X射线计算机层析摄影设备
    71.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101229063A

    公开(公告)日:2008-07-30

    申请号:CN200710300764.2

    申请日:2007-12-18

    CPC classification number: A61B6/405 A61B6/027 A61B6/4035 A61B6/542 A61B6/583

    Abstract: 本发明涉及X射线计算机层析摄影设备。本发明提供能够提高双能量图像的图像质量的X射线CT设备。X射线CT设备包括:用于将具有第一能谱的X射线和具有不同于第一能谱的第二能谱的X射线施加给患者(HB)的X射线管;用于获取施加给患者(HB)的第一能谱的X射线投影数据和施加在其上的第二能谱的X射线投影数据的X射线数据获取单元;双能量图像重构装置,其基于第一能谱的X射线投影数据和第二能谱的X射线投影数据图像重构以与原子分布相关的X射线吸收系数表示X射线管电压相关信息的层析图像;和调整装置,用于调整图像重构的条件以优化表示X射线管电压相关信息的层析图像。

    借助多能量计算机断层造影确定体内物质浓度的方法和装置

    公开(公告)号:CN101028199A

    公开(公告)日:2007-09-05

    申请号:CN200710085003.X

    申请日:2007-02-28

    Abstract: 本发明涉及一种用于确定物质在由两种不同的物质成分以未知比例组成的身体物质中的浓度的方法以及装置。在该方法中在两种不同的X射线频谱分布下记录该身体物质的两张计算机断层造影照片,从这两张计算机断层造影照片中再现两个图像数据组(1,2)。将两个图像数据组(1,2)的每个感兴趣体素的X射线衰减值x分解为3个物质成分。该分解在以下假设下进行:身体物质的X射线衰减值xM在没有该物质的情况下由第一和第二物质成分的X射线衰减值xM1、xM2按照以下方程组成:xM=f*xM1+(1-f)*xM2,其中f对应于身体物质中第一物质成分的体积含量。然后基于该分解针对每种感兴趣体素确定该物质的浓度。利用本方法和对应的装置可以简单而又可靠地确定浓度。

    用于重建光谱结果图像数据的方法

    公开(公告)号:CN107822652B

    公开(公告)日:2019-07-12

    申请号:CN201710840529.8

    申请日:2017-09-15

    Abstract: 本发明涉及用于重建光谱结果图像数据的方法,该方法包括:利用共同的X射线源‑探测器系统来记录第一投影测量数据和与第一投影测量数据不同的第二投影测量数据,其中第一投影测量数据在最大为180°的第一角扇区中利用第一X射线光谱被记录,第二投影测量数据在最大为180°的与第一角扇区不相交的第二角扇区中、利用与第一X射线光谱不同的第二X射线光谱被记录;从第一投影测量数据创建第一初始图像数据,并且从第二投影测量数据创建第二初始图像数据;以及基于第一初始图像数据来耦合式迭代重建第一结果图像数据,并基于第二初始图像数据来耦合式迭代重建第二结果图像数据,其中第一结果图像数据和第二结果图像数据中的每个均呈现检查区域的完整图像。

    用于探测器的准直器及其应用

    公开(公告)号:CN108685591A

    公开(公告)日:2018-10-23

    申请号:CN201810409873.6

    申请日:2018-05-02

    CPC classification number: A61B6/405 A61B6/037

    Abstract: 本发明公开了用于探测器的准直器及其应用。其中,该准直器包括:底板,所述底板上设置有呈阵列分布的成像通孔,所述成像通孔包含第一孔段和第二孔段,且所述第一孔段的横向尺寸沿自由端向所述第二孔段的方向逐渐减小,所述第二孔段的横向尺寸沿自由端向所述第一孔段的方向逐渐减小;屏蔽圈,所述屏蔽圈形成在所述底板上;以及顶板,所述顶板设置在所述屏蔽圈内,并封闭所述屏蔽圈的至少部分开口,且所述顶板上设置有呈阵列分布的屏蔽通孔,且所述成像通孔和所述屏蔽通孔一一对应设置。该准直器通过顶板对穿过成像通孔的放射性射线进行二次遮挡,有效减小不同针孔投影之间的交叠,降低了准直器的生产成本。

    确定X射线系统的X射线管的状况

    公开(公告)号:CN108293289A

    公开(公告)日:2018-07-17

    申请号:CN201680069964.9

    申请日:2016-11-18

    CPC classification number: H05G1/54 A61B6/40 A61B6/405 A61B6/586

    Abstract: 本发明涉及用于确定X射线系统(36)的X射线管(10)的状况的设备(34)和方法(70)。由于X射线管的老化和/或磨损,由X射线管提供的X射线辐射(30)的谱会随着X射线管的操作时间而改变。本发明因此建议评估利用X射线系统的X射线探测器布置(32)探测的谱不同的值。通过多个谱不同的参考值(44)表示X射线管的参考情况的参考数据集和通过探测的X射线辐射的多个谱不同的工作值(46)表示的X射线管的老化情况的工作数据集用来确定影响由X射线管的阳极(16)发射的源X射线辐射(26)的过滤材料的等效过滤函数。因此,过滤函数提供关于正在用于过滤的材料和/或其长度的信息,这可以为确定X射线管的情况并且因此状况提供基础。

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