-
公开(公告)号:CN116469759A
公开(公告)日:2023-07-21
申请号:CN202310150818.0
申请日:2023-02-22
Applicant: 西安电子科技大学杭州研究院 , 西安电子科技大学
IPC: H01L21/308 , B24B29/02 , B24B57/02 , H01L21/306
Abstract: 一种利用氟基等离子体预处理氧化镓的化学机械抛光法,采用常压的氟基等离子体对氧化镓表面进行预处理,形成氟化镓保护层;对带有氟化镓保护层的氧化镓表面进行时间可控的化学机械抛光;与现有技术相比,本发明可避免氧化镓表面产生腐蚀坑,增大粗糙度,同时防止镓‑氧键直接受到机械应力,避免了氧化镓发生解理。
-
公开(公告)号:CN114927572A
公开(公告)日:2022-08-19
申请号:CN202210385996.7
申请日:2022-04-13
Applicant: 西安电子科技大学杭州研究院
IPC: H01L29/78 , H01L29/423 , H01L21/336 , H01L21/28
Abstract: 一种铁电掺杂正反馈场效应晶体管器件,包括衬底、埋氧层、沟道层和绝缘层,在所述绝缘层上布设铁电介质层,在铁电介质层上设置具有距离间隔的靠近漏端的编程栅极(PG)和靠近源端的编程栅极,通过对编程栅极施加脉冲完成铁电非易失掺杂,获得可编辑的半导体沟道能带结构,构建正反馈机制,实现超陡峭亚阈值特性,并兼具数据的存储与计算功能;其中,所述靠近漏端的编程栅极与漏极之间以靠近漏端的侧墙掩蔽,所述靠近源端的编程栅极与源极之间以靠近源端的侧墙掩蔽;本发明还提供了该器件的制备方法。基于本发明,可同时获得超陡峭亚阈值特性和存算一体功能,从而突破工作电压和数据输运所导致的能耗性能瓶颈。
-
公开(公告)号:CN114725124A
公开(公告)日:2022-07-08
申请号:CN202210176047.8
申请日:2022-02-24
Applicant: 西安电子科技大学杭州研究院
IPC: H01L27/1159 , H01L29/47
Abstract: 本发明涉及一种基于铁电肖特基隧穿结的半导体结构,包括:衬底;第一隔离层,设置在所述衬底的上表面;沟道层,所述沟道层设置在所述第一隔离层的上表面,包括本征区和掺杂区,所述掺杂区的上表面与所述沟道层的上表面齐平;第一电极层,设置在所述本征区的上表面;第二电极层,设置在所述掺杂区的上表面;铁电层,设置在所述第一电极层和所述第二电极层之间,并且覆盖所述第一电极层的部分上表面;以及第三电极层,所述第三电极层设置在所述铁电层和所述第二电极层的上表面。本发明的半导体结构利用铁电肖特基隧穿结优异的单向导电特性,并通过铁电层控制铁电肖特基隧穿结宽度来实现器件的开关及存储,使得开关控制具有良好非易失性阻抗特性和单向导电性。
-
公开(公告)号:CN219575647U
公开(公告)日:2023-08-22
申请号:CN202222555071.0
申请日:2022-09-22
Applicant: 西安电子科技大学杭州研究院
IPC: H01L29/06 , H01L29/24 , H01L29/41 , H01L29/872
Abstract: 本实用新型涉及半导体功率器件技术领域,具体公开了一种氧化镓肖特基二极管,包括衬底层、阴极金属层、导电漂移层和阳极金属层,所述阴极金属层设置于所述衬底层底面;所述导电漂移层设置于衬底层的顶面;所述阳极金属层设置于导电漂移层的顶面;其中,所述导电漂移层中具有多个横向排列且有一定间隔的埋层,埋层的掺杂类型与导电漂移层相反。本实用新型可以提高氧化镓肖特基二极管的击穿电压,从而提高氧化镓肖特基二极管的PFOM,且只略微提高特征导通电阻。
-
公开(公告)号:CN218548443U
公开(公告)日:2023-02-28
申请号:CN202222705811.4
申请日:2022-10-12
Applicant: 西安电子科技大学杭州研究院
IPC: H01L29/872 , H01L29/06 , H01L29/36
Abstract: 本实用新型涉及半导体功率器件技术领域,公开了一种氧化镓肖特基二极管,其自下至上包括阴极金属、衬底、n型Ga2O3外延层和阳极金属,还包括SiO2保护环和SiO2场板,SiO2保护环贯穿n型Ga2O3外延层,且其上、下表面与n型Ga2O3外延层的上、下表面平齐,阳极金属的外径小于SiO2保护环的外径;SiO2场板为环形,设于SiO2保护环的上方,位于阳极金属的外周,其内周壁嵌入阳极金属,且其外径小于n型Ga2O3外延层的外径;n型Ga2O3外延层自下至上包括掺杂浓度依次递减的第一导电漂移层、第二导电漂移层。本实用新型通过将SiO2保护环厚度设置为与n型Ga2O3外延层一致,和优化n型Ga2O3外延层的掺杂浓度分布,使得在保持特征导通电阻的同时提高击穿电压,从而提高二极管的功率品质因子。
-
-
-
-