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公开(公告)号：CN1841525A
公开(公告)日：2006-10-04
申请号：CN200610056972.8
申请日：2006-03-07
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G11B7/0065 , G11B7/135 , G11B7/125 , G03H1/22
CPC classification number: G03H1/04 , G03H1/265 , G03H2223/13 , G03H2225/55 , G11B7/0065 , G11B7/128 , G11B7/1367 , G11B7/1381
Abstract: 本发明公开了一种全息记录仪，用于通过记录光束与参考光束的干涉而在全息记录介质上记录全息图。该记录仪包括：光源，用于输出相干光以分为记录光束和参考光束；空间光调制器，用于将记录光束调制为表示待记录信息的形式；物镜，用于输出记录光束；和相移掩模，其设置在空间光调制器的光入射表面上。该掩模构造成允许记录光束通过，同时还部分地改变通过该掩模的记录光束的相位。
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公开(公告)号：CN1841524A
公开(公告)日：2006-10-04
申请号：CN200610056971.3
申请日：2006-03-07
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G11B7/0065 , G11B7/09 , G11B7/135 , G03H1/22
CPC classification number: G11B7/0065 , G03H1/22 , G03H1/2286 , G03H2001/2223 , G03H2001/2289 , G11B7/00772 , G11B7/08564 , G11C13/042
Abstract: 本发明公开了一种包括可动电流反射镜、反射镜控制器和再现单元的全息记录和再现装置。电流反射镜将参考光束导向全息记录介质并改变参考光束的入射角。反射镜控制器使电流反射镜移动以将入射角调整到用于全息记录的预定角度。在再现所记录信息时，反射镜控制器使电流反射镜移动以使入射角在包括该预定角度的预定范围内连续改变。再现单元在入射角连续改变时接收来自光学检测器的检测信号。检测信号对应于来自全息记录介质的反射光束强度。当反射光束的强度超过预定水平或达到最大值时，再现单元根据检测信号再现所记录信息。
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公开(公告)号：CN1841522A
公开(公告)日：2006-10-04
申请号：CN200510085588.6
申请日：2005-07-25
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G11B7/0065 , G11B20/10 , G03H1/04
CPC classification number: G11B7/0065 , G11B7/00772 , G11B7/0079 , G11B7/12 , G11B7/28
Abstract: 本发明公开了一种记录和再现装置，其用于在具有全息图记录区域和缓冲区记录区域的记录介质上记录数据。该记录和再现装置具有：全息图记录控制器，该全息图记录控制器以全息图形式在全息图记录区域上记录用户数据以作为页数据；缓冲区记录控制器，该缓冲区记录控制器在缓冲区记录区域上记录用户数据；以及记录控制器，在接收到用户数据写入请求时，该记录控制器对将写入请求中的用户数据记录在全息图记录区域和缓冲区记录区域中的哪一个上进行控制。
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公开(公告)号：CN1783234A
公开(公告)日：2006-06-07
申请号：CN200510103269.3
申请日：2005-09-20
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G11B7/00 , G11B7/24 , G11B7/0065
CPC classification number: G11B7/0065 , G03H1/0252 , G03H1/26 , G03H2250/42 , G11B7/00781 , G11B7/0938 , G11B7/24044 , G11B7/256
Abstract: 全息记录介质包括全息记录层和层叠在全息记录层上的透明衬底层。记录层记录记录光束和参考光束的干涉图案。透明衬底层有面对全息记录层的内表面，并且该表面形成有用于沿规定引导方向引导记录光束和参考光束的追踪区域。追踪区域的反射率比透明衬底层的内表面中的剩余区域的反射率高。
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公开(公告)号：CN104755892B
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201280076614.7
申请日：2012-10-26
Applicant: 富士通株式会社
CPC classification number: G01K11/3206 , G01K3/10 , G01K11/32 , G01K2011/324 , G01N25/72
Abstract: 本发明提供一种能够在初始阶段检测在化工厂、炼油厂以及火力发电站等设施中发生的异常的温度测定系统以及异常检测方法。温度测定系统具有光纤(30)、温度分布测定装置(31)、以及数据处理装置(32)。温度分布测定装置(31)向光纤(30)射入光并检测后方散射光，根据其检测结果来取得沿光纤(30)的长度方向的温度分布。数据处理装置(32)存储由温度分布测定装置温度分布和过去的温度分布的差值而得到的差值温度分布实施信号处理，并根据其结果来判断异常的有无。(31)取得的温度分布，并且针对运算当前时刻的
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公开(公告)号：CN103782144B
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201180073111.X
申请日：2011-08-31
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G01K11/12
Abstract: 本发明的目的在于提供能够容易地评价测定温度分布的修正所使用的传递函数的妥当性的温度分布测定系统、温度分布测定装置以及温度分布测定方法。温度分布测定系统具有：光纤24）；激光光源（21），其与光纤（24）光学连接；光检测器（26），其检测在光纤（24）内发生后向散射的光；以及温度分布测定部（27），其对从光检测器（26）的输出获得的测定温度分布进行使用了传递函数的修正计算。实际温度分布测定部（27）获取铺设了光纤（24）的场所的实际温度分布，并对修正后的测定温度分布与实际温度分布的差分进行运算来判定传递函数是否合适。
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公开(公告)号：CN102414946B
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN200980158675.6
申请日：2009-12-22
Applicant: 富士通株式会社
Abstract: 提供自动地解析光纤等线材的敷设状态的线材的敷设状态解析方法以及敷设状态解析装置。通过相机(51)拍摄光纤(20)的敷设状态。在光纤(20)上以一定间隔赋予位置标志(23)，该位置标志表示距预定位置的距离和光纤(20)的朝向。拍摄的图像在敷设状态解析装置(52)中进行图像处理，使用光纤敷设工具(40)以及位置标志(23)来解析光纤(20)的敷设状态。并且，将光纤(20)的敷设状态与直角坐标关联，例如能够根据距盒(10)的入口部的距离计算光纤(20)的任意的位置的坐标。
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公开(公告)号：CN103733037A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：CN201180072850.7
申请日：2011-08-15
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G01K11/12
CPC classification number: G01K11/32 , G01K2011/324
Abstract: 本发明提供能够根据光纤的全长的变化而容易地设定适当的传递函数的温度分布测定装置以及温度分布测定方法。温度分布测定装置（20）具有：与光纤（24）光学连接的激光光源（21）、检测在光纤（24）内发生后向散射的光的光检测器（26）、以及对从光检测器（26）的输出获得的临时的测定温度分布进行使用了传递函数的修正计算来作为真的测定温度分布的温度分布测定部（27）。另外，温度分布测定部（27）存储有按每个光纤（24）的全长以及长度方向的每个位置而设定的传递函数的数据。而且，若光纤（24）的长度被变更，则温度分布测定部（27）使用传递函数的数据来变更用于修正计算的传递函数。
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公开(公告)号：CN102414946A
公开(公告)日：2012-04-11
申请号：CN200980158675.6
申请日：2009-12-22
Applicant: 富士通株式会社
Abstract: 提供自动地解析光纤等线材的敷设状态的线材的敷设状态解析方法以及敷设状态解析装置。通过相机(51)拍摄光纤(20)的敷设状态。在光纤(20)上以一定间隔赋予位置标志(23)，该位置标志表示距预定位置的距离和光纤(20)的朝向。拍摄的图像在敷设状态解析装置(52)中进行图像处理，使用光纤敷设工具(40)以及位置标志(23)来解析光纤(20)的敷设状态。并且，将光纤(20)的敷设状态与直角坐标关联，例如能够根据距盒(10)的入口部的距离计算光纤(20)的任意的位置的坐标。
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公开(公告)号：CN101263434B
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200580051559.6
申请日：2005-09-15
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G03H1/04
Abstract: 一种全息图记录装置(A2)，包括：光源(10)，发出相干光；空间光调制器(20)，具有针对被多分割的每个单位区划将来自该光源(10)的光反射到主要的射出方向以及规定的截去方向中的一个方向上的多个光反射元件(21)，并将在射出方向上行进的光作为信号光射出；信号光学系统(30、31)，用于将信号光照射到全息图记录介质B上。该全息图记录装置(A2)还包括：波前整形单元(40、41、42)，对被空间光调制器(20)的光反射元件(21)间拔到规定的截去方向上的光进行聚光，并对该光的波前进行整形；以及参考光学系统(50、51)，用于将从波前整形单元(40、41、42)射出的光作为参考光照射，以使其在全息图记录介质(B)上与信号光重叠。
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