一种低功耗发射多功能芯片

    公开(公告)号:CN114866039A

    公开(公告)日:2022-08-05

    申请号:CN202210791248.9

    申请日:2022-07-07

    IPC分类号: H03F1/02 H03F3/24 H04B1/04

    摘要: 本发明公开了一种低功耗发射多功能芯片,属于集成电路技术领域,包括低功耗本振网络、开关调制网络和自偏放大网络。本发明利用共源共栅振荡结构产生高质量本振信号,并且基于等效四分之一波长线的射频开关作为信号调制模块,可以降低插损,提高调制效率和速率,同时利用共源共栅放大结构可以提升调制信号的功率等级,从而使得整个多功能芯片具有高输出功率、高转换增益、高集成度和低功耗的特性。

    一种可靠性试验装置及方法

    公开(公告)号:CN114422043A

    公开(公告)日:2022-04-29

    申请号:CN202210308528.X

    申请日:2022-03-28

    摘要: 本发明公开了一种可靠性试验装置及方法,属于射频通信技术领域,装置具有多个射频信号输出端口,装置内集成了锁相环电路、可变增益放大器、功率放大器以及增益补偿电路,在满足不同器件对的频率和功率的不同需求的同时,保证了每个射频输出口的信号的一致性。装置中功率检测电路能对试验器件的射频输出功率进行实时监测,监测结果通过LED灯显示。在需要加入射频信号的可靠性试验项目中,利用本发提出的种可靠性试验装置搭建的试验平台简单,只需提供直流电源既能输出多路射频信号,同时可检测试验器件的工作状态,所以具有试验低成本、试验效率高的优点。

    一种基于神经网络的芯片筛测方法

    公开(公告)号:CN113687995B

    公开(公告)日:2022-01-04

    申请号:CN202111251364.3

    申请日:2021-10-27

    IPC分类号: G06F11/22 G06N3/04

    摘要: 本发明公开了一种基于神经网络的芯片筛测方法,利用芯片的S参数测试数据,通过神经网络公式计算和S参数比较,拦截具有早期失效风险的异常芯片,避免其成为合格品,相较于现有人工筛选芯片的方法,主观性较小,可靠性高。本发明在芯片的量产测试阶段,在原有的测试平台上增加了芯片筛选测试程序,因不引入新的测试设备,其测试成本低,速度快,环境简单。本发明可以显著遏制芯片量产测试的正常波动对于量产测试的干扰作用,从S参数交流信号角度深度拦截了具有失效风险的芯片,从而降低了芯片的早期失效率。