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公开(公告)号:CN113884518A
公开(公告)日:2022-01-04
申请号:CN202110737864.1
申请日:2021-06-30
Applicant: 欧姆龙株式会社
Inventor: 笠原启雅
IPC: G01N23/046 , G01N23/083
Abstract: 一种X射线检查装置,通过使用X射线进行拍摄来对检查对象进行检查,所述X射线检查装置的特征在于,具备:X射线发生器,其产生向所述检查对象照射的X射线;X射线检测器,其对透过了所述检查对象的X射线进行检测;设定受理部,其受理与所述拍摄有关的条件即拍摄条件的设定;所需时间估计部,其估计包含使用了X射线的所述检查对象的拍摄在内的规定处理所需的、针对所设定的所述拍摄条件的所需时间;以及所需时间显示部,其显示所述所需时间。
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公开(公告)号:CN113744204A
公开(公告)日:2021-12-03
申请号:CN202110930614.X
申请日:2021-08-13
Applicant: 华中农业大学
Abstract: 本发明涉及基于X光和造影增强剂的果实表皮微损伤检测方法,包括以下步骤:步骤1、将待检测果实的外表皮进行浸泡清洗,并在清洗液中加入碘化钾造影增强剂;步骤2、通过X光成像装置对待检测果实进行若干次成像,得到若干待检测果实的X光图像;步骤3、将待检测果实的X光图像输入果实检测深度学习模型中,果实检测深度学习模型对待检测果实的X光图像的损伤特征进行识别并输出识别结果。本发明可有效快捷的筛选出损伤果实,防止损伤果患病以对健康果造成影响。
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公开(公告)号:CN113670958A
公开(公告)日:2021-11-19
申请号:CN202111025034.2
申请日:2021-09-02
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01N23/083 , G01N23/18 , G01N23/04
Abstract: 本发明公开了一种基于X射线线衰减系数差异的燃气轮机叶片缺陷辨别方法,通过形态学和线衰减系数结合的方法,首先通过对缺陷外形形状因子λ的计算区分出裂纹和疏松缺陷;在形态难以区分的情况下通过计算未知种类缺陷区域和背景区域的线性平均灰度值,背景区域的线性平均灰度值的标准差,求得该缺陷区域相对于X射线的线衰减系数,由于在射线能量一定的情况下,线衰减系数只与吸收体本身材料性质有关,通过计算缺陷区域线衰减系数与叶片本身的线衰减系数的对比,完成对气孔和夹渣缺陷的区分,判断出该缺陷区域内缺陷的种类,最终实现对燃气轮机四大常见缺陷的精确分类。
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公开(公告)号:CN113588692A
公开(公告)日:2021-11-02
申请号:CN202111140057.8
申请日:2021-09-28
Applicant: 南通皋亚钢结构有限公司
Inventor: 保柳柳
Abstract: 本发明涉及一种基于计算机视觉的焊缝缺陷无损检测方法,包括以下内容:对焊缝x射线底片进行语义分割得到焊缝边缘,对焊缝边缘内侧区域进行连通域分析得到焊缝内侧的连通域;对每个连通域的边缘进行分割,得到靠近母材一侧的外边缘和靠近焊缝中心一侧的内边缘;分别获取内边缘和外边缘的辨识度、黑度与平直度;利用辨识度与黑度获取内边缘和外边缘的清晰度;根据内边缘和外边缘之间的清晰度差值和平直度差值得到连通域的未融合率;设定阈值,将阈值与连通域对应的未融合率进行比较,根据阈值与连通域对应的未融合率比较的结果对连通域进行标记。根据本发明提出的技术手段,可以精确识别出焊缝未融合缺陷,对焊缝缺陷的易混淆种类识别更加精准。
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公开(公告)号:CN113566448A
公开(公告)日:2021-10-29
申请号:CN202110788513.3
申请日:2021-07-13
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: F25B21/02 , F25B49/00 , G01N23/083
Abstract: 本发明涉及一种用于软X射线谱学测试中的冷却装置,包括冷却模块、散热模块和控制模块,所述冷却模块包括冷却单元和与所述控制模块相连的半导体制冷片,所述半导体制冷片位于所述冷却单元和散热模块之间、且嵌于所述冷却单元中;所述控制模块用于发送制冷信号给所述半导体制冷片,所述半导体制冷片用于根据收到的制冷信号将冷能量通过所述冷却单元传递至样品。本发明能够在真空或近常压(原位)气氛条件下对样品进行冷却,可提供软X射线谱学测试中所需的低温测试条件。
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公开(公告)号:CN112403392B
公开(公告)日:2021-10-08
申请号:CN202011491191.8
申请日:2020-12-17
Applicant: 吉林大学
IPC: B01J3/04 , G01N23/083 , G01N23/10 , G01N21/65 , G01N21/64 , G01N21/3577 , G01N21/25 , G01N21/01
Abstract: 本发明的一种大容量液体环境原位光学测量高温高压反应釜高温高压设备技术领域,包括反应釜釜体(1)、光学窗口部件(2)、样品腔组件(3)、加热体组件(4)、电极(5)、密封部件(6)、水冷管(7)和压力组件(8);本发明所设计的反应釜能够承载液体样品,样品容积可高达上百毫升,并为其提供600℃温度、550MPa压力环境,同时能够实现高温高压条件下液体样品的原位X射线吸收谱、荧光谱、拉曼光谱分析。
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公开(公告)号:CN108449979B
公开(公告)日:2021-07-09
申请号:CN201680057725.1
申请日:2016-10-07
Applicant: 株式会社石田
IPC: G01N23/04 , G01N23/18 , G01N23/083
Abstract: 一种X射线检查装置,具备输送部、X射线照射部、X射线检测部以及图像处理部。X射线检测部具有沿着与输送部输送被检查物的输送方向以及X射线照射部照射X射线的照射方向的两个方向交叉的方向并排设置的多个直接转换型X射线检测元件阵列。图像处理部具有对X射线透过图像实施边缘检测处理而生成边缘检测图像的边缘检测部、对边缘检测图像实施水平方向模糊处理而生成水平方向模糊图像的水平方向模糊部、以及将X射线透过图像与水平方向模糊图像进行合成而生成处理后X射线透过图像的合成部。
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公开(公告)号:CN112858355A
公开(公告)日:2021-05-28
申请号:CN202110032382.6
申请日:2021-01-11
Applicant: 华中农业大学
IPC: G01N23/083
Abstract: 本发明公开了一种基于同步辐射快速X射线吸收光谱(Q‑XAS)对砷与铬的氧化还原反应速率进行实时监测的方法,包括以下步骤:(1)将含Cr(VI)和As(III)的悬液加入到侧面以透明kapton薄膜密封的开口反应器中,在一定背景电解质条件下开始反应,透明薄膜对悬液进行X射线扫描,采集As或Cr的K‑边XAS光谱,连续采集直至反应结束;(2)将采集的光谱通过Athena软件进行预处理和线性拟合,得到目标元素形态含量随反应时间的变化,而后利用动力学方程对数据点进行拟合,即可得到As(III)与Cr(VI)发生氧化还原反应的速率常数,与现有技术相比,该方法具有实时、高效、准确等优点。
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公开(公告)号:CN108132266B
公开(公告)日:2021-01-26
申请号:CN201711281898.4
申请日:2017-12-07
Applicant: 东南大学
IPC: G01N23/083
Abstract: 本发明公开了一种X线光路级联显微成像系统,包括多级X射线显微成像光路;每级X射线显微成像光路由闪烁体、显微物镜、转向镜、管镜和可见光CCD组成;各级闪烁体分别吸收其带通范围内的X射线并将其转化成特定光学频率的可见光,各级转向镜改变闪烁体发出的可见光的方向,并分别经相应显微物镜与管镜聚焦于可见光CCD上。本发明X线光路级联显微成像系统采用多闪烁体级联的设计,能够大大提高X射线的利用率,同时还能提高X射线成像的光通量,从而在很大程度上提高了系统成像的信噪比。
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公开(公告)号:CN112014404A
公开(公告)日:2020-12-01
申请号:CN202010879426.4
申请日:2020-08-27
Applicant: OPPO(重庆)智能科技有限公司
IPC: G01N21/88 , G01N23/04 , G01N23/083 , G01N23/18
Abstract: 本申请公开了一种组件检测方法、装置、系统、电子设备及存储介质。该组件检测方法包括:获取第一光源照射待测组件时相机采集到的外部影像;获取第二光源照射所述待测组件时所述相机采集到的内部影像,其中,所述第二光源具备物体穿透性且用于生成包含所述物体内部结构的影像,所述第一光源和所述第二光源均位于所述相机;根据所述外部影像以及所述内部影像,构建所述待测组件的待测三维模型;根据所述待测三维模型与标准三维模型的匹配结果,获取所述待测组件的检测结果,其中,所述标准三维模型为根据所述待测组件对应的标准组件生成的三维模型。本方法可提升组件检测结果的准确性。
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