)的缺陷内壁面部处，通过从在第1部件面形成薄膜得到的第1布线膜(2a)流入的第1布线膜材料(2am)、从在与第1部件面处于表背关系的第2部件面形成薄膜得到的绝缘膜(3)流入的绝缘膜材料(3m)以及从在第2部件面形成薄膜得到的第2布线膜(2b)流入的第2布线膜材料(2bm)，具有多层膜构造体。
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公开(公告)号：CN107024541B
公开(公告)日：2019-12-20
申请号：CN201610854918.1
申请日：2016-09-27
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
Abstract: 本发明提供缺陷检查方法及其装置，在对于半导体晶片或MEMS晶片等包含微细且多层构造的被检查体的超声波检查中，能够将存在于内部的不良与正常图案分离而高灵敏度地检测。将形成有图案的被检查体进行摄像而取得被检查体的图像，根据所取得的被检查体的图像制作不包含缺陷的基准图像，并制作用于从所取得的被检查体的图像将非缺陷像素进行掩蔽的多值掩码，将被检查体的图像和基准图像的明亮度进行对照来计算缺陷可靠度，将计算出的缺陷可靠度与制作出的多值掩码进行比较来检测缺陷。
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公开(公告)号：CN110268258A
公开(公告)日：2019-09-20
申请号：CN201880008632.9
申请日：2018-01-29
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
IPC: G01N29/07 , G01B17/00 , G01N29/265 , G01N29/28
Abstract: 具备：存储部(37)，在使超声波探触部移动到n行线之前，存储超声波探触部(1)扫描试样表面的第n-1行线时的、从发送超声波至接收到反射波的时间和基准时间的第n-1行线的偏差；以及处理部(35)，根据该第n-1行线的偏差，决定所述超声波探触部(1)扫描试样表面的第n行线时的所述超声波探触部(1)的位置，并且，在所述超声波探触部扫描试样表面的第n行线时，计算从发送超声波至接收到反射波的时间和基准时间的第n行线的偏差。所述处理部(35)以使所述偏差成为零的方式，决定相对所述试样表面垂直的方向上的所述超声波探触部(1)的位置。
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公开(公告)号：CN109073603A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201780024210.6
申请日：2017-04-12
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
IPC: G01N29/04
Abstract: 本发明提供一种超声波影像装置以及超声波影像装置的图像生成方法，目的在于使工件的多个接合面同时影像化。作为解决手段的超声波影像装置(4)具备：信号处理部(46)，其使用探头(2)对工件照射预定频率的超声波(1)，并对由探头(2)检测出的超声波的反射波进行闸门处理来输出工件(1)的两个接合面上的反射波的位移；图像生成部(47)，其根据两个接合面上的各反射波的位移，分别生成两个接合面的图像；以及高度调整部(41)，其调整探头(2)的高度。高度调整部(41)通过探头(2)的高度调整，将探头(2)的焦点设定在两个接合面之间。
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公开(公告)号：CN107710786A
公开(公告)日：2018-02-16
申请号：CN201680037346.6
申请日：2016-06-21
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
IPC: H04R17/00 , G01N29/24 , G01N29/265
Abstract: 本发明的目的是使得能够发送200MHz以上频率的超声波的超声波探头以及超声波检查装置容易地形成。为此，构成超声波探头4的层叠压电元件40具备在下部电极42与上部电极49之间设置层叠压电体膜48而成的层叠压电元件40。层叠压电体膜48在具有相对于膜面实质上垂直方向的自发极化的ZnO膜43上直接形成有与ZnO不同且具有与ZnO相反方向的自发极化的ScAlN膜44。
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