公开(公告)号：CN112805552A

公开(公告)日：2021-05-14

申请号：CN201980061622.6

申请日：2019-08-28

申请人： 因诺伊克斯压铸技术创新设备有限责任公司

发明人： R·克洛泽

IPC分类号： G01N21/3581 ,  G01N21/88

摘要： 本发明涉及一种优选地便携式THz测量设备（1），用于确定在尤其是固定的测量对象（2）中的缺陷（3），其中所述THz测量设备（1）具有：天线阵列（4），所述天线阵列（4）具有至少一个主动的THz发送器、例如收发器（12）和多个THz接收器（14），所述主动的THz发送器沿着光学轴线（A）发出THz发送射束（15），所述多个THz接收器（14）以对于THz发送器（12）为固定的空间布局来布置并且与THz接收器同步，探测到被反射的THz辐射（16）并且输出THz测量信号（S1）；控制装置（5），所述控制装置（5）接收THz测量信号（S1）并且将缺陷（3）确定为反射，所述反射在所述测量对象（2）的符合规定的边界面（2a，2b）之外进行。在这种情况下，THz接收器（14）也可以有时、尤其是交替地进行发送。用户可以调整测量设备，其中通过加速度传感器（18）和时间积分可以确定位置，以便获得其他测量数据。

公开(公告)号：CN109964096A

公开(公告)日：2019-07-02

申请号：CN201780064195.8

申请日：2017-10-17

申请人： 因诺伊克斯压铸技术创新设备有限责任公司

发明人： R.克洛泽 ,  R.伯姆

IPC分类号： G01B11/06 ,  G01B21/04 ,  G01S17/08 ,  G01N21/3581

摘要： 本发明涉及一种用于求取检查对象（20、120、220）的至少一个层厚度（a1、a2、a3、a4）的太赫兹测量仪（1），其中，测量仪（1）具有：用于沿着光学轴线（A）发射太赫兹辐射（15）和用于沿着光学轴线（A）接收所反射的太赫兹辐射（16）的太赫兹发射和接收单元（14）、用于操控该发射和接收单元（14）的控制单元（10）。在此，所述太赫兹测量仪（1）优选是能携带的，并且具有用于由用户抓握和定位的把手区域（34），其中，该太赫兹测量仪在前端部区域（5）、特别是成形遮光板（5）上具有贴靠轮廓（7），该贴靠轮廓有多个贴靠点（P、P1、P2、P3、P4）以用于贴靠在检查对象（20、120、220）的弯曲的表面（18）上，以便垂直地定位在表面（18、118、218）上。

公开(公告)号：CN109070423A

公开(公告)日：2018-12-21

申请号：CN201780015174.7

申请日：2017-01-13

申请人： 因诺伊克斯压铸技术创新设备有限责任公司

发明人： R.克洛泽

IPC分类号： B29C47/08 ,  B29C47/90 ,  F16J15/16

摘要： 本发明涉及密封装置，其在用于制造塑料型材、尤其管的挤出线中用于负压校准单元，其中，密封件以内面形状配合地贴靠在挤出的型材的周缘处并且为了施加密封力径向地支撑到所述型材上。本发明的任务是，提供另外的这种装置，所述装置十分简单地被构建并且能够成本适宜地被制造。所述任务通过如下方式解决，即所述密封件是多孔的且弹性的泡沫体（13），所述泡沫体的暴露于大气的面（17、19）设有空气密封的涂层（21）。

公开(公告)号：CN112313473A

公开(公告)日：2021-02-02

申请号：CN201980041317.0

申请日：2019-04-18

申请人： 因诺伊克斯压铸技术创新设备有限责任公司

发明人： R·克洛泽

IPC分类号： G01B11/06 ,  G01S17/08 ,  G01N21/3581 ,  G01S13/88

摘要： 本发明涉及一种用于对测量物体(3)予以THz‑测量的方法，带有如下步骤：预测量的阶段，在该阶段中，THz‑测量仪(2)的THz‑收发器的在第一频率范围内且带有第一带宽的第一THz‑发射射束(112)射出到测量物体(3)上，并且探测由测量物体(3)的边界面反射的THz‑辐射；判定是否检测到测量物体(3)；如果检测到测量物体(3)，则测定THz‑测量仪(2)或THz‑收发器相距边界面(St5)的当前距离；把所测定的当前距离与边界距离相比较；在未超出边界距离时，随后引入主测量或者指示对主测量的引入；主测量的阶段，在该阶段中，主测量‑THz‑发射射束沿着光学轴线射入到测量物体上，并且探测被反射的THz‑辐射，其中，主测量‑THz‑发射射束的第二带宽优选大于第一带宽，其中，由发出的主测量‑THz‑发射射束和所探测到的被反射的THz‑辐射来测定测量特性、例如层厚或材料组分；输出测量结果。

公开(公告)号：CN113272620A

公开(公告)日：2021-08-17

申请号：CN201980080947.9

申请日：2019-12-06

申请人： 因诺伊克斯压铸技术创新设备有限责任公司

发明人： R·克洛泽

IPC分类号： G01B11/06 ,  G01N21/3581 ,  G01N21/952 ,  G01N21/954 ,  G01S7/41 ,  G01S13/90

摘要： 本发明涉及一种用于测量待测量物体、特别是塑料型材(3)的测量系统(2)，其中，测量系统(2)具有：由多个THz收发器(5)组成的天线布置(4)，多个THz收发器每个有时主动地发射THz发射束(6)并且有时被动接收反射的THz辐射(11)，其中，天线布置(4)输出THz收发器(5)测量的测量信号(S1)，调节装置(12)，用于沿着调节方向(m1，m2)，例如围绕测量对象(3)的圆形轨迹将天线矩阵(4)调节到多个测量位置(MP1，MP2，MP3)上，控制和计算设备(14)，用于检测和计算测量信号(S1)，控制和计算设备被设置为，使得通过SAR计算方法来计算在多个测量位置(MP1，MP2，…)上的多个THz收发器(5)的测量信号(S1)，并且构造测量对象(3)的边界面(8)的虚拟模型(VM)，以及随后，控制和计算设备(14)从虚拟模型(VM)确定边界面(8)之间的层厚度(d，d4)。

公开(公告)号：CN112313473B

公开(公告)日：2023-02-17

申请号：CN201980041317.0

申请日：2019-04-18

申请人： 因诺伊克斯压铸技术创新设备有限责任公司

发明人： R·克洛泽

IPC分类号： G01B11/06 ,  G01S17/08 ,  G01N21/3581 ,  G01S13/88

摘要： 本发明涉及一种用于对测量物体(3)予以THz‑测量的方法，带有如下步骤：预测量的阶段，在该阶段中，THz‑测量仪(2)的THz‑收发器的在第一频率范围内且带有第一带宽的第一THz‑发射射束(112)射出到测量物体(3)上，并且探测由测量物体(3)的边界面反射的THz‑辐射；判定是否检测到测量物体(3)；如果检测到测量物体(3)，则测定THz‑测量仪(2)或THz‑收发器相距边界面(St5)的当前距离；把所测定的当前距离与边界距离相比较；在未超出边界距离时，随后引入主测量或者指示对主测量的引入；主测量的阶段，在该阶段中，主测量‑THz‑发射射束沿着光学轴线射入到测量物体上，并且探测被反射的THz‑辐射，其中，主测量‑THz‑发射射束的第二带宽优选大于第一带宽，其中，由发出的主测量‑THz‑发射射束和所探测到的被反射的THz‑辐射来测定测量特性、例如层厚或材料组分；输出测量结果。

公开(公告)号：CN109964096B

公开(公告)日：2022-07-08

申请号：CN201780064195.8

申请日：2017-10-17

申请人： 因诺伊克斯压铸技术创新设备有限责任公司

发明人： R.克洛泽 ,  R.伯姆

IPC分类号： G01B11/06 ,  G01B21/04 ,  G01S17/08 ,  G01N21/3581

摘要： 本发明涉及一种用于求取检查对象（20、120、220）的至少一个层厚度（a1、a2、a3、a4）的太赫兹测量仪（1），其中，测量仪（1）具有：用于沿着光学轴线（A）发射太赫兹辐射（15）和用于沿着光学轴线（A）接收所反射的太赫兹辐射（16）的太赫兹发射和接收单元（14）、用于操控该发射和接收单元（14）的控制单元（10）。在此，所述太赫兹测量仪（1）优选是能携带的，并且具有用于由用户抓握和定位的把手区域（34），其中，该太赫兹测量仪在前端部区域（5）、特别是成形遮光板（5）上具有贴靠轮廓（7），该贴靠轮廓有多个贴靠点（P、P1、P2、P3、P4）以用于贴靠在检查对象（20、120、220）的弯曲的表面（18）上，以便垂直地定位在表面（18、118、218）上。

公开(公告)号：CN109716059B

公开(公告)日：2021-06-01

申请号：CN201780037346.0

申请日：2017-04-06

申请人： 因诺伊克斯压铸技术创新设备有限责任公司

发明人： M.蒂尔

IPC分类号： G01B11/24 ,  G01N21/3581

摘要： 本发明涉及一种用于测量检查对象（7）的太赫兹测量设备（1），太赫兹测量设备具有：THz发送与接收单元（2），用于沿着光学轴线（A）在发射空间角（4）中发送太赫兹辐射（3）、接收经反射的太赫兹辐射（8）以及产生信号幅度（S）作为时间或频率（t，f）的函数；和控制与评估装置（12），用于接收和评估信号幅度（S）。在此，控制与评估装置（12）由信号幅度（S）确定检查对象（7）的缺陷点（10，110）。尤其可以遮住所发送的太赫兹辐射（3）的核心区域（4a）。替代的测量装置同样可以通过太赫兹辐射的垂直的输入耦合来发现缺陷点，其方式是，探测附加的测量峰值，所述测量峰值不能够分配给单纯的层厚度测量。

公开(公告)号：CN109716059A

公开(公告)日：2019-05-03

申请号：CN201780037346.0

申请日：2017-04-06

申请人： 因诺伊克斯压铸技术创新设备有限责任公司

发明人： M.蒂尔

IPC分类号： G01B11/24 ,  G01N21/3581

摘要： 本发明涉及一种用于测量检查对象（7）的太赫兹测量设备（1），太赫兹测量设备具有：THz发送与接收单元（2），用于沿着光学轴线（A）在发射空间角（4）中发送太赫兹辐射（3）、接收经反射的太赫兹辐射（8）以及产生信号幅度（S）作为时间或频率（t，f）的函数；和控制与评估装置（12），用于接收和评估信号幅度（S）。在此，控制与评估装置（12）由信号幅度（S）确定检查对象（7）的缺陷点（10，110）。尤其可以遮住所发送的太赫兹辐射（3）的核心区域（4a）。替代的测量装置同样可以通过太赫兹辐射的垂直的输入耦合来发现缺陷点，其方式是，探测附加的测量峰值，所述测量峰值不能够分配给单纯的层厚度测量。