大尺度金属构件偏析度分析仪及分析方法

    公开(公告)号:CN111157460A

    公开(公告)日:2020-05-15

    申请号:CN201911374898.8

    申请日:2019-12-27

    Abstract: 本发明属于偏析分析技术领域,特别涉及一种大尺度金属构件偏析度分析仪及分析方法。分析仪包括高精密三维数控工作台、样品表面加工模块、偏析度分析模块和结果表征模块;高精密三维数控工作台包括在水平X轴和Y轴方向精密移动用于固定待测样品的水平样品台,以及相互平行且垂直于X轴Y轴平面的Z轴和W轴;样品表面加工模块和偏析度分析模块能够上下移动地分别安装在高精密三维数控工作台的Z轴和W轴上,位于水平样品台上的待测样品的上方;样品表面加工模块包括用于在待测样品表面进行表面加工的刀具;偏析度分析模块包括激发光源和用于对待测样品表面进行分析的光谱仪;刀具的中心与所述光谱仪的火花台之间的间距一定距离。

    基于显微照相矩阵的跨尺度夹杂物快速分析仪器及方法

    公开(公告)号:CN109470698B

    公开(公告)日:2020-02-14

    申请号:CN201811131502.2

    申请日:2018-09-27

    Abstract: 本发明涉及一种基于显微照相矩阵的跨尺度全自动夹杂物快速分析仪器及方法。该分析仪器包括显微照相矩阵系统、高精密三维数控工作台、计算工作群以及控制和数据处理系统;待测样品为大尺寸金属构件,显微照相矩阵系统可上下移动地固定在高精密三维数控工作台的Z轴上,计算工作群通过控制和数据处理系统控制高精密三维数控工作台的位移,逐步移动待测样品的位置,使得显微照相矩阵系统遍历所有待测样品的待测表面,实现对待测样品的全尺度显微照相,进行夹杂物搜索、面积计算、定位、形貌分级放大以及统计分布分析。本发明将显微照相矩阵和高速运算相结合,样品扫描尺寸大、精度高、速度快,显著提高大尺度样品夹杂物分析效率。

    基于显微照相矩阵的跨尺度夹杂物快速分析仪器及方法

    公开(公告)号:CN109470698A

    公开(公告)日:2019-03-15

    申请号:CN201811131502.2

    申请日:2018-09-27

    Abstract: 本发明涉及一种基于显微照相矩阵的跨尺度全自动夹杂物快速分析仪器及方法。该分析仪器包括显微照相矩阵系统、高精密三维数控工作台、计算工作群以及控制和数据处理系统;待测样品为大尺寸金属构件,显微照相矩阵系统可上下移动地固定在高精密三维数控工作台的Z轴上,计算工作群通过控制和数据处理系统控制高精密三维数控工作台的位移,逐步移动待测样品的位置,使得显微照相矩阵系统遍历所有待测样品的待测表面,实现对待测样品的全尺度显微照相,进行夹杂物搜索、面积计算、定位、形貌分级放大以及统计分布分析。本发明将显微照相矩阵和高速运算相结合,样品扫描尺寸大、精度高、速度快,显著提高大尺度样品夹杂物分析效率。

    直读光谱仪分析用丝状样品夹具

    公开(公告)号:CN212207075U

    公开(公告)日:2020-12-22

    申请号:CN202020236664.9

    申请日:2020-03-02

    Abstract: 本实用新型属于光谱分析技术领域,为直读光谱仪分析用丝状样品夹具装置,它包括压帽(1)、连接杆(2)、夹具外套(4)、夹具中套(5)和夹具内套(7);其中夹具外套(4)通过螺纹可拆卸地固定在连接杆(2)外表面,连接杆(2)依次穿过弹簧(3)、夹具外套(4)与夹具中套(5),在连接杆(2)下端用螺钉(6)固定,夹具内套(7)放置于夹具中套(5)内,夹具内套(7)的开口端设置有容纳丝状样品的凹槽(11)。本实用新型适用于截面长度和宽度≤5mm的规则或不规则的丝状样品的直读光谱仪分析,可适用于不同直径的样品激发台激发孔,具有样品定位功能和固定功能,结构简单,容易操作。

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