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公开(公告)号:CN210534350U
公开(公告)日:2020-05-15
申请号:CN201822275832.0
申请日:2018-12-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备,其包括聚焦透镜,微极化片阵列、探测器阵列和图形处理装置,其中所述聚焦透镜设置在被检对象和所述微极化片阵列之间,且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述探测器阵列上;所述微极化片阵列设置在所述探测器阵列的朝向所述聚焦透镜的一侧且设置为靠近所述探测器阵列;所述探测器阵列设置在所述聚焦透镜的焦平面上,且被构造为将透过所述微极化片阵列的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像;以及所述图形处理装置设置于所述探测器阵列的远离所述微极化片阵列的一侧,且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号:CN209784532U
公开(公告)日:2019-12-13
申请号:CN201822246212.4
申请日:2018-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 公开了一种安全检查系统。安全检查系统包括:超宽带信号获取设备,获取待检对象反射的超宽带反射信号;毫米波成像设备,获取待检对象的毫米波全息数据;数据处理设备,分别与所述超宽带信号获取设备和所述毫米波成像设备耦连,存储有超宽带数据库和毫米波图像库,并配置为:根据超宽带数据库,识别所述超宽带反射信号中被待检对象携带的概率超过预定概率的违禁品,根据毫米波全息数据重建所述待检对象的毫米波图像,并且根据毫米波图像库,识别所述毫米波图像中的感兴趣区域,以及根据所述毫米波图像库,在所述感兴趣区域中识别所述违禁品;以及显示器,与所述数据处理设备耦连,并显示所述毫米波图像以及与所述违禁品有关的警报消息。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号:CN209728193U
公开(公告)日:2019-12-03
申请号:CN201822239097.8
申请日:2018-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本实用新型提供了场景监控式毫米波扫描成像系统。该场景监控式毫米波扫描成像系统包括适于定位在一安检场景中的多个毫米波扫描成像装置,所述多个毫米波扫描成像装置被布置成分别朝向不同的方位定向,以分别对该安检场景中的不同检测区域内的待检目标进行毫米波扫描成像并提供该目标的扫描数据。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号:CN209433033U
公开(公告)日:2019-09-24
申请号:CN201822275984.0
申请日:2018-12-29
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V8/20
Abstract: 本公开的实施例公开了一种用于主动式毫米波安检成像的稀疏多发多收阵列布置结构和人体安检设备。稀疏多发多收阵列布置结构,包括沿第一行排列的多个发射天线的一组发射天线和沿第二行排列的多个接收天线的一组接收天线,所述一组发射天线平行于所述一组接收天线,且位于同一平面;其中,发射天线之间的间隔距离和接收天线之间的间隔距离不小于辐射波的波长的一倍,使得发射天线和接收天线的总数量减少;其中,所述稀疏多发多收阵列布置结构包括:多个部段,相邻的两个部段之间形成夹角。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号:CN209182530U
公开(公告)日:2019-07-30
申请号:CN201822275813.8
申请日:2018-12-29
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V8/10
Abstract: 公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备,包括:准光学组件,其包括V形反射板和第三反射板,V形反射板包括第一反射板和第二反射板,V形反射板能够绕其摆动轴线摆动以使得第一反射板分别接收并反射来自第一被检对象位于第一视场不同位置的部分的波束,第二反射板分别接收并反射第二被检对象位于第二视场不同位置的部分的波束;斩波器被配置成在任一时刻仅来自第一反射板或第三反射板反射的来自第二反射板的波束入射到探测器阵列,斩波器绕其中心轴线转动以使来自第一反射板和第三反射板的波束交替地由探测器阵列接收。该设备能够对两个被检对象同时成像,检测效率高、探测器利用率高。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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