-
公开(公告)号:CN107991561B
公开(公告)日:2021-08-17
申请号:CN201711226436.2
申请日:2017-11-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置及方法;所述用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置包括底端开口的壳体;位于所述壳体底端的输出转接基座;位于所述壳体内且与所述输出转接基座结合固定的信号处理及调试功能通用底板;及位于所述壳体内且位于所述信号处理及调试功能通用底板上方的振荡及加热控温功能适配插板。所述老化性能测试方法包括将石英晶体谐振器插接在振荡及加热控温功能适配插板上;将振荡及加热控温功能适配插板插接在信号处理及调试功能通用底板上;将插装完成的老化性能测试装置装入老化测试系统中并加电调试;进行老化性能测试;卸载石英晶体谐振器。本发明解决了现有方法破坏产品形貌、产品适配性差等问题。
-
公开(公告)号:CN112787617A
公开(公告)日:2021-05-11
申请号:CN202011588805.4
申请日:2020-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H03H9/05
Abstract: 本申请实施例提供一种用于超小型表贴晶体振荡器的基座夹持承载夹具。该夹具可以对散料基座实现可靠紧固夹持及承载并形成适配的加工阵列,从而实现对其内部安装的集成电路芯片进行高效、良好的批量自动引线键合加工。键合工程中,基座可良好的固定在该载盘上,无脱位现象,焊盘定位精度高误差小,批量自动加工速度快,键合加工合格率和效率高。解决了原有技术存在的散料基座安装的芯片只能采用手工拾取、单只逐个进行引线键合加工的方式,从而导致的工艺稳定性和重复性较差,芯片键合质量一致性较差,键合强度散差较大,合格率较低等问题。
-
公开(公告)号:CN112698172A
公开(公告)日:2021-04-23
申请号:CN202011359773.0
申请日:2020-11-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开一种电老炼实现装置和方法,解决现有装置和方法对产品进行间歇式电信号激励及电老炼批量不足的问题。一种电老炼实现装置,用于分立式晶体滤波器,包含:晶振加电模块和滤波器测试模块;所述晶振加电模块,用于产生与待测分立式晶体滤波器中心频率相同的正弦波激励信号;所述滤波器测试模块,用于接收所述正弦波激励信号,输出滤波信号,所述滤波信号用于高温电老炼测试。所述方法使用所述装置。本发明可实现分立式晶体滤波器批量化高温电老炼测试。
-
公开(公告)号:CN109647783A
公开(公告)日:2019-04-19
申请号:CN201811589934.8
申请日:2018-12-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种石英晶片的清洗方法和自动清洗装置。清洗方法包括:将待清洗的所述晶片置于NPB清洗液、预热后恒温的Micro-90清洗液、去离子水、预热后恒温的双氧水、去离子水、预热后恒温的无水乙醇中分别进行第一次超声清洗、第二次超声清洗、第一次溢流、浸泡腐蚀、第二次溢流、脱水。所述自动清洗装置包括至少6个可隔离清洗槽,夹具,连接部件,夹持部件,控制系统,所述夹持部件通过所述连接部件与所述夹具可拆卸固定连接,所述夹持部件游离在所述清洗槽外部,用于带动所述夹具浸入或移出所述每个清洗槽。本申请可实现对所述晶片进行多水段洗液自动清洗,且对每个清洗步骤的时长和温度参数实现精准控制。
-
公开(公告)号:CN109596922A
公开(公告)日:2019-04-09
申请号:CN201811579015.2
申请日:2018-12-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请公开了一种晶体元器件用恒定加速度的装置及其使用方法,其恒定加速度的装置的承载板的中心处有通孔式的转轴孔;承载板上有工位孔,第一工位孔包括上部的第一上孔和下部的第一下孔,第一上孔和第一下孔均为矩形孔,第二工位孔包括上部的第二上孔和下部的第二下孔,第二上孔和第二下孔均为圆形孔,第二上孔的直径大于第二下孔的直径;第三工位孔包括外侧的第三外孔和内侧的第三内孔,第三外孔和第三外孔均为矩形孔,第三外孔和第三外孔在承载板径向上的下侧侧面重合,第三外孔和第三内孔连通连接,承载板的上面设置有盖板,其能将多种晶体元器件放置在一个承载装置内进行恒定加速度实验,从而提高恒定加速度实验的效率。
-
公开(公告)号:CN208937654U
公开(公告)日:2019-06-04
申请号:CN201821432273.3
申请日:2018-08-31
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请公开了一种表贴元器件测试载盘,解决了现有技术容易划伤和污染元器件引脚、容易损伤元器件导致工作效率低和搬运不方便的问题,具有能够保护表贴元器件不被污染和损伤、提高工作效率、可固定多个叠放的载盘、方便搬运的优点。所述表贴元器件测试载盘为矩形的板状结构,底面设有至少一个置槽,所述置槽内部设有用于放置表贴元器件的凸台。限位槽的底面与凸台上表面之间的高度差大于所述表贴元器件的厚度。
-
-
-
-
-