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公开(公告)号：CN111986255A
公开(公告)日：2020-11-24
申请号：CN202010930363.0
申请日：2020-09-07
申请人： 北京凌云光技术集团有限责任公司
发明人： 刘铎
摘要： 本发明涉及一种图像检测模型的多尺度anchor初始化方法，方法包括：将每种待检测图像对应的样本标签划分到对应的尺度内；根据每个尺度内的样本标签数量阈值，判断是否保留尺度；确定保留的每个尺度下的样本标签面积和宽高情况；根据样本标签面积和宽高情况，动态调整anchor数量并生成每个尺度下的初始化anchor；通过评价指标比较面积和宽高两种方法确定的anchor的情况，选择较达到评价指标的一组结果。本发明生成的初始化anchor既能够指导算法采用最合适的尺度，节省效率，避免尺度间的竞争；又能够与样本的分布情况一致，提升检测精度。
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公开(公告)号：CN109543665B
公开(公告)日：2020-10-16
申请号：CN201710863130.1
申请日：2017-09-22
申请人： 凌云光技术集团有限责任公司
IPC分类号： G06K9/20
摘要： 本发明实施例提供了一种图像定位方法及装置，本发明实施例首先根据待检测图像与模板图像相配的网格数量进行初步的粗匹配，得到备选区域，为了进一步提高待检测图像与模板图像的定位精度，基于轮廓点的坐标信息确定拟合分数，并利用拟合分数在备选区域中筛选出匹配效果更好的目标区域，利用目标区域以及模板图像即可实现待检测图像与模板图像的定位。本发明的实施例通过粗匹配和精匹配两个步骤提高了精细定位的精确度，即提高了待检测图像与模板图像定位的精确度。另外，由于本发明实施例是利用轮廓点筛选目标区域，因此需要处理的数据量大幅度减小，精细定位的效率得到有效提高，同时提高了抗干扰能力。
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公开(公告)号：CN108122226B
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN201711367046.7
申请日：2017-12-18
申请人： 凌云光技术集团有限责任公司
IPC分类号： G06T7/00
摘要： 本申请公开了一种玻璃缺陷的检测方法及装置，方法部分包括：根据预设滤波器组参数，训练无缺陷图像，得到无缺陷图像的能量响应结果，所述无缺陷图像的能量响应结果包括无缺陷图像的滤波能量均值和无缺陷图像的滤波能量标准差；根据所述预设滤波器组参数，滤波实时图像，得到实时图像的滤波结果；根据所述实时图像的滤波结果，估计实时图像的滤波能量响应结果，所述实时图像的滤波能量响应结果包括实时图像的滤波能量均值；根据所述无缺陷图像的能量响应结果和所述实时图像的滤波结果能量响应结果，绘制单位缺陷图像；根据所述单位缺陷图像，绘制整体缺陷图像。能够有效解决现有检测方法准确度低的问题。
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公开(公告)号：CN111292295A
公开(公告)日：2020-06-16
申请号：CN202010064318.1
申请日：2020-01-20
申请人： 凌云光技术集团有限责任公司
摘要： 本申请公开一种检测低对比度图像的方法，所述方法首先使用阈值极低的边缘检测算子对待处理图像进行边缘检测；再对检出边缘图像进行圆核膨胀，并计算每个膨胀图像中所有像素点的灰度值方差；再根据所述方差从所述膨胀图像中筛选目标图像，再根据进行形态学选择，精准地从所述目标图像中分离出目标影像，本申请提供的方案对于与背景图像灰度值相差较小，例如灰度差小于5的目标物影像，能够准确地完全检出，从而满足例如LCD屏幕检测等行业的特殊需求。
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公开(公告)号：CN111156932A
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN202010161587.X
申请日：2020-03-10
申请人： 凌云光技术集团有限责任公司
IPC分类号： G01B11/30
摘要： 本申请公开了一种镜面材料平整度检测装置，包括：光源、准直镜组、材料支撑部件、漫射屏、图像探测单元和图像处理单元；所述光源发出的光经过所述准直镜组准直后投射在所述待检测镜面材料，再经所述待检测镜面材料反射后到达所述漫射屏。光线透过所述漫射屏后，经所述图像探测单元对所述漫射屏的透射光线成像，经图像处理单元处理后获知待检镜面材料的起伏即平整度的分布。本申请提供的镜面材料平整度检测装置，成本、效率、复杂度适中，适用于价格低廉但产量巨大的镜面材料。
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公开(公告)号：CN106649137B
公开(公告)日：2020-04-21
申请号：CN201610903249.2
申请日：2016-10-18
申请人： 凌云光技术集团有限责任公司
IPC分类号： G06F12/06
摘要： 本发明是关于一种Nand Flash坏块管理方法、装置及存储器，该坏块管理方法，通过在FPGA模块内建立与Nand Flash模块中的块数目相同的随机存取存储器RAM，并将每个RAM的地址分别作为Nand Flash模块中每个块的块地址，然后，将检测得到的Nand Flash模块中的每个块的块状态存储在相应地址的RAM，这样，便可以根据各RAM的地址以及RAM中存储的块状态数据，进行相应的读写操作。本发明实施例将RAM的地址作为NAND flash模块中各块的块地址，从而节省了RAM存储块地址占用的空间，并且RAM地址只需用一个计数器来表示，不占用FPGA模块的存储空间，进而节省了FPGA模块的内部资源。
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公开(公告)号：CN111028297A
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201911267937.4
申请日：2019-12-11
申请人： 凌云光技术集团有限责任公司
摘要： 本申请公开了一种面结构光三维测量系统的标定方法，所述方法包括：使用覆盖全视场的玻璃棋盘格标定板标定摄像机内参和畸变；分别投射左右视场投影图像到一半白色一半棋盘格图图案的专用标定板白色区域，标定投影仪内参和畸变；垂直移动专用标定板，建立三维重建坐标系；根据三维重建坐标系标定摄像机外参和投影仪外参。本申请提供的标定方法设计了一种一半白色一半棋盘格的专用标定板，并配合垂直升降台构建三维重建坐标系来标定投影仪、摄像机和面结构光系统，整体标定方案将摄像机标定、投影仪标定和系统外参标定分离，且不依赖于结构光算法，避免了标定过程中各类误差耦合干扰，从而大大提高了标定精度。
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公开(公告)号：CN109167995B
公开(公告)日：2020-03-13
申请号：CN201811084280.3
申请日：2018-09-18
申请人： 凌云光技术集团有限责任公司
IPC分类号： H04N17/00
摘要： 本申请公开了一种显示屏缺陷电子限度制备装置，包括设备机台；设备机台上方两侧分别设有屏幕点灯载台及触屏显示一体机，屏幕点灯载台一侧设有显示屏排线接口；屏幕点灯载台上方包覆有遮光板，遮光板的侧壁上固定有工业相机；工业相机位于屏幕点灯载台的正上方；显示屏排线接口下方设有显示屏控制板；触屏显示一体机的一端设有操作旋钮，启动控制按钮及屏幕点亮控制按钮。本申请提供的一种显示屏缺陷电子限度制备装置通过在线调整缺陷程度、缺陷位置，并通过人眼在线观察并保持电子限度文件，代替原有人工筛选确定基准过程，更能提高品质检验效率，提高显示屏出货品质。
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公开(公告)号：CN107357538B
公开(公告)日：2020-02-04
申请号：CN201710648090.9
申请日：2017-08-01
申请人： 凌云光技术集团有限责任公司 , 北京印刷学院
摘要： 本发明公开了一种获取印刷品的阶调值的方法及装置。该方法包括：获取目标印刷品的承印物的第一明度值和所述目标印刷品中每一种单色油墨对应的印刷实地油墨的第二明度值；调取预设测控条，在所述预设测控条中确定出与所述目标印刷品中每一种单色油墨对应的目标色块，根据该目标色块，确定该种单色油墨对应的带有网点的单色油墨印刷品的第三明度值；根据所述第一明度值、所述第二明度值、所述第三明度值以及预设阶调值关系式，确定所述目标印刷品的阶调值。该方法对于CMYK四色油墨的印刷品和专色油墨的印刷品，均可以准确计算出阶调值，并且阶调值的计算过程更加简单，所计算得到的阶调值与人眼视觉感觉相一致，适用性更好。
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公开(公告)号：CN107907215B
公开(公告)日：2020-01-03
申请号：CN201711088819.8
申请日：2017-11-08
申请人： 凌云光技术集团有限责任公司
摘要： 光谱曲线重构方法和装置。获取被测物的第一采样点的采样结果，第一采样点的采样结果包括该采样点的M个通道的采样信息；根据光源输出光谱函数分别与采样设备的M个采样信息的光谱响应函数的乘积,确定M个采样函数；根据冲击函数群和采样函数确定抽样数组矩阵；通过抽样数组矩阵和采样结果确定欠定方程组；根据冲击函数群和先验光谱函数确定系数S，通过对变量S取最小值的约束条件，从欠定方程组的多个解中确定一个为所述第一个采样点的光谱函数。本申请通过将先验光谱函数代入到光谱采样重构过程中，用以补足被测量光谱曲线的采样缺失。从而避免了使用过多的采样点数量、节约了成本，更能降低系统复杂程度。
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