偏振片的检查方法和偏振片的制造方法

    公开(公告)号:CN106990470A

    公开(公告)日:2017-07-28

    申请号:CN201610873657.8

    申请日:2016-09-30

    CPC classification number: G02B5/30

    Abstract: 本发明提供一种偏振片的检查方法和偏振片的制造方法。该偏振片的检查方法在制造能够实现电子器件的多功能化以及高功能化、且品质没有偏差的偏振片之际精度良好地检查该偏振片。本发明的检查方法包括向具有非偏振部(2)的偏振片(1)的包含非偏振部(2)在内的范围照射光、并对偏振片(1)的透射光像进行拍摄的工序。在此,透射光像中的非偏振部(2)与其他部位的对比度比(非偏振部/其他部位)是1.5以上。

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