公开(公告)号：CN1184618C

公开(公告)日：2005-01-12

申请号：CN96190563.8

申请日：1996-04-08

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 西内健一 ,  长田宪一 ,  赤平信夫

IPC: G11B7/00 ,  G11B7/09 ,  G11B7/013 ,  G11B7/24 ,  G11B7/26

CPC classification number: B32B37/1054 ,  B29C65/1406 ,  B29C65/4815 ,  B29C65/4835 ,  B29C65/4845 ,  B29C65/7811 ,  B29C65/782 ,  B29C65/7847 ,  B29C66/1122 ,  B29C66/452 ,  B29C66/71 ,  B29C66/723 ,  B29C66/73341 ,  B29C66/8322 ,  B29K2995/0027 ,  B29L2017/005 ,  B32B38/1841 ,  B32B2429/02 ,  G11B7/007 ,  G11B7/08511 ,  G11B7/0901 ,  G11B7/0908 ,  G11B7/0912 ,  G11B7/0916 ,  G11B7/094 ,  G11B7/0941 ,  G11B7/131 ,  G11B7/133 ,  G11B7/24 ,  G11B7/24038 ,  G11B7/24085 ,  G11B7/243 ,  G11B7/244 ,  G11B7/254 ,  G11B7/256 ,  G11B7/26 ,  G11B11/10586 ,  B29C65/00 ,  B29K2033/12 ,  B29K2069/00

Abstract: 在具有至少两个信息层的光学信息记录介质中，在第一基片(1)的一个表面上设有用于跟踪的导槽，或对应信息信号的采样槽或是信息槽。用薄膜构成的第一信息层(2)被设在第二基片(3)的一个表面上，用于反射入射到第一基片(1)上的一部分光束(7)，并且允许一部分光束(7)穿透。用于跟踪的导槽或对应信息信号的信息槽被设在第二基片(3)的一个表面上。在第二基片(3)的一个表面上设有第二信息层(4)，其反射率比第一信息层(2)高。在第一信息层(2)与第二信息层(4)之间设有透明的分隔层(5)，用于把第一信息层(2)和第二信息层(4)按照彼此分开的预定距离定位。

公开(公告)号：CN1493076A

公开(公告)日：2004-04-28

申请号：CN02805199.8

申请日：2002-12-18

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 小林高志

IPC: G11B7/09

CPC classification number: G11B7/0912 ,  G11B7/13 ,  G11B7/131 ,  G11B7/133 ,  G11B7/1353 ,  G11B7/1381

Abstract: 提供了一种光学拾波装置，用来检测对称的S型信号，用一种为了操作的稳定性的SSD方法获得聚焦误差信号。光学拾波装置向光学记录介质照射激光，并将至少由光学记录介质反射的光经过衍射元件导向光接收器件区，用衍射元件产生的衍射光按照光斑尺寸检测方法来检测聚焦误差信号，在这样的光学装置中，光接收器件区的位置从直通过衍射元件的0阶光的焦点位置向更靠近衍射元件偏移。

公开(公告)号：CN1469348A

公开(公告)日：2004-01-21

申请号：CN03143057.0

申请日：2003-06-18

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 马炳寅 ,  金宽俊 ,  朴仁植 ,  崔炳浩

IPC: G11B7/00 ,  G11B7/12 ,  G11B20/18

CPC classification number: G11B7/133 ,  G11B7/0943 ,  G11B7/0956

Abstract: 本发明提供一种用于检测盘的径向倾斜的方法和装置。比较从由八分仪光电二极管的外部光接收单元接收的信号a1、b1、c1、和d1获得的相加信号a1+c1和b1+d1的相位以产生外部相位比较信号Do。比较从由八分仪光电二极管的内部光接收单元接收的信号a2、b2、c2、和d2获得的相加信号a2+c2和b2+d2的相位以产生内部相位比较信号Di。基于当激光束横过形成盘的轨道时获得的内部和外部相位比较信号Di和Do来检测径向倾斜。因此，能更加精确地检测径向倾斜。

公开(公告)号：CN1092380C

公开(公告)日：2002-10-09

申请号：CN97104951.3

申请日：1997-04-01

Applicant: 迪维安公司

Inventor： 路德维格·柴科夫斯基

IPC: G11B7/09

CPC classification number: G11B7/133 ,  G11B7/08505 ,  G11B7/0901 ,  G11B7/0903 ,  G11B7/0908 ,  G11B7/0946 ,  G11B7/0948

Abstract: 一种控制辐射能光束的装置，除常规的光检测器、误差信号产生器和跟踪伺服之外，还包括一局部反馈回路，其包括：第一和第二周期函数发生器，每个都对误差信号作出响应，后者的输出与前者的输出相差一相角；第一乘法器，将光检测器的第一输出乘以第一周期函数发生器的输出；第二乘法器，将光检测器的第二输出乘以第二周期函数发生器的输出；其中第一和第二乘法器的输出用作误差信号产生电路的输入以校正该误差信号。

公开(公告)号：CN1362630A

公开(公告)日：2002-08-07

申请号：CN01117697.0

申请日：1996-08-28

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李哲雨 ,  申东镐 ,  林庆和 ,  郑钟三 ,  赵虔皓 ,  成平庸 ,  刘长勋 ,  李庸勋

IPC: G02B13/24 ,  G02B3/08

CPC classification number: G11B7/1381 ,  B29D11/00009 ,  G02B3/10 ,  G02B27/58 ,  G11B7/0045 ,  G11B7/005 ,  G11B7/0909 ,  G11B7/133 ,  G11B7/1353 ,  G11B7/1367 ,  G11B7/1374 ,  G11B7/139 ,  G11B7/13922 ,  G11B2007/0006 ,  G11B2007/13727

Abstract: 一种用于纪录或/和读取不同厚度光盘信息的透镜,该透镜具有预定大小的有效直径并将光聚焦到聚焦区,所述透镜包含近轴区、中间轴区及远轴区,该中间轴区区分并相邻于所述近轴区和远轴区,而到达所述光盘聚焦区的光斑至少包含由所述透镜近轴区聚焦的光,并且当所述光盘为薄光盘时该光斑还包括由所述透镜远轴区聚焦的光。所述聚焦区为光盘的信息纪录区。所述的光盘为0.6mm厚的薄光盘或1.2mm厚的厚光盘。

公开(公告)号：CN1084016C

公开(公告)日：2002-05-01

申请号：CN96101996.4

申请日：1996-03-14

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 石过壮

IPC: G11B7/12

CPC classification number: G11B7/133 ,  G11B7/094 ,  G11B7/0943 ,  G11B7/1353

Abstract: 光检测装置包括将光束从光源导向记录介质的物镜。记录介质具有槽以及由中断槽而形成的标题区。光检测装置进一步包括检测在记录介质上反射的光束，并由物镜引导输出对应被反射光束强度的信号的光检测器，光检测器包括具有特定形状的光束检测表面，使得包含在被反射光束中的非信号分量的光束不能入射。

公开(公告)号：CN1345037A

公开(公告)日：2002-04-17

申请号：CN01132837.1

申请日：2001-07-12

Applicant: 索尼公司

Inventor： 西纪彰

IPC: G11B7/00 ,  G11B7/12 ,  G11B7/09

CPC classification number: G11B7/131 ,  G11B7/00718 ,  G11B7/08541 ,  G11B7/0903 ,  G11B7/0906 ,  G11B7/0909 ,  G11B7/0943 ,  G11B7/133 ,  G11B7/1353

Abstract: 主光点和二级光点是在光盘101上形成的。主光点用于记录和再现。二级光点定位于离开主光点的位置。在从物镜开始的距离内二级光点不同于主光点。该距离差(散焦量)Def满足范围:0.4×Def0≤Def≤1.7×Def0。假设光源波长是λ,所述光盘101的轨道节距是Tp,以及物镜的数值孔径是NA,并假设Def0=[0.178λ/{1－cos(sin－1NA)}]·[{1－(λ/(Tp·NA))}+2.35]。

公开(公告)号：CN1332383A

公开(公告)日：2002-01-23

申请号：CN01119001.9

申请日：1996-08-28

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李哲雨 ,  申东镐 ,  林庆和 ,  郑钟三 ,  赵虔皓 ,  成平庸 ,  刘长勋 ,  李庸勋

IPC: G02B13/24 ,  G02B3/08

CPC classification number: G11B7/1381 ,  B29D11/00009 ,  G02B3/10 ,  G02B27/58 ,  G11B7/0045 ,  G11B7/005 ,  G11B7/0909 ,  G11B7/133 ,  G11B7/1353 ,  G11B7/1367 ,  G11B7/1374 ,  G11B7/139 ,  G11B7/13922 ,  G11B2007/0006 ,  G11B2007/13727

Abstract: 一种用于记录或/和读取不同厚度光盘信息的物镜,包含近轴区、中间轴区及远轴区,该中间轴区位于近轴区和远轴区之间并控制入射该区的光,所述物镜依据不同厚度的光盘具有同一光轴上的不同焦点。当所述的光盘为薄光盘时,聚焦于该光盘聚焦区的光斑包含由所述近轴区及远轴区入射的光。当所述的光盘为厚光盘时,聚焦于该光盘聚焦区的光斑包含由所述近轴区入射的光,而入射于所述远轴区的光在到达光盘聚焦区时被散射。

公开(公告)号：CN1046813C

公开(公告)日：1999-11-24

申请号：CN94191740.1

申请日：1994-12-22

Applicant: 索尼公司

Inventor： 土居正人 ,  成井启修 ,  佐原健志 ,  松田修

IPC: G11B7/125 ,  G11B7/13 ,  G11B7/135

CPC classification number: G11B7/127 ,  G02B6/4246 ,  G02B2006/12104 ,  G02B2006/12121 ,  G02B2006/12123 ,  G11B7/0912 ,  G11B7/123 ,  G11B7/133 ,  H01S5/0262 ,  H01S5/18

Abstract: 本发明的光学装置具有将发光部1与光接收部4邻接配置在共同的衬底9上、由光接收部4对从发光部1来的发射光L的由被照射部件反射的反射光LR进行光接收检测的光学元件21，上述反射光对光接收部4的光接收面的入射角α为0°＜α＜90°。

公开(公告)号：CN1173015A

公开(公告)日：1998-02-11

申请号：CN97104951.3

申请日：1997-04-01

Applicant: 迪维安公司

Inventor： 路德维格·柴科夫斯基

IPC: G11B7/09

CPC classification number: G11B7/133 ,  G11B7/08505 ,  G11B7/0901 ,  G11B7/0903 ,  G11B7/0908 ,  G11B7/0946 ,  G11B7/0948

Abstract: 一种控制辐射能光束的装置,除常规的光检测器、误差信号产生器和跟踪伺服之外,还包括一局部反馈回路,其包括:第一和第二周期函数发生器,每个都对误差信号作出响应,后者的输出与前者的输出相差一相角;第一乘法器,将光检测器的第一输出乘以第一周期函数发生器的输出;第二乘法器,将光检测器的第二输出乘以第二周期函数发生器的输出;其中第一和第二乘法器的输出用作误差信号产生电路的输入以校正该误差信号。