一种具有掩膜层的反极性LED芯片

    公开(公告)号:CN208538898U

    公开(公告)日:2019-02-22

    申请号:CN201821327985.9

    申请日:2018-08-16

    Abstract: 本实用新型涉及一种具有掩膜层的反极性LED芯片,包括基板层、键合层、粘结保护层、复合结构层、外延层、掩膜层、N电极和钝化层;基板层的上面依次从下至上为键合层、粘结保护层、复合结构层;外延层在复合结构层的上面,外延层依次从下至上为p型层、发光层、n型层、粗化层、欧姆接触层;在外延层上面设有掩膜层、N电极和钝化层,掩膜层在欧姆接触层之上,且与N电极图形对应,环绕在N电极周围。本实用新型可以解决粗化工艺中,欧姆接触层湿法腐蚀过程侧钻导致的N电极脱落问题,有效地提高了LED芯片的制备良率。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种高电子迁移率晶体管外延结构

    公开(公告)号:CN208142186U

    公开(公告)日:2018-11-23

    申请号:CN201820436749.4

    申请日:2018-03-29

    Abstract: 本实用新型提供了一种高电子迁移率晶体管外延结构,包括硅衬底,在硅衬底上依次设有缓冲层、位错锐减结构、高阻层、沟道层、势垒层和盖层,所述位错锐减结构包括AlN应力层、GaN三维层和GaN合并层,所述GaN三维层为利用晶格常数差异在所述AlN应力层上形成的,所述GaN合并层为利用所述GaN三维层的侧向外延形成的。本实用新型在缓冲层和GaN高阻层之间引入一层位错锐减结构,即利用AlN与GaN之间的晶格常数差异形成的应力,在AlN应力层上直接生长GaN三维层,然后通过采用侧向外延技术在GaN三维层上形成GaN合并层,这样就无需二次外延,结构简单且实用性高,同时可以大幅地降低HEMT材料中的位错密度,提高晶体质量,从而提升HEMT器件的电子迁移率、击穿电压等特性。

    一种实现多基色LED光源的混光及光提取目的的模组结构

    公开(公告)号:CN211238243U

    公开(公告)日:2020-08-11

    申请号:CN201922327694.0

    申请日:2019-12-23

    Abstract: 本实用新型公开了一种实现多基色LED光源的混光及光提取目的的模组结构,包括若干颗LED灯珠、第二热界面层、二次光学透镜、第二基板层和密封圈,其中LED灯珠包括若干颗主波长不同的LED芯片、引线、一次光学透镜、第一热界面层、第一基板层,不同主波长芯片之间交错排布,一次光学透镜将若干颗LED芯片密封在第一基板层上;若干颗LED灯珠分别通过第二热界面层材料层固定在第二基板层上,二次光学透镜安装在第二基板层上;若干颗LED灯珠在第二基板层上的贴片角度是不完全相同的;在一次光学透镜和二次光学透镜之间包含第三层封装胶体层。本实用新型通过该模组结构解决了多基色LED光源出光空间颜色均匀性差的问题,同时提高其光提取效率。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种垂直结构LED芯片、反射电极

    公开(公告)号:CN209169167U

    公开(公告)日:2019-07-26

    申请号:CN201821718205.3

    申请日:2018-10-23

    Abstract: 本实用新型公开了一种垂直结构LED芯片,所述芯片从下至上依次包括:基板、键合金属层、第一电极、发光层、粗化层、第二电极接触层、第二电极。本实用新型还公开了该LED芯片的反射电极,反射电极由第一电极和第二电极共同构成,第一电极依次包括第一电极接触层、低折射率介质层和高光反射金属层,低折射率介质层和高光反射金属层之间具有二者复合的特定排列的导电小孔,第一电极还包括可减少第二电极对其正下方区域发光遮挡的区域。本实用新型有效减少了第二电极正下方区域的电流注入,减少第二电极对正下方区域发光的遮挡,且该反射电极结构可以同时兼顾高光反射率和低欧姆接触,最终提高了AlGaInP薄膜LED芯片的光提取效率。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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