显示基板以及显示装置
    31.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108352138A

    公开(公告)日:2018-07-31

    申请号:CN201680061839.3

    申请日:2016-11-01

    摘要: 阵列基板11b包括:多个输入端子部28;第一层间绝缘膜19以及第一平坦化膜20,使第一层间绝缘膜端部19a以及第一平坦化膜端部20a配设于多个输入端子部28与显示区域AA之间;多个端子布线部29,配设于第一层间绝缘膜19以及第一平坦化膜20的上层侧而跨越第一层间绝缘膜端部19a以及第一平坦化膜端部20a并且与多个输入端子部28连接;第二平坦化膜22,其配设于多个端子布线部29的上层侧且第二平坦化膜端部22a配设于比第一层间绝缘膜端部19a以及第一平坦化膜端部20a靠输入端子部28侧;以及多个保护部30,配设于第二平坦化膜22的上层侧而分别覆盖多个端子布线部29中的与第二平坦化膜22非重叠的部分。

    显示装置
    34.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113287368B

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN201980088682.7

    申请日:2019-01-17

    IPC分类号: G09F9/00

    摘要: 包括;第一树脂层(8),在构成TFT层的至少一层的无机绝缘膜(17)中,以将沿着弯曲部(B)的延伸方向形成的狭缝(S)填埋的方式设置;以及多个第一引绕配线(18h),设置在第一树脂层平行地延伸,在第一树脂层(8)和各第一引绕配线(18h)之间,与第一树脂层(8)和各第一引绕配线(18h)接触,并且以与各第一引绕配线(18h)的至少一部分重叠的方式设置有第一保护层(7a)。(8)上,与弯曲部(B)的延伸方向正交的方向互相

    显示装置和显示装置的制造方法
    35.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115428059A

    公开(公告)日:2022-12-02

    申请号:CN202080099716.5

    申请日:2020-04-20

    IPC分类号: G09F9/30

    摘要: 本公开的显示装置具有:显示区域(2),其包含薄膜晶体管;边框区域(F),其包围上述显示区域;端子部(T),其设置于上述边框区域;树脂层(8),其设置在基材(7)的上方;无机绝缘层(9),其设置在上述树脂层之上,具有开口部(10);以及导电图案(11),其在上述开口部(10)的上侧的位置以外的位置设置在上述无机绝缘层(9)之上。

    显示装置及其制造方法
    36.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115398514A

    公开(公告)日:2022-11-25

    申请号:CN202080099144.0

    申请日:2020-04-09

    IPC分类号: G09F9/30

    摘要: 在显示区域内设置有非显示区域(N),在非显示区域(N)中设置有贯通孔(H),在非显示区域(N)中以包围贯通孔(H)的方式设置有多个内侧凸部(C),各内侧凸部(C)的下层树脂层(8a)被形成于树脂基板层(10)的多个内侧狭缝(Sa)分离,多条显示用布线(14g)的一部分被贯通孔(H)断开,最靠显示区域侧的内侧狭缝(Sa)的底部的第一非显示导电层(34b)以与被贯通孔(H)断开的显示用布线(14g)中的靠贯通孔(H)侧的一个端部以及靠贯通孔(H)侧的另一个端部重叠的方式设置。

    显示装置
    38.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112740309A

    公开(公告)日:2021-04-30

    申请号:CN201880097809.7

    申请日:2018-09-21

    IPC分类号: G09F9/30

    摘要: 由第一金属膜形成的第一金属层(14fa、14fb)沿着相邻的一对第三配线(18f、18g)呈岛状设置,使得与由相互平行地延伸由第一金属膜形成的多条第一配线(14d、14e)中的相邻的一对第一配线(14d、14e),以及在与各第一配线(14d、14e)交叉的方向上相互平行地延伸的多条第三配线(18f、18g)中的相邻的一对第三配线(18f、18g)包围的区域重叠。

    有源矩阵基板的制造方法及有源矩阵基板

    公开(公告)号:CN112655038A

    公开(公告)日:2021-04-13

    申请号:CN201880097155.8

    申请日:2018-09-06

    IPC分类号: G09F9/00 G09F9/30

    摘要: 在有源矩阵基板的制造方法中,形成基底无机绝缘膜的工序包括:在基底无机绝缘膜上涂布抗蚀剂的工序;通过第一灰化处理,在抗蚀剂的表面形成凹凸面的灰化处理工序;以及接着灰化处理工序,通过进行第二灰化处理和基底无机绝缘膜的蚀刻处理,使基底无机绝缘膜的表面粗面化的粗面化工序。在形成半导体膜的工序中,半导体膜的至少一部分仿照基底无机绝缘膜的粗糙面,从而对表面进行粗面化。

    半导体装置及其制造方法
    40.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108496244B

    公开(公告)日:2021-04-13

    申请号:CN201780008343.4

    申请日:2017-01-16

    摘要: 半导体装置具备具有结晶质硅半导体层(13)的第1薄膜晶体管(101)和具有氧化物半导体层(23)的第2薄膜晶体管(102),第1薄膜晶体管(101)的第1源极电极(31)、第1漏极(33)隔着第1层间绝缘层(L1)设置在结晶质硅半导体层之上,第2薄膜晶体管(102)的第2源极电极(25S)电连接到与第1源极电极、第1漏极电极由同一导电膜形成的配线(35),配线(35)隔着第2层间绝缘层(L2)设置在第2源极电极(25S)之上,并且在包含形成于第2层间绝缘层(L2)的开口的第2接触孔内与第2源极电极(25S)接触,第2源极电极具有包含主层(25m)和配置在主层之上的上层(25u)的层叠结构,在第2层间绝缘层的开口的下方,上层(25u)具有第1开口部,主层(25m)具有第2开口部(p2)或凹部,当从基板的法线方向观看时,第2开口部(p2)或凹部比第1开口部(p1)大。