公开(公告)号：CN103988095B

公开(公告)日：2018-04-06

申请号：CN201280059842.3

申请日：2012-11-23

Applicant: 皇家飞利浦有限公司

Inventor： C·R·龙达 ,  R·普罗克绍 ,  A·特伦

IPC: G01T1/202 ,  G01T1/20

CPC classification number: G01T1/2002 ,  G01N23/04 ,  G01T1/2006 ,  G01T1/2018 ,  G01T1/202

Abstract: 本发明涉及一种用于探测辐射的探测装置。所述探测装置包括：GOS材料(20)，其用于根据探测到的辐射(25)来生成闪烁光；光学滤波器(24)，其用于降低闪烁光的具有大于650nm波长的一部分的强度；以及，探测单元(21)，其用于探测经滤波的闪烁光。由于滤波过程，闪烁光的相对较慢的分量，即，对应于相对较大的衰减时间的分量，对探测过程贡献微弱或根本不被探测单元探测到，从而提高探测装置的时间分辨率。得到的快速探测装置能够适合于kVp切换计算机断层摄影系统。

公开(公告)号：CN107072620A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201580062900.1

申请日：2015-11-11

Applicant: 皇家飞利浦有限公司

Inventor： B·J·布伦德尔 ,  R·普罗克绍 ,  T·克勒 ,  E·勒斯尔 ,  H·德尔 ,  M·格拉斯 ,  A·特伦

IPC: A61B6/00 ,  A61B6/03 ,  A61B6/06

CPC classification number: A61B6/06 ,  A61B6/032 ,  A61B6/035 ,  A61B6/0407 ,  A61B6/4241

Abstract: 一种成像系统包括辐射源(108)，所述辐射源被配置为关于检查区域(106)旋转并且发射穿过所述检查区域的辐射。所述成像系统还包括辐射敏感像素(112)的阵列，其被配置为探测穿过所述检查区域的辐射并输出指示探测到的辐射的信号。辐射敏感像素的阵列被设置为跨检查区域与辐射源相对。所述成像系统还包括刚性通量滤波器设备(130)，所述刚性通量滤波器设备被设置在所述辐射源与光子计数像素的辐射敏感探测器阵列之间的检查区域中。所述刚性通量滤波器设备被配置为对穿过所述检查区域并且入射在所述刚性通量滤波器设备上的辐射进行滤波。离开所述刚性通量滤波器设备的辐射具有预定通量。

公开(公告)号：CN106255901A

公开(公告)日：2016-12-21

申请号：CN201580022548.9

申请日：2015-04-21

Applicant: 皇家飞利浦有限公司

Inventor： A·特伦

IPC: G01T7/00

CPC classification number: G01T7/005 ,  G01T1/244

Abstract: 本发明公开了一种用于校准光子计数探测器(3)的方法。吸收滤波器(7)被横向地移动通过朝向探测器(3)发射的光子射束(8)，以将吸收滤波器(7)的非均匀性的影响平均化。本发明也涉及吸收滤波器组件以及包括这样的吸收滤波器组件的成像设备(1)。

公开(公告)号：CN106133792A

公开(公告)日：2016-11-16

申请号：CN201580016292.0

申请日：2015-03-18

Applicant: 皇家飞利浦有限公司

Inventor： T·克勒 ,  A·特伦 ,  F·贝格纳 ,  B·J·布伦德尔 ,  R·D·比普斯

IPC: G06T11/00

CPC classification number: G06T11/006 ,  G06T2211/408 ,  G06T2211/424

Abstract: 本发明涉及一种用于生成目标的图像的图像生成装置(1)。重建单元(10)基于所提供的测量投影值重建所述图像，使得由成本函数定义的成本被减小，其中，所述成本函数依赖于通过模拟经过所述图像的正向投影而已经确定的计算投影值与所提供的测量投影值之间的差，并且其中，所述成本函数对相应差的依赖程度依赖于所述相应差。这能够允许考虑在重建过程期间运动和/或对目标的不完全照射对所述测量投影值的干扰程度，所述考虑能够得到具有经改进的图像质量的图像重建。

公开(公告)号：CN104136938A

公开(公告)日：2014-11-05

申请号：CN201380010974.1

申请日：2013-02-20

Applicant: 皇家飞利浦有限公司

Inventor： D·舍费尔 ,  A·特伦 ,  T·克勒

IPC: G01T1/29

CPC classification number: A61B6/5205 ,  A61B5/0075 ,  A61B6/42 ,  G01T1/2008 ,  G01T1/2985

Abstract: 一种成像系统包括：辐射源(106)，其发射贯穿检查区域和其中的对象的部分的辐射；以及探测器阵列(114)，其探测贯穿所述检查区域和其中的所述对象的所述部分的辐射且生成指示所述辐射的信号。体积扫描参数推荐器(120)基于由所述辐射源和所述探测器阵列采集的第一2D投影和第二2D投影的谱分解来推荐针对所述对象的所述部分的体积扫描的至少一个谱扫描参数值。所述第一2D投影和所述第二2D投影具有不同的谱特性。控制台(122)采用所推荐的至少一个谱扫描参数值以执行所述对象的所述部分的所述体积扫描。