一种粉末装管法制备Nb3Sn超导线材的方法

    公开(公告)号:CN117292886A

    公开(公告)日:2023-12-26

    申请号:CN202311566484.1

    申请日:2023-11-23

    IPC分类号: H01B12/00 B21C37/04

    摘要: 本发明属于超导材料技术领域,公开了一种粉末装管法制备Nb3Sn超导线材的方法。从外到内依次为Cu层、X层、Cu层、Y层的金属管,向所述金属管中装入含有Sn的金属粉末,拉拔形成亚组元;将多个所述亚组元装入无氧铜管中,拉拔后进行热处理制得Nb3Sn超导线材;所述X为Nb或Ta,所述Y为Nb或Nb合金。本发明设计了特定金属分布的装管结构,结合线材加工过程变形,利用外层阻隔层均匀变形特性,促使内部Nb基体与Sn原子在热处理过程中充分反应,有效提高线材临界电流密度和剩余电阻比。

    一种超细NbTi丝的制备方法
    32.
    发明授权

    公开(公告)号:CN116580894B

    公开(公告)日:2023-10-13

    申请号:CN202310856133.8

    申请日:2023-07-13

    IPC分类号: H01B12/04 H01B12/12

    摘要: 本发明属于超导材料制备技术领域,公开了一种超细NbTi丝的制备方法。该方法包括以下步骤:S1:在NbTi棒材表面包覆Cu箔,然后将所述NbTi棒材的两端塞入硅胶堵头;S2:进行冷连轧,获得NbTi/Cu线材,然后进行归圆;S3:进行拉拔同时进行走线加热,获得NbTi/Cu丝材,采用腐蚀液去除表面的Cu,获得NbTi丝;S4:将所述NbTi丝进行小加工率成型拉拔,所述小加工率成型拉拔过程中添加石墨润滑液,清洗后进行涂漆绝缘,获得所述超细NbTi丝。本发明选取NbTi棒材为原材料,采取铜箔包覆,利用冷连轧、热拉拔、涂漆等技术,成功制备出适用于量子计算机的超细NbTi超导丝。

    一种提高Nb3Sn芯丝均匀性的线材制备方法

    公开(公告)号:CN116786622A

    公开(公告)日:2023-09-22

    申请号:CN202311082894.9

    申请日:2023-08-28

    IPC分类号: B21C37/04

    摘要: 本发明公开了一种提高Nb3Sn芯丝均匀性的线材制备方法,以无氧铜锭横截面中心为圆心,将无氧铜锭横截面分为若干面积不等的同心圆环,每圆环区域钻均匀分布且大小相等的通孔,不同区域通孔大小不同,由内向外通孔直径由大变小,通孔层间距由内向外逐渐减小。通过多孔铜锭中孔的分布,将均匀分布的通孔改变为沿半径方向由内向外直径逐渐减小的通孔,由此增加了亚组元拉拔成型后Nb芯丝的均匀性,保证了后续长线加工能力及线材性能的稳定;放大了内层芯丝之间的层间距,缩小了外层芯丝之间的层间距,增加了通孔数量,提高了线材Nb/Sn比,提高线材临界电流密度;减少了热处理过程中芯丝的搭接,使线材磁滞损耗水平显著降低。

    一种降低WIC超导线材结合力的方法

    公开(公告)号:CN116665986A

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202310919357.9

    申请日:2023-07-26

    IPC分类号: H01B12/10

    摘要: 本发明属于超导材料加工技术领域,公开了一种降低WIC超导线材结合力的方法,该方法包括获取待加工件;准备至少3块镶嵌后宽边和窄边尺寸均比镶嵌焊接工艺要求尺寸大5~15μm的镶嵌模具,将待加工件先浸入锡槽,然后进行镶嵌焊接,镶嵌模具分别镶嵌焊接50m样品,获得镶嵌样品,根据镶嵌样品的铜槽线对圆线的包覆角度大小,确定第二镶嵌模具;将待加工件先浸入锡槽,然后进行镶嵌焊接和冷加工,进行50m镶嵌焊接,镶嵌焊接和冷加工两步成型,获得样品B。由于镶嵌样品冷却后铜槽线变硬,再过冷加工模具时,力基本无法传送至铜槽线内壁,铜槽线包覆到圆线上的角度仍较小,从而达到减小WIC超导线材结合力的目的。

    一种导线绝缘层缺陷检测设备及方法

    公开(公告)号:CN116449165A

    公开(公告)日:2023-07-18

    申请号:CN202310701203.2

    申请日:2023-06-14

    IPC分类号: G01R31/12 G01R1/04 G01N27/00

    摘要: 本申请公开了一种导线绝缘层缺陷检测设备及方法,缺陷检测设备包括:第一探头,用于与待检测对象的导电结构电连接;第二探头,用于与待检测对象的绝缘层接触;控制模块,与第一探头和第二探头分别电连接,控制模块向第二探头施加检测电压,并采集第一探头的实时电压,当实时电压达到设定的电压阈值时,确定绝缘层与第二探头接触的位置为缺陷点。本申请将第一探头与导电结构连接,第二探头与绝缘层连接,对第二探头施加电压后当两个探头之间形成导电回路时,表明当前绝缘层与第二探头连接的位置为绝缘层上的缺陷点,采用这种检测方法能够自动检测绝缘层的缺陷点,不仅能够防止缺陷漏检,还能减少操作人员的工作量,减少人工成本。