目标彩色对比度测试装置及测试方法

    公开(公告)号:CN104568156B

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201510001605.7

    申请日:2015-01-04

    Abstract: 本发明提出一种目标彩色对比度测试装置及测试方法,装置由光学成像系统、RGB滤光系统、面阵CCD采集系统、计算机测量与处理系统以及光学平台组成;光学成像系统对准目标及背景,目标及背景或者仅是背景发射的光信号经过光学成像系统后,再经过RGB滤光系统分光,最后在面阵CCD采集系统上成像;面阵CCD采集系统的输出信号送入计算机测量与处理系统。本发明采用CIE1964?UCS标准色度理论评价系统,对明度指数W*和色品指数U*、V*等颜色的三属性综合计算,同时考虑到目标的亮度和色度两个方面的影响,更为全面评价客观的评价目标彩色对比度,解决了可见光隐身目标彩色对比度测量的难题。

    飞焦级纳秒脉冲激光能量探测装置

    公开(公告)号:CN103471726B

    公开(公告)日:2015-11-18

    申请号:CN201310382954.9

    申请日:2013-08-28

    Abstract: 本发明公开了一种飞焦级纳秒脉冲激光能量探测装置,属于光学计量技术领域。该装置包括会聚镜组件、探测器、驱动电路和放大组件;会聚镜组件将飞焦级纳秒脉冲激光光源发出的平行光束会聚到探测器的光敏面上;探测器选用银氧铯光电阴极的PMT探测器,驱动电路通过合适的高压输出、匹配设计的分压网络和滤波网络使探测器具有高灵敏度和低暗电流的输出;放大组件的带宽大于200MHz,同时还可对探测器的输出进行64倍、512倍或4096倍的放大,以满足后续应用装置的采集要求。本发明解决了飞焦级纳秒脉冲激光的探测问题,同时实现了超高速微弱脉冲信号的放大输出。

    太赫兹探测器参数测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN104729691A

    公开(公告)日:2015-06-24

    申请号:CN201510133838.2

    申请日:2015-03-25

    Abstract: 本发明提出一种太赫兹探测器参数测量装置及测量方法,用于测量各种太赫兹探测器的响应度等参数。本发明采用具有绝对响应度的标准太赫兹探测器和待测太赫兹探测器比对测量的方法:参考太赫兹辐射源的太赫兹辐射,与液氮制冷黑体的背景辐射,被斩光片调制成周期性变化的太赫兹辐射信号,在一个周期内交替入射到光学系统,最终入射到标准太赫兹探测器或待测太赫兹探测器上,转换为周期性变化的电压信号,再经过锁相放大器处理得到测量电压信号;根据由标准太赫兹探测器的绝对响应度值计算得到待测太赫兹探测器的响应度、噪声等效功率等参数。本发明装置放置在液氮制冷的低温真空背景通道中,大大降低了背景噪声对太赫兹探测器参数准确测量的影响。

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