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公开(公告)号：CN110673248A
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201910951575.4
申请日：2019-10-09
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于微纳光学器件与光通信技术领域，具体是一种近红外可调谐窄带滤波器。本发明滤波器包括：衬底层，位于衬底层上依次叠合的薄膜层和光栅层；其中衬底为低折射率电介质材料，薄膜层和光栅层为高折射率电介质材料；光栅层的衍射效应产生的衍射波，一定条件下可以在薄膜层内形成导模共振。结合时域有限差分(FDTD)仿真和电磁多极展开分析表明，窄线宽反射是由于光栅层与入射光相互作用时，电偶极、磁偶极与电四极共振模式耦合造成的。改变光栅的周期以及薄膜层的厚度，可有效调谐峰值波长。本发明具有结构简单、峰值反射率高、峰值波长调谐简单、偏振不敏感，加工误差容忍度高等优点。
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公开(公告)号：CN110411952A
公开(公告)日：2019-11-05
申请号：CN201910633212.6
申请日：2019-07-15
Applicant: 复旦大学
IPC: G01N21/21
Abstract: 本发明公开了一种多偏振通道面阵列探测的椭圆偏振光谱获取系统和方法。本发明采用多通道偏振器阵列同时获取不同偏振态信号，不同偏振态信号通过光纤阵列耦合器与光纤阵列适配器并行传送到多通道光谱仪中，各通道偏振信号经多通道光谱仪分光在二维面阵列探测器形成多偏振态的光谱分布，再通过傅里叶分析方法对多偏振态光谱信号进行数据处理获得椭偏参数。本发明的系统和方法克服了利用机械运动部件传动进行椭偏光谱测量的缺点，能实时快速地获取椭圆偏振光谱以及样品的其它材料参数。
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公开(公告)号：CN106584975B
公开(公告)日：2019-05-03
申请号：CN201611105403.8
申请日：2016-12-05
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明公开了一种红外增强的宽带光热转换薄膜器件，第一层为防反射的保护层，采用透明介质膜；第二层为光吸收层，采用过渡金属膜；第三层为光学振幅和位相匹配层，采用透明介质膜；第四层为光吸收层，采用过渡金属膜；第五层为光学振幅和位相匹配层，采用透明介质膜；第六层为光吸收层，采用过渡金属膜；第七层为光学振幅和位相匹配层，采用透明介质膜；第八层为高反射层，采用完全非透明的高反射金属膜；第一层到第八层厚度的选择依据各膜层的光学常数，在250‑2000nm波长区，满足的高吸收条件为：(R+T)≤5％,AX≥95％,R+T+AX＝1。通过结构参数的最优化计算，能够在250－2000nm波长区，实现光子能量被转换为热能的光吸收率Ax超过95％。
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公开(公告)号：CN103163078B
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201310078010.2
申请日：2013-03-12
Applicant: 复旦大学
IPC: G01N21/21
Abstract: 本发明属于光学电子器件技术领域，具体为一种提高椭偏仪测量精度的方法。所述椭偏仪特征包括依次连接的如下部件：光源、固定起偏器、旋转起偏器、样品、检偏器、探测器等；其中，旋转起偏器和检偏器以角速度保持 的比例关系同步旋转。该型椭偏仪具有两种自洽的方法获取椭偏参数，进而获取被测样品的各类光学参数。传统上，一般采用两种方法之一获取椭偏参数，或者对两种方法获取的参数进行简单的平均。本发明提出一种新的数据处理方法，将两种方法有机结合起来，能显著提高测量准确度。
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公开(公告)号：CN103163078A
公开(公告)日：2013-06-19
申请号：CN201310078010.2
申请日：2013-03-12
Applicant: 复旦大学
IPC: G01N21/21
Abstract: 本发明属于光学电子器件技术领域，具体为一种提高椭偏仪测量精度的方法。所述椭偏仪特征包括依次连接的如下部件：光源、固定起偏器、旋转起偏器、样品、检偏器、探测器等；其中，旋转起偏器和检偏器以角速度保持的比例关系同步旋转。该型椭偏仪具有两种自洽的方法获取椭偏参数，进而获取被测样品的各类光学参数。传统上，一般采用两种方法之一获取椭偏参数，或者对两种方法获取的参数进行简单的平均。本发明提出一种新的数据处理方法，将两种方法有机结合起来，能显著提高测量准确度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102507040A
公开(公告)日：2012-06-20
申请号：CN201110354870.5
申请日：2011-11-10
Applicant: 复旦大学
IPC: G01K11/00
Abstract: 本发明属于温度测量技术领域，具体为一种基于椭偏仪的薄膜温度测量方法。本发明利用椭偏仪测量被测薄膜的折射率谱线与标准折射率谱线，将两者比较，采用最小二乘法得到最佳匹配曲线，从而根据标准谱线所对应的温度值得到被测薄膜的温度值。本发明可非直接、无损耗地测量固体薄膜实时或非实时温度。测量过程中对薄膜材料没损伤，当实验条件不发生明显变化时，该方法具有较高的置信度。当标准折射率谱的温度间隔取得较小时，该方法具有较高的精度。
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公开(公告)号：CN102183358A
公开(公告)日：2011-09-14
申请号：CN201110030726.6
申请日：2011-01-28
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于光学电子器件技术领域，具体为一种温度可变椭圆偏振仪样品室装置及变温方法。该装置包括气瓶，气阀，电磁阀，杜瓦瓶，样品室，样品台，加热电阻器，温度传感器，温度控制器等。样品室分成上腔体和下腔体两部分，下腔体呈长方体，上腔体侧面呈梯形，在上腔体的两侧斜面上开有光学窗口。所述变温方法分为高温模式和低温模式两种。在低温模式中，利用常温气体加热低温液体产生低温制冷气体，将低温制冷气体经隔热输气管道注入样品室，使样品台达到设定低温。在高温模式中，通过加热电阻器加热，使样品台达到设定高温。本装置制备方便，成本低廉；变温方法效果良好，实用性强，可用于各类椭圆偏振光谱测量。
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公开(公告)号：CN100395538C
公开(公告)日：2008-06-18
申请号：CN200510024432.7
申请日：2005-03-17
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明是一种新型快速椭圆偏振光测量系统。在传统光度式椭圆偏振光测量仪结构中，需采用机械转动方式控制起偏器或检偏器来进行光偏振态的方位角扫描。由于机械转动的速度有限，大大限制了椭圆偏振光测量的检测速度。本发明采用组合检偏器和二维CCD阵列探测器结构配置的椭圆偏振测试系统来快速获取材料的光学参数。由于采用组合偏振器代替传统的旋转偏振器来获得傅立叶分析所要求的采样点数目，并采用二维CCD阵列探测器来并行探测各偏振态的光信号。在测试过程中，系统无须转动任何机械部件，因此可以使各类材料光学参数的测量速度大幅度提高。
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公开(公告)号：CN1213126A
公开(公告)日：1999-04-07
申请号：CN98121929.2
申请日：1998-09-30
Applicant: 复旦大学
IPC: G11B7/00
Abstract: 传统的磁记录和光记录器均采用单磁头和单光学头对数据进行存储和读取,并由机械位移方式实现数据的寻址和阅读。本发明采用面阵式光探测器实现光盘数据的高密度快速阅读。光盘的数据记录密度与面阵光探测器的密度一致,其极限数据存储密度仅受到探测器阵列密度的限制。在数据阅读和传输过程消除了记录头的机械位移,因而显著提高了器件的防振和环境应用能力。器件的工作状态稳定,寿命长,极不易被模仿和伪造。
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公开(公告)号：CN1213084A
公开(公告)日：1999-04-07
申请号：CN98121930.6
申请日：1998-09-30
Applicant: 复旦大学
IPC: G01R33/032
Abstract: 已有的磁光克尔效应的测量设计方法均采用单只探测器,只能对材料的单区域进行单次测量。如要对材料的微区进行高密度的数据扫描测量,则测量的效率较低,不易实用。本发明采用了具有一定像素范围数目的CCD探测器,通过旋转检偏器,在不同检偏角位置连续获得完整的CCD信号,并通过快速富利埃分析,不仅可获得宏区的克尔效应,而且可获得高分辨率的微区分布的克尔效应,形成凝视式磁光克尔图象。采用本发明制造的凝视式磁光克尔仪,可提高效率5千至5万倍,并快速、准确获得各种磁结构。
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