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公开(公告)号:CN106949916A
公开(公告)日:2017-07-14
申请号:CN201710192711.7
申请日:2017-03-28
Applicant: 北京信息科技大学
CPC classification number: G01D5/35306 , G01B11/161 , G01B11/18 , G01K11/32
Abstract: 一种采用光纤端面腐蚀的温度和应变测试方法,包括:a)对光纤端面进行腐蚀处理;b)将腐蚀处理的光纤端面与切平面的光纤相对熔接;c)熔接至孔槽发生膨胀,在纤芯位置产生气泡;d)通过光谱仪对经过气泡传输光发生变化的光程进行观测,产生梳状谱曲线;e)应用所述梳状谱曲线进行传感测试;f)当干涉仪受到外界影响导致气泡结构发生改变,光程差发生变化,导致干涉梳状谱改变,干涉条纹产生移动;g)将气泡传感器和光纤光栅熔接在一起,可同时对温度以及应变进行测试。
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公开(公告)号:CN106802398A
公开(公告)日:2017-06-06
申请号:CN201710044091.2
申请日:2017-01-19
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01R33/12 , H02K11/22 , H02K11/215
CPC classification number: G01R33/1284
Abstract: 本发明公开了一种基于光纤光栅的转子位置检测装置,该装置采用反射式解调系统,包括宽谱光源、三端口环形器、信号解调仪和固定设置于转子转轴上的位置传感器转子,位置传感器转子包括能够产生正弦空间磁场的永磁体,检测装置还包括设置于定子上的用于检测正弦空间磁场的3个光纤光栅位置检测探头,光纤光栅位置检测探头包括磁致伸缩材料和光纤光栅,其中各个光纤光栅位置检测探头以互差120°电角度方式分布在转轴垂直的平面上的以转轴为圆心的圆周上。本发明能够快速高效的确定转子位置同时可以实现在恶劣环境中工作。
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公开(公告)号:CN106679583A
公开(公告)日:2017-05-17
申请号:CN201710044735.8
申请日:2017-01-19
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01B11/16
CPC classification number: G01B11/165
Abstract: 本发明公开了一种温度自补偿的光纤光栅应变传感器,该光纤光栅应变传感器包括基片、光纤光栅和保护套管,所述基片包括应变感应区和温度补偿区,所述应变感应区和温度补偿区的材质相同且上表面在同一水平面内且厚度不同;所述光纤光栅置于基片上,保护套管置于光纤光栅伸出基片的首末两端。该光栅应变传感器结构简单、易于安装,能够实现温度自补偿的应变测量。
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公开(公告)号:CN106483199A
公开(公告)日:2017-03-08
申请号:CN201610893735.0
申请日:2016-10-13
Applicant: 北京信息科技大学
CPC classification number: G01N29/14 , G01H9/004 , G01N29/24 , G01N2291/0289 , G01N2291/262
Abstract: 本发明提供了一种基于匹配布拉格光纤光栅的声发射信号检测系统,包括柔性声发射信号检测基底膜片;与所述柔性声发射基底膜片连接的布拉格光纤光栅,实现机械弹性波对激光信号的声光调制;连接所述布拉格光纤光栅与匹配布拉格光纤光栅的光耦合器,用于正向输入基准激光、反向传输传感激光;与所述光耦合器连接的LD激光光源,用于产生待调制的基准激光信号;与所述光耦合器连接的匹配布拉格光纤光栅,用于与传感激光进行光信号匹配检测;与所述匹配布拉格光纤光栅连接的光电探测器,实现匹配光信号的光电转换;与所述光电探测器连接的前置信号放大器,实现弱光信号的调理、放大。
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公开(公告)号:CN106405447A
公开(公告)日:2017-02-15
申请号:CN201610741697.7
申请日:2016-08-26
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01R33/032 , G01R33/00 , G01D5/353
CPC classification number: G01R33/032 , G01D5/35329 , G01D5/35387 , G01R33/0011
Abstract: 本发明提供了一种利用纤芯失配干涉结构测量磁场的方法,所述方法包括如下步骤:a)搭建纤芯错位熔接干涉结构,所述纤芯错位熔接干涉结构包括依次连接的泵浦源,波分复用器,增益光纤,第一单模光纤,第二单模光纤,第三单模光纤和光谱分析仪;b)对第一单模光纤,第二单模光纤和第三单模光纤进行光纤错位熔接;c)测量待测温控装置的外加磁场:将第一单模光纤、第二单模光纤和第三单模光纤与温控装置组合为一体,在外加磁场的条件下对传感器实现拉伸、弯曲、振动或挤压,引起纤芯失配干涉仪偏振态发生相应变化,利用下述公式,确定传感器所受到的磁场:Y=aX-b,其中X为磁场浓度,Y为变化波长,a,b为常数。
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公开(公告)号:CN106404740A
公开(公告)日:2017-02-15
申请号:CN201610887789.6
申请日:2016-10-11
Applicant: 北京信息科技大学
CPC classification number: G01N21/658 , G02B6/0208 , G02B6/032
Abstract: 本发明提供了基于线形腔内倍频及空芯光纤的拉曼光谱液体探测方法,该方法使用波长为915纳米或976纳米的连续激光器作为光源且采用环形激光谐振腔,进一步通过有源光纤和三硼酸锂倍频晶体获取窄线宽的532纳米激光并激发待测液体产生拉曼散射光,同时本发明液体探测方法具有纵模少、相干性好、结构紧凑、倍频效率高以及可靠性高等优点。
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公开(公告)号:CN105758434A
公开(公告)日:2016-07-13
申请号:CN201610131531.3
申请日:2016-03-09
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01D5/353
CPC classification number: G01D5/35341
Abstract: 本发明提供了一种基于线阵InGaAs扫描FBG反射谱的传感解调方法,该方法包括以下步骤:a)宽谱光源发出的光信号经光纤耦合器传输至FBG;b)所述光信号经FBG反射后将带有解调信息的反射谱光信号传输至线阵InGaAs光电探测器;c)反射谱光信号经过线阵InGaAs光电探测器处理后得到与线阵InGaAs光电探测器中像素点位置一一对应的反射谱光强信息;d)通过设置反射谱的光强阀值将反射谱光信号分成多段;e)对每段反射谱对应的像素点位置与光强数据进行高斯函数拟合分析,并通过最小二乘法判定最佳拟合参数,获取光强峰值对应的像素点位置;f)将光强峰值对应的像素点位置带入至像素点位置与波长的对应关系式中并得出该段反射谱的中心波长值。
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公开(公告)号:CN102539802A
公开(公告)日:2012-07-04
申请号:CN201110451276.8
申请日:2011-12-30
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01N35/10
Abstract: 本发明涉及一种微量移液探测系统及方法,其中系统包括:加样枪枪体;设置在所述加样枪枪体内的压力传感器,用于对所述加样枪枪体体内的气体压力状况进行实时监测,在所述加样枪枪体所在的多通道移液系统的吸液过程中获取所述加样枪枪体内的实时压强值;第一获取模块,用于在所述吸液过程中根据所述压力传感器获取到的实时压强值获取所述加样枪枪体内的监测结果;第一确定模块,用于根据所述监测结果与预设的多个压强曲线确定所述加样枪枪体所在的多通道移液系统所处的状态。本发明实施例提供的微量移液探测系统及方法,通过采用压力传感器实现对加样枪枪体内的压力液面探测和吸液过程监控,提高了加样过程的精度和灵敏性,从而避免了多通道移液系统的液体的交叉污染。
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公开(公告)号:CN119104024A
公开(公告)日:2024-12-10
申请号:CN202410921525.2
申请日:2024-07-10
Applicant: 北京信息科技大学 , 广州市南沙区北科光子感知技术研究院
Abstract: 本发明涉及光学系统设计技术领域,公开了一种模块化设计的折反射式自准直测角光学系统,包括系统光源、矫正镜组、分光镜、主次反射镜、光电探测器,所述系统光源发出光入射到矫正镜组,所述矫正镜组用于对光束进行准直,所述经过矫正镜组后的平行光经过分光镜的反射,所述光束通过主反射镜通光孔打到次反射镜上,经过次反射镜的反射作用发散至主反射镜反射镜面,再次出射为平行光至目标反射体。通过主镜和从次镜结构的光均为平行光,目标反射镜的回射光通过原路径打在分光镜上时,电探测器与分光镜之间的与光源路径上的矫正镜组完全相同的镜组后汇聚于光电探测器上成像,通过改变或者更换矫正镜组来满足不同的在轨角度变化监测需求。
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公开(公告)号:CN118329090A
公开(公告)日:2024-07-12
申请号:CN202410483299.4
申请日:2024-04-22
Abstract: 本发明涉及光纤光栅解调技术领域,提供了一种基于双边沿滤波的光纤光栅信号高速测量方法及系统,所述方法包括:在光纤光栅的第一端口输入第一预设波长的第一光信号,在光纤光栅的第二端口输入第二预设波长的第二光信号,并采集光纤光栅的第一端口输出的第一光强信号和第二端口输出的第二光强信号,基于所述第一光强信号和所述第二光强信号计算光纤光栅的特征参数,根据光纤光栅的特征参数曲线计算光纤光栅的中心波长。本发明在对光纤光栅的中心波长进行正式测量阶段不需要调节输入光纤光栅的光信号的波长,简化了测量流程,且测量结果的处理流程简单,无需处理大量的光谱数据,提高了测量速度。
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