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公开(公告)号：CN106197887B
公开(公告)日：2019-04-26
申请号：CN201610521977.7
申请日：2016-07-05
Applicant: 北京航空航天大学
Abstract: 本发明涉及一种密封电连接器低温泄漏判据的确定方法。包括以下步骤：步骤一：推导漏率计算公式；步骤二：根据标准规定的泄漏判据，计算常温常压下最大理想漏孔；步骤三：开展电连接器漏孔有限元仿真；步骤四：根据低温下漏孔尺寸和漏率公式，计算低温下泄漏判据。本发明适用于分析密封电连接器低温漏率，以常温下密封电连接器漏率判据为基础，利用典型漏孔漏率计算公式及有限元分析方法，确定合理的密封电连接器低温泄漏判据。此方法属于密封电连接器低温密封性试验与仿真技术领域。
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公开(公告)号：CN109615156A
公开(公告)日：2019-04-12
申请号：CN201711246980.3
申请日：2017-12-01
Applicant: 北京航空航天大学
Abstract: 本发明涉及一种元器件国产化替代应用验证综合评价方法，包括以下步骤：步骤一：基本信息收集；步骤二：确定基本要素；步骤三：确定评价标准；步骤四：适用性评价；步骤五：确定参评数据；步骤六：差异量化；步骤七：权重分配；步骤八：综合评分。本发明基于元器件级试验数据分析、可靠性数据分析和AHP转化的权重分配法，结合进口元器件和国产化元器件相关标准和规范，得到一套完整可应用的代替评价方法。该方法属于元器件替代评价方法领域。
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公开(公告)号：CN107861040A
公开(公告)日：2018-03-30
申请号：CN201610841604.8
申请日：2016-09-22
Applicant: 北京航空航天大学
CPC classification number: G01R31/2608 , G01R31/2642 , G06F17/5018
Abstract: 本发明涉及一种基于仿真建模和短时试验的IGBT间歇寿命试验方法，包括以下步骤：步骤一：确定散热条件；步骤二：确定参数控制方法；步骤三：确定失效判据；步骤四：确定器件功率大小和结温控制范围；步骤五：安全工作区及最大允许结温分析；步骤六：实施短时试验；步骤七：仿真建模分析；步骤八：优选间歇寿命试验方案。本方法综合考虑散热条件、参数控制方法、功率大小、温度范围、安全工作区域和失效机理等因素，预选出若干套间歇寿命试验方案，通过进行短时的功率循环试验获得器件在单循环中的升降温时间，利用仿真方法得到器件失效前功率循环次数，预估各预选方案的实际功率循环试验时间，进而优选得到最佳的间歇寿命试验方案。此方法属于功率器件可靠性评价技术领域。
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公开(公告)号：CN106199247A
公开(公告)日：2016-12-07
申请号：CN201610485679.7
申请日：2016-06-28
Applicant: 北京航空航天大学
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及一种基于装机前老炼试验数据的星用元器件寿命评价方法。它基于加速退化试验理论模型，结合航天使用环境，从星用元器件实际使用过程中的失效模式和失效机理入手，建立高温老炼试验数据中各个电性能参数的退化轨迹。之后，结合各电性能参数的退化轨迹和失效阈值，计算出各个电性能参数的失效伪寿命。进而，通过拟合伪寿命分布和多参数伪寿命分布融合，可以计算出元器件在高温应力下的寿命分布。最后，通过确定加速因子折算出器件在常规应力下的寿命情况。此方法属于元器件可靠性与寿命评价技术领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106197887A
公开(公告)日：2016-12-07
申请号：CN201610521977.7
申请日：2016-07-05
Applicant: 北京航空航天大学
Abstract: 本发明涉及一种密封电连接器低温泄漏判据的确定方法。包括以下步骤：步骤一：推导漏率计算公式；步骤二：根据标准规定的泄漏判据，计算常温常压下最大理想漏孔；步骤三：开展电连接器漏孔有限元仿真；步骤四：根据低温下漏孔尺寸和漏率公式，计算低温下泄漏判据。本发明适用于分析密封电连接器低温漏率，以常温下密封电连接器漏率判据为基础，利用典型漏孔漏率计算公式及有限元分析方法，确定合理的密封电连接器低温泄漏判据。此方法属于密封电连接器低温密封性试验与仿真技术领域。
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公开(公告)号：CN102156820B
公开(公告)日：2014-10-22
申请号：CN201110106935.4
申请日：2011-04-27
Applicant: 北京航空航天大学
IPC: G06F19/00
Abstract: 一种机械装配工艺的危害性分析方法，该方法有五大步骤：步骤一、确定工艺故障模式的严酷度等级；步骤二、确定工艺故障模式的发生概率等级；步骤三、确定工艺故障模式的被检测难度等级；步骤四、计算工艺故障模式的风险优先数；步骤五、确定关键工艺故障模式。本发明在已有的工艺危害性分析方法的基础上使用定量化的手段，对工艺故障模式的严酷度等级、发生概率等级及被检测难度等级进行了数理分析和确定，可操作性强；所需要的参数和数据与实际结合更加紧密，获取更加方便，操作更加容易，它在工艺可靠性工程技术领域宜于推广。
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公开(公告)号：CN102610278A
公开(公告)日：2012-07-25
申请号：CN201210034458.X
申请日：2012-02-14
Applicant: 北京航空航天大学
IPC: G11C29/08
Abstract: 一种固态自毁硬盘功能验证及数据残留检测方法，它有七大步骤：步骤一：分析固态自毁硬盘功能及结构，确定FLASH存储器的型号和数目、升压电路输出的高压具体值、继电器阵列信息；步骤二：写入特征“检测指纹”；步骤三：软自毁控制功能验证；步骤四：软自毁后“检测指纹”数据恢复；步骤五：软自毁数据残留特性检测；步骤六：硬自毁控制功能验证；步骤七：硬自毁数据残留特性检测。本发明针对自毁硬盘控制器和固态硬盘的原理和功能，提出了对硬盘自毁控制器进行自毁功能符合性验证和固态硬盘数据残留特性检测相结合的完整验证方法。该方法执行容易，检测效果好，在航空航天等保密性领域里有实用价值和广阔的应用前景。
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公开(公告)号：CN102180272A
公开(公告)日：2011-09-14
申请号：CN201110093803.2
申请日：2011-04-14
Applicant: 北京航空航天大学
IPC: B64G7/00
Abstract: 宇航用元器件热环境适应性评价方法，步骤如下：1：确定是否必须进行试验评价：根据元器件类别和应用要求等级确定是否必须进行热环境适应性验证试验；2：确定试验项目：对元器件的热敏感要素进行分析，综合分析后确定试验项目；3：确定试验应力水平：分析元器件在具体应用中所处的热环境应力水平，在此基础上确定试验应力水平；4：元器件热环境应用验证试验的实施；5：试验结果评价：根据确定的评价判据判断元器件在具体宇航产品中的适用性。本方法的优点有：评估试验更具合理性与针对性，可操作性强。
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公开(公告)号：CN102033182A
公开(公告)日：2011-04-27
申请号：CN201010581525.0
申请日：2010-12-10
Applicant: 北京航空航天大学
Abstract: 一种固体钽电解电容器寿命预测方法，它有七个步骤：一、采集漏电流退化数据；二、确定退化轨迹模型和加速退化模型；三、由退化轨迹模型外推得到每个样本的伪失效寿命；四、伪寿命分布假设检验及其未知参数估计；五、确定伪寿命分布总体参数与应力水平的关系；六、外推估计正常应力下钽电容的寿命分布总体参数；七、确定钽电容的平均寿命和可靠度曲线；本发明构思新颖，程序简约，无需寿命试验，可缩短试验时间，节约试验成本，解决传统寿命预测与工程实际不相适应的问题。它在寿命预测技术领域里具有广阔的应用前景。
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