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公开(公告)号：CN109632087B
公开(公告)日：2020-11-13
申请号：CN201910007135.3
申请日：2019-01-04
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J1/00
Abstract: 本发明涉及一种适用于成像亮度计的现场标定方法，所述方法的一实施方式包括：在目标区域放置亮度均匀的漫反射板；利用成像亮度计中的图像采集单元获取漫反射板的灰度平均值，利用成像亮度计中的亮度计获取漫反射板的亮度平均值；将所述灰度平均值与所述亮度平均值的比值确定为标定系数；根据所述标定系数对所述图像采集单元进行标定。该实施方式能够对成像亮度计中的图像采集单元进行标定，从而可从图像信息中获取每一像素点的亮度值。本发明还涉及一种成像亮度计现场标定装置，包括准备单元、测量单元和标定单元，可以消除系统参数随现场环境及工作时间变化而产生的误差，提高亮度测量精度。
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公开(公告)号：CN111695170A
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN202010543995.1
申请日：2020-06-15
Applicant: 北京环境特性研究所 , 哈尔滨工业大学 , 中国人民解放军63921部队
Abstract: 本发明涉及目标可见光特性实时仿真方法及装置，该方法包括以下步骤：构建目标几何模型，并将所述几何模型离散化为多个面元；根据所述几何模型和所述多个面元的辐射特性参数，获取目标可见光特性数据集；基于所述目标可见光特性数据集进行训练，得到可见光特性模型；利用所述可见光特性模型生成目标可见光图像。相比于现有的目标可见光特性仿真方法，本发明方案利用获得的可见光特性模型对目标及环境特性进行仿真，无需再对不同光源及探测方向条件下进行大量光线跟踪计算，能够满足目标可见光特性实时仿真的需求，尤其适用于要求高分辨率图像精度的情况。
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公开(公告)号：CN111309054A
公开(公告)日：2020-06-19
申请号：CN202010145576.2
申请日：2020-03-05
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G05D3/10
Abstract: 本发明涉及一种发散角可调的太阳模拟器及其设计方法，包括外壳、光源、积分器、反射镜、准直镜和调距部件，外壳固连在屋顶，光源采用氙灯，积分器输出镜片数量介于六十个之内，光源和积分器架设在调距部件上，调距部件架设在外壳内，反射镜架设在外壳远离光源一侧，调距部件驱动光源和积分器靠近或远离反射镜，准直镜架设在反射镜一侧，本发明具有通过调整太阳模拟器的光照发散角，实现太阳模拟器辐照区域调整的优点。
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公开(公告)号：CN109632087A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201910007135.3
申请日：2019-01-04
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J1/00
CPC classification number: G01J1/00
Abstract: 本发明涉及一种适用于成像亮度计的现场标定方法，所述方法的一实施方式包括：在目标区域放置亮度均匀的漫反射板；利用成像亮度计中的图像采集单元获取漫反射板的灰度平均值，利用成像亮度计中的亮度计获取漫反射板的亮度平均值；将所述灰度平均值与所述亮度平均值的比值确定为标定系数；根据所述标定系数对所述图像采集单元进行标定。该实施方式能够对成像亮度计中的图像采集单元进行标定，从而可从图像信息中获取每一像素点的亮度值。本发明还涉及一种成像亮度计现场标定装置，包括准备单元、测量单元和标定单元，可以消除系统参数随现场环境及工作时间变化而产生的误差，提高亮度测量精度。
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公开(公告)号：CN109188685A
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201811173291.9
申请日：2018-10-09
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G02B27/00
Abstract: 本发明涉及提高辐照均匀度的准直镜设计方法，包括：根据太阳模拟器的设计要求，确定准直镜的面型参数；将所述准直镜分割成多块单元准直镜，确定每块单元准直镜的面型参数；根据每块单元准直镜的面型参数，拟合获得每块单元准直镜对应于相应理想抛物面准直镜单元的球面曲率半径；基于拟合获得的球面曲率半径将每块单元准直镜设计为球面单元准直镜；将获得的所有球面单元准直镜按位置对应关系进行拼接，获得最终的准直镜。本发明最终拼接获得的准直镜与理想抛物面准直镜的偏差减小，使太阳模拟器输出光路的光轴方向一致性提高，从而可改善系统的辐照均匀度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119595249A
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202411729006.2
申请日：2024-11-28
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明公开了一种全波段光学特性测量系统。包括：发射装置，包括激光发射单元和可见光发射单元；准直光学装置，包括沿光的传播方向依次设置的积分器和第一准直镜；探测装置，包括探测器、第一镜头和多个衰减片轮；探测器适用于可见光波段和预设范围的激光波段；第一镜头设置在探测器的前端；每个衰减片轮同轴设置在第一镜头的前端；每个衰减片轮上均设置有多个沿其周向均匀分布的圆形卡位，每个卡位分别用于固定不同衰减倍数的衰减片；测量时，根据探测光束的强度，确定满足要求的目标衰减片，以使目标衰减片的轴线与第一镜头的轴线重合，利用第一镜头和探测器测量被测物体的光学特性。本申请能够测量全波段光学特性，测量效率高。
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公开(公告)号：CN119555126A
公开(公告)日：2025-03-04
申请号：CN202411701627.X
申请日：2024-11-26
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明公开了一种常温常压环境下全波段光学测试背景模拟系统。包括：探测装置、背景反射面、移动装置、随动装置和黑色背景板；所述探测装置设置在所述移动装置上，所述背景反射面设置在所述随动装置上，所述移动装置和所述随动装置分别位于被测物体的两侧，并可同步地绕所述被测物体旋转；所述黑色背景板悬吊于所述被测物体的正上方；当对所述被测物体进行全波段辐射特性测试时，通过调整所述背景反射面与水平面的夹角，使所述黑色背景板充满所述探测装置的视场，以为所述被测物体提供黑色背景。本申请，不仅节约场地，还能够提高测量效率。
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公开(公告)号：CN117470376A
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN202311530766.6
申请日：2023-11-16
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种快速成像光谱测量系统及方法，测量系统包括成像物镜、微透镜面阵列、光纤束、光纤支架、透镜线阵列、柱面透镜线阵列、干涉光谱仪和数据处理系统。成像物镜对目标进行成像，微透镜面阵列将一次像面分割为N个子像面，透镜线阵列和柱面透镜线阵列对光纤线阵列的输出光线整形，并输出至干涉光谱仪得到相应干涉信息，每个柱面透镜线阵列对应一个干涉光谱仪，多个干涉光谱仪同时对相对应柱面透镜线阵列的输出光进行处理得到所有光纤的干涉信息，通过数据处理系统处理得到目标完整的光谱数据立方体。该系统利用光纤束与透镜阵列将像面拆分，将高维数据转换为低维数据，实现一次短曝光获得大信息量的数据立方体，提高成像光谱测量速度。
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公开(公告)号：CN113701883B
公开(公告)日：2023-09-22
申请号：CN202111027917.7
申请日：2021-09-02
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明提供了一种变距离空间目标光谱特性模拟测量系统及方法，其中系统包括：目标转台、光学照明系统、光谱探测系统和控制系统；目标转台，用于承载待测空间目标，空间目标为空间实体目标的缩比模型；光学照明系统，用于输出模拟空间内太阳光照的可见光，以使输出的可见光对空间目标进行照射；光谱探测系统，包括光谱探测设备和位置调整机构；位置调整机构与控制系统相连，用于在控制系统的控制下调整光谱探测设备与空间目标之间的距离；光谱探测设备用于测量不同距离下空间目标的光谱特性。本方案，能够充分模拟出实际情况下对空间实体目标的测量过程，得到的测量结果更加准确。
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公开(公告)号：CN111309054B
公开(公告)日：2023-09-22
申请号：CN202010145576.2
申请日：2020-03-05
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G05D3/10
Abstract: 本发明涉及一种发散角可调的太阳模拟器及其设计方法，包括外壳、光源、积分器、反射镜、准直镜和调距部件，外壳固连在屋顶，光源采用氙灯，积分器输出镜片数量介于六十个之内，光源和积分器架设在调距部件上，调距部件架设在外壳内，反射镜架设在外壳远离光源一侧，调距部件驱动光源和积分器靠近或远离反射镜，准直镜架设在反射镜一侧，本发明具有通过调整太阳模拟器的光照发散角，实现太阳模拟器辐照区域调整的优点。
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