-
公开(公告)号：CN106026722B
公开(公告)日：2018-03-27
申请号：CN201610493679.1
申请日：2016-06-28
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网公司
IPC: H02M7/25 , G06K19/077
CPC classification number: G06K19/077 , H02M7/25
Abstract: 本发明涉及一种整流电路和具有该整流电路的特高频标签，包括多级电荷泵，所述整流电路包括：高电压输出端，所述高电压输出端为所述多级电荷泵中第一预定级数的电荷泵的输出端；以及低电压输出端，所述低电压输出端为所述多级电荷泵中第二预定级数的电荷泵的输出端。本发明充分利用了电荷泵级数越少效率越高的特性，调整整流器的输出电压节点以提供高电压输出端和低电压输出端，该高电压输出端和低电压输出端可以分别用于给不同的模块供电，实现了提高整流电路效率的效果。
-
公开(公告)号：CN107644003A
公开(公告)日：2018-01-30
申请号：CN201710905589.3
申请日：2017-09-29
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网公司
IPC: G06F15/78
Abstract: 本发明涉及一种主控芯片的运算协处理模块，包括：模数转换电路、运算模块以及控制器；所述模数转换电路与传感器相连接，用于采集所述传感器的信号，将采集后的信号进行模数转换，并发送所述转换后的数据；所述运算模块分别与所述模数转换电路以及所述控制器相连接，所述运算模块用于在接收到的待运算的数据之后，对所述接收的待运算的数据进行预设的运算，并将运算后的数据发送给控制器；所述控制器用于将接收到的数据写入主控芯片的存储器中。本发明提供的主控芯片的运算协处理模块，可以极大提高运算效率并且节约成本。
-
公开(公告)号：CN106934506A
公开(公告)日：2017-07-07
申请号：CN201511017283.1
申请日：2015-12-29
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网公司
CPC classification number: Y02P90/30 , G06Q10/0633 , G06Q50/04
Abstract: 本发明公开了一种芯片研发系统及方法，其中，该系统包括：项目创建模块，用于创建芯片研发项目并分配参与人员，确定项目信息和参与人员的用户信息；权限模块，用于根据用户信息分别为参与人员分配相应的用户权限；产品型号选择模块，用于确定芯片研发项目的所有产品选型，并获取相应的产品信息、分配产品编号；产品发布模块，用于获取第一参与人员根据产品信息开发的产品程序；测试模块，用于获取第二参与人员对产品和产品程序进行的测试结果，并记录测试结果；导出模块，用于在测试结果为测试通过时，生成并导出生产文档。该系统进行统一管理，集中控制，提高项目管控能力，提高研发管理的效率。
-
公开(公告)号：CN106921975A
公开(公告)日：2017-07-04
申请号：CN201511001341.1
申请日：2015-12-28
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网公司 , 北京邮电大学
Abstract: 本发明公开了一种基于230M无线通信专网的中继传输方法和装置，其中，该方法包括：步骤A：源节点接收待传输电网数据，判断所述待传输电网数据是否为高优先级数据；步骤B：当所述待传输电网数据为高优先级数据时，通过电力专网频段的直传链路将所述高优先级数据传输到目的节点；步骤C：当所述待传输电网数据为非高优先级数据时，根据预设的方法确定中继传输链路，通过所述中继传输链路将所述非高优先级数据传输到目的节点。本发明在保证不干扰主用户正常通信的前提下，充分利用了230MHz特殊行业专业频道的频谱资源，避免大量的频谱资源浪费。而且采用随机退避重传，大大降低反馈信息冲突的概率，降低了端到端时延，提升了系统可靠性。
-
公开(公告)号：CN106920023A
公开(公告)日：2017-07-04
申请号：CN201511001320.X
申请日：2015-12-28
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网公司
IPC: G06Q10/06
CPC classification number: G06Q10/0631 , G06Q10/06313
Abstract: 本发明公开了一种芯片生产发行管理方法和系统，其中，该方法包括：接收登录用户从外部来源导入的生产不同芯片所需的清单文件和程序动态库文件，并存储到数据库中，所需清单文件包括芯片的发行参数；接收用户输入的生产不同芯片所需设备的配置信息，生成生产设备配置信息并存储到数据库中；根据用户输入的芯片编号，从数据库中获取该编号芯片对应的发行参数、发行动态库文件、生产设备配置信息；向生产发行设备发出启动指令，指示所述生产发行设备根据所述对应的发行参数、发行动态库文件、生产设备配置信息进行生产发行操作。本发明的芯片生产发行管理方法和系统，简化了芯片生产发行环节的管理流程，提高了芯片生产发行管理的工作效率。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106252339A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201610653380.8
申请日：2016-08-11
Applicant: 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网公司
IPC: H01L25/10
CPC classification number: H01L2224/16225 , H01L25/105
Abstract: 本发明涉及一种高密度射频多芯片封装结构，包括：基片(1)、基片(2)、基片(3)、壳体(4)、芯片(5)、芯片(6)、芯片(7)、芯片(8)，壳体(4)组装在基片(1)上并与基片(1)围成空间，基片(2)、基片(3)、芯片(5)、芯片(6)、芯片(7)、芯片(8)均设置于空间内；芯片(6)组装在基片(1)上；芯片连接；芯片(5)组装在壳体(4)上；芯片(7)组装在基片(3)上，并通过基片(3)与壳体(4)连接，能够将若干有源芯片和若干无源器件进行三维混合高密度集成。(8)组装在基片(2)上，并通过基片(2)与基片(1)
-
公开(公告)号：CN102611694B
公开(公告)日：2015-02-04
申请号：CN201210016649.3
申请日：2012-01-18
CPC classification number: G06Q10/06
Abstract: 本发明提出一种手持终端、系统及其处理电池信息的方法，该终端包括通讯模块、身份认证模块、存储模块和主控模块，此外，该终端还可包括人机交互模块，通过主控模块来控制上述各模块及各模块之间的连接和通讯；该系统包括上述手持终端和管理服务器；该处理方法包括：对外部电池进行身份认证；认证通过后，读取所述电池的电池信息，并对所述电池信息进行解密处理；对解密后的电池信息进行资产登记处理。本发明的手持终端、系统及其处理电池信息的方法具有高安全性、高效、高可靠性、操作方便快捷等优点。
-
公开(公告)号：CN108052838B
公开(公告)日：2021-12-07
申请号：CN201711183964.4
申请日：2017-11-23
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 武汉大学 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网公司 , 国网新疆电力公司检修公司 , 国网辽宁省电力有限公司
Abstract: 本发明公开了一种芯片加密设计的泄漏定位系统及方法，其用于加密芯片设计的泄漏定位。该泄漏定位系统包括：解析模块、分析模块以及反馈模块。解析模块通过解析RTL文件和网表文件，获得实际硬件电路的层次结构和运算单元信息。分析模块与解析模块电性连接，所述分析模块根据所述实际硬件电路的层次结构和运算单元信息分析出泄漏点精确位置，并计算出泄漏点定位成功率。反馈模块与解析模块和所述分析模块均电性连接，所述反馈模块将所述泄漏点精确位置与RTL文件和网表文件进行比对，在RTL文件和网表文件中标注出泄漏点。本发明的芯片加密设计的泄漏定位系统可以更加精确地定位泄漏点。
-
公开(公告)号：CN107132472B
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN201710372213.0
申请日：2017-05-23
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC: G01R31/307 , H01L21/311
Abstract: 本发明公开了一种用于分析深亚微米级SOI工艺芯片的腐蚀溶液及方法，其中，该方法包括：利用特性腐蚀溶液腐蚀掉待测芯片的器件层上的二氧化硅，特性腐蚀溶液包括：氢氟酸、二氧化硅刻蚀液、丙三醇和水；将腐蚀后的待测芯片用去离子水清洗后晾干；将晾干后的待测芯片放置于反性酸性染色溶液中进行染色处理，反性酸性染色溶液包括：氢氟酸、硝酸和冰醋酸；根据扫描电子显微镜采集的染色后的待测芯片的图像数据确定待测芯片的类型。该特性腐蚀溶液可以实现均匀腐蚀性，并且能有效的降低反应速度，保证成功率，且可以平整保留器件层；染色处理后的待测芯片非常平整，方便快速确定待测芯片的类型。
-
公开(公告)号：CN106782671B
公开(公告)日：2019-11-01
申请号：CN201611179122.7
申请日：2016-12-19
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网公司
IPC: G11C29/56
Abstract: 本发明实施例公开了一种安全芯片进入测试模式的方法和装置。涉及集成电路的信息安全技术领域，解决现有技术中安全芯片进入测试模式的方案安全性较低，可行性较差，因在划片槽内放置信号或部件所导致的安全芯片无法满足先进低节点工艺要求，安全芯片的性能下降的技术问题。其中，该方法包括：获取所述安全芯片的测试标志字；根据所述测试标志字和第一关键码确定进入测试模式进入阶段；在所述测试模式进入阶段中，将EFUSE存储阵列熔断为第二关键字码；根据所述EFUSE存储阵列的熔断值和所述第二关键字码确定是否进入所述安全芯片的测试模式。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
99
records
(took 0.077 seconds)
