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公开(公告)号：CN112082492A
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN202010919118.X
申请日：2020-09-04
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供一种具有角度监测的薄膜厚度与折射率同时测量的装置及方法，属于光学测量领域，包括宽谱光输出模块、窄线宽激光输出模块、薄膜测量模块、解调干涉仪模块以及采集与控制模块等五个主要部分。本发明基于偏振复用的原理，利用双面四探头的测量结构，在对薄膜厚度及折射率测量的基础上，实现对其角度偏移进行监测及校正，提升厚度测量准确性的同时可对薄膜厚度均匀性的评价。偏振复用技术的采用消除了透射光影响，降低特征干涉峰的识别难度。本发明实现不需要额外的装置即可实现对薄膜的偏转角度进行测量，具有薄膜厚度与折射率测量准确性高、评价结果丰富、自校准、自标定、可溯源以及测量系统稳定性高等优点。
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公开(公告)号：CN111693545A
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN202010488277.9
申请日：2020-06-02
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供一种用于板条测试的复合结构阵列探头及光纤白光干涉装置，复合结构阵列探头由4×4排列的测量探头，和中央部分对准探头阵列构成，其中对准探头阵列包括，发射子探头，和反射光斑的接收探头阵列，且前端配有自聚焦透镜阵列进行光路准直。并匹配该复合结构排列的阵列探头提出一种新型板条检测装置包括光源，1×2耦合器一，光开关，复合阵列探头，待测板条，位移调节架，用于对准检测的探测器阵列，软件驱动，2×2耦合器二，法拉第旋镜，延迟线结构，干涉信号探测模块，装置中光学元件由单模光纤连接，软件驱动部分通过电路连接，进行控制和接收信号。可以实现对板条弱反射区域的高精度超大动态范围检测。
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公开(公告)号：CN111692991A
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN202010488458.1
申请日：2020-06-02
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01B11/24 , G01B11/255 , G01B9/02
Abstract: 本发明提供一种基于白光干涉测量板条键合面的点云数据获取方法，属于激光板条的质量检测领域，白光干涉系统通过光纤探头对键合面进行光斑点式探测，配合位移调节架实现扫描测试，提出一种改进的点云数据获取方法，尤其涉及双曲率参数加权平均值评估，经过粗测和精测两次点云数据获取的技术方法，具体是：首先粗测采点，获取键合面初步点云，包括键合面三维位置点云，和对应点反射率信息点云；然后构建邻域，求解两种点云对应的曲率分布；最后根据两曲率加权值的值域分级别对键合面区域分割，插值补测。本发明创新性提出改进的加权平均合曲率参数作为键合面缺陷评价指标，并针对合曲率大的区域插值补测，有效节省检测成本。
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公开(公告)号：CN111521312A
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN202010381063.1
申请日：2020-05-08
Applicant: 中国工程物理研究院化工材料研究所 , 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提出一种基于盲孔法标定光纤测量材料残余应力的方法。属于光纤测量技术领域。本发明的方法基于盲孔法测试原理，通过预先在周围布置的应变传感器来计算该位置附近的残余应力大小。再将待测材料放入测量材料表面形貌的橡胶底座中，得到材料表面的应变分布情况，结合盲孔法测试数据，得到残余应力与光纤测量材料表面形貌装置信号的对应关系。用以辅助基于光纤测量材料表面形貌装置测试残余应力进行残余应力定量测试及分析。
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公开(公告)号：CN108871638B
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：CN201810379267.4
申请日：2018-04-25
Applicant: 中国工程物理研究院化工材料研究所 , 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明公开了一种材料残余应力的光纤测量装置及监测方法，该装置包括橡胶底座、橡胶底座凹槽、第一层光纤光栅传感器串、橡胶、第二层光纤光栅传感器串、石英护管、光纤光栅解调装置，本发明通过设计一种材料残余应力的光纤测量装置，研究高精度的材料残余应力无损测试方法，结构简单，精度高等特点；本发明提供了一种材料残余应力的监测方法，对材料外表面整体应释放测试是采用加载静态载荷或动态载荷的方法；对于材料内部应力释放测试研究，基于超声波和接触式光纤光栅传感阵列，根据不同传感器对超声信号的响应时间，定位材料内部应力不均匀处，结合有限元软件，分析材料内部残余应力的分布。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108426530B
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201810082442.3
申请日：2018-01-29
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明公开了一种薄膜厚度与折射率同时测量的装置及测量方法，属于光学测量领域。具体包括宽谱光源输出模块、窄线宽激光光源输出模块、膜厚测量探头模块、解调干涉仪模块以及采集与控制模块五部分。本发明将窄线宽激光光源输出模块的输出信号直接输入到解调干涉仪模块中，满足干涉信号共光路的同时避免了膜厚测量探头模块中激光透射光以及激光多次反射光对干涉信号质量的影响；通过控制膜厚测量探头尾纤的长度避免了膜厚测量探头模块中宽谱光透射光对特征信号峰识别的干扰。本发明实现不需标定样品标定即可对薄膜的厚度及折射率进行非接触测量，具有自校准、测量结果可溯源、稳定性高、特征信号识别简单等优点。
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公开(公告)号：CN107244804B
公开(公告)日：2020-01-17
申请号：CN201710396711.9
申请日：2017-05-31
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供一种铋掺杂磷硅酸盐玻璃及其制备方法。其特征在于该玻璃含有40mol％至70mol％的P2O5。在近红外半导体激光器抽运下，观测到半高宽超过250nm的超宽带近红外发光。为制得这种铋掺杂磷硅酸盐玻璃，首先分别称取铋掺杂硅酸盐和磷酸盐玻璃原料，分别融制两种玻璃，随后将两种玻璃液在熔融状态下混合并搅拌，最后将混合玻璃液冷却成型。采用此方法可制备高P2O5比例、高透过的铋掺杂磷硅酸盐玻璃，该玻璃具有较高的荧光半高宽，通过新方法制备的铋掺杂磷硅酸盐玻璃有望应用在超宽带近红外光纤激光器以及可调谐近红外光纤激光器等领域。
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公开(公告)号：CN105588661B
公开(公告)日：2018-07-31
申请号：CN201510768179.X
申请日：2015-11-12
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01K11/32
Abstract: 本发明属于光纤温度传感技术领域,具体涉及种利用保偏光纤光栅实现单点及区域温度同时测量的装置。包括第宽谱光源装置1、第二宽谱光源装置2、第波分复用器3、第二波分复用器5、写入光栅的保偏光纤4、第光程相关装置6、第二光程相关装置7、第信号探测与处理装置8、第二信号探测与处理装置9、测量计算机10。本发明避免了在保偏光纤的所有位置都写入光栅,即可测量得到所有位置所需测量精度的温度信息,有效缓解了宽谱光源谱宽对测量系统的限制,显著扩大了测量区域空间范围。
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公开(公告)号：CN105588661A
公开(公告)日：2016-05-18
申请号：CN201510768179.X
申请日：2015-11-12
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01K11/32
CPC classification number: G01K11/3206
Abstract: 本发明属于光纤温度传感技术领域，具体涉及一种利用保偏光纤光栅实现单点及区域温度同时测量的装置。包括第一宽谱光源装置1、第二宽谱光源装置2、第一波分复用器3、第二波分复用器5、写入光栅的保偏光纤4、第一光程相关装置6、第二光程相关装置7、第一信号探测与处理装置8、第二信号探测与处理装置9、测量计算机10。本发明避免了在保偏光纤的所有位置都写入光栅，即可测量得到所有位置所需测量精度的温度信息，有效缓解了宽谱光源谱宽对测量系统的限制，显著扩大了测量区域空间范围。
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公开(公告)号：CN102842845B
公开(公告)日：2014-02-05
申请号：CN201210334250.X
申请日：2012-09-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: H01S3/10
Abstract: 本发明属于多模光纤传感的混沌激光器控制领域，具体涉及一种多模光纤调制混沌激光的控制系统。本发明包括掺铒光纤激光器、环形器、单模-多模-单模光纤结构、光检测器以及环境控制装置，掺铒光纤激光器中产生的激光随环形器的一端进入单模-多模-单模光纤结构，由环形器的另一端导出进入掺铒光纤激光器谐振腔成为反馈光，并产生混沌激光，经掺铒光纤激光器中的波分复用器进入光检测器，其中环境控制装置安装在单模-多模-单模光纤结构中的多模光纤处控制多模光纤外部的环境。本发明具有可调节反馈光波长、光强等作用，操作方便，结构简单，不易受到电磁干扰，波长可调范围大等特点。
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