核电仪控设备的使用寿命评估方法、装置、介质和电子设备

    公开(公告)号:CN119963160A

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202510039706.7

    申请日:2025-01-10

    Abstract: 本申请公开了一种核电仪控设备的使用寿命评估方法、装置、介质和电子设备。该方法包括:在组成核电仪控设备的电路板件中确定待评估的目标电路板件,并确定目标电路板件的预期使用寿命;基于目标电路板件的工作环境数据和历史故障数据,分别确定影响预期使用寿命的环境影响因子和共模失效因子;采用环境影响因子和/或共模失效因子,对预期使用寿命进行修正得到目标电路板件的修正使用寿命;基于修正使用寿命和目标电路板件的电气元件参数,对核电仪控设备的使用寿命进行评估。执行本申请可以实现对核电仪控设备的使用寿命进行评估,参考核电仪控设备的使用寿命对核电仪控设备进行预防性维修,可以提高核电站的运维经济性和运行安全性。

    FPGA的测试系统、方法和电子设备
    38.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117687898A

    公开(公告)日:2024-03-12

    申请号:CN202311478003.1

    申请日:2023-11-07

    Abstract: 本发明公开了一种FPGA的测试系统、方法和电子设备。测试系统先对FPGA芯片的配置信息进行检测,将按照获取的配置信息自动生成的预期配置文本与FPGA芯片的配置信息生成的开发配置文本比较,检测出开发配置文本的错误;再检测FPGA芯片的代码和逻辑功能,将检测无误或者修改后的开发配置文本下装至存储设备,并利用系统平台组件库自动化生成模型,根据输入的参数和自动化生成激励工具自动生成测试激励,通过对应的数据接口将测试激励分别输入到仿真模型与FPGA芯片中,从而大大缩短了测试需要的时间,提升了测试工作的效率并降低了人为错误率,克服了测试执行者在执行测试必须要精通底层语法及编译环境配置等痛点。

    一种卡件测试方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117471217A

    公开(公告)日:2024-01-30

    申请号:CN202311446048.0

    申请日:2023-11-01

    Abstract: 本申请公开了一种卡件测试方法、装置、设备及存储介质,涉及电气自动化技术领域。该方法包括:在待测对象设备接收到目标卡件的情况下,采集目标卡件的状态信息,并将状态信息反馈至测试操作终端,以使测试操作终端根据状态信息,确定与状态信息对应的测试指令,并将测试指令发送至自动化测试设备;目标卡件插至待测对象设备;根据测试指令,对目标卡件进行测试,得到测试结果,并将测试结果反馈至测试操作终端。上述技术方案,通过待测对象设备获取目标卡件信息,并由测试操作终端生成测试指令,自动化测试设备进行测试,实现了卡件的自动化测试的同时,有助于提高测试效率。

    汽轮机低压缸阀门测试系统和测试方法

    公开(公告)号:CN117054076A

    公开(公告)日:2023-11-14

    申请号:CN202310987262.0

    申请日:2023-08-07

    Abstract: 本发明公开了一种汽轮机低压缸阀门测试系统和基于该测试系统的测试方法,所述汽轮机低压缸阀门测试系统包括测试模块、调节阀和切换模块,所述测试模块与所述调节阀相连,通过测试模块和切换模块的设置达到控制所述阀门的动作速率,所述测试模块具有第一状态和第二状态,在所述第一状态,所述调节阀的关闭速率大于设定阈值以适于适应汽轮机组的纯凝工况,在所述第二状态,所述调节阀的关闭速率小于设定阈值以适于适应汽轮机组的供热工况;所述切换模块与所述测试模块相连,所述切换模块适于当汽轮机组在纯凝工况和供热工况之间切换时调整所述测试模块。本发明实施例的汽轮机低压缸阀门测试系统具有检测效果较好的优点。

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