一种基于飞秒激光直写倾斜啁啾光纤光栅传感器测试方法

    公开(公告)号:CN112729122B

    公开(公告)日:2022-09-27

    申请号:CN202011392586.2

    申请日:2020-12-02

    Abstract: 本发明提出基于飞秒激光直写倾斜啁啾光纤光栅位移传感器测试方法,使用coherent公司飞秒激光器,配合飞秒刻写平台,通过旋转光纤夹具使其存在一定倾斜角度,设置一定加速度实现倾斜啁啾光栅的刻写。倾斜啁啾光栅因其倾斜的栅线,除了存在纤芯模之外还存在包层模,其包层模会由于模场不稳定发生泄漏,通过设置一根贴合的D型光纤,对其泄漏模进行接收,并根据两者相对位移时接受到的泄漏模变化进行位移传感。

    一种旋变式角度传感器
    33.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112729100A

    公开(公告)日:2021-04-30

    申请号:CN202011414332.6

    申请日:2020-12-04

    Abstract: 本发明涉及一种旋变式角度传感器,包括旋转轴、磁体和检测器,检测器内设置有检测电路,旋转轴、磁体和检测器轴心位于同一直线;检测电路中设置有MLX90316芯片,MLX90316芯片将磁场的变化转换为角度信息。本发明的有益效果是提供一种基于磁电式的角度传感器,特点是成本低、抗干扰性高。

    利用超声波熔融涂镀光纤端面制备光纤反射镜的方法

    公开(公告)号:CN109652752B

    公开(公告)日:2021-02-19

    申请号:CN201811626600.3

    申请日:2018-12-28

    Abstract: 本发明公开了一种利用超声波熔融涂渡光纤端面制备光纤反射镜的方法,包括:去除单模光纤表面丙烯酸酯涂覆层,用无尘纸沾取酒精擦拭,采用光纤切割刀进行切割,获得平整的光纤端面;将切割好的光纤一端放入置于加热平台上的铁氟龙矩形槽中,设定加热平台温度为300℃;将熔点为290℃的特种锡合金熔融于铁氟龙矩形槽中;开启超声波发生装置,设置超声波频率为64KHz,超声波焊头温度为400℃,向熔融状态的锡合金中注入超声波,对光纤端面进行涂镀,涂镀时间10min;将加热平台温度降至20℃,进行降温,待涂渡好的光纤降温完成后,将从特氟龙矩形槽中分离出来,并放入温度设为80℃的恒温箱中进行24h退火处理,得到光纤反射镜。

    一种基于光纤光栅的转子位置检测装置

    公开(公告)号:CN106802398A

    公开(公告)日:2017-06-06

    申请号:CN201710044091.2

    申请日:2017-01-19

    CPC classification number: G01R33/1284

    Abstract: 本发明公开了一种基于光纤光栅的转子位置检测装置,该装置采用反射式解调系统,包括宽谱光源、三端口环形器、信号解调仪和固定设置于转子转轴上的位置传感器转子,位置传感器转子包括能够产生正弦空间磁场的永磁体,检测装置还包括设置于定子上的用于检测正弦空间磁场的3个光纤光栅位置检测探头,光纤光栅位置检测探头包括磁致伸缩材料和光纤光栅,其中各个光纤光栅位置检测探头以互差120°电角度方式分布在转轴垂直的平面上的以转轴为圆心的圆周上。本发明能够快速高效的确定转子位置同时可以实现在恶劣环境中工作。

    一种基于双泵浦的可实现C+L波段ASE光源的实现方法

    公开(公告)号:CN106654827A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201710005150.5

    申请日:2017-01-04

    Abstract: 本发明提供了一种基于双泵浦的可实现C+L波段ASE光源的实现方法,包括依次连接的光纤全反镜、第一波分复用器、连接至所述第一波分复用器1550端的第一掺饵光纤EDFL、第二波分复用器、连接至所述第二波分复用器1550端连接的第二掺饵光纤EDFC,其中所述第一波分复用器的976端与第一泵浦源相连接,所述第二波分复用器的976端与第二泵浦源相连接;直接通过C波段和L波段ASE光源拼接而实现C+L波段的ASE光源,直接通过调节两个LD泵浦源就可以实现光源平坦度的改变,结构简单,系统紧凑,光纤的长度相对较小,具有很强的实用价值,易于产品化。

    一种利用纤芯失配干涉结构测量磁场的方法

    公开(公告)号:CN106405447A

    公开(公告)日:2017-02-15

    申请号:CN201610741697.7

    申请日:2016-08-26

    CPC classification number: G01R33/032 G01D5/35329 G01D5/35387 G01R33/0011

    Abstract: 本发明提供了一种利用纤芯失配干涉结构测量磁场的方法,所述方法包括如下步骤:a)搭建纤芯错位熔接干涉结构,所述纤芯错位熔接干涉结构包括依次连接的泵浦源,波分复用器,增益光纤,第一单模光纤,第二单模光纤,第三单模光纤和光谱分析仪;b)对第一单模光纤,第二单模光纤和第三单模光纤进行光纤错位熔接;c)测量待测温控装置的外加磁场:将第一单模光纤、第二单模光纤和第三单模光纤与温控装置组合为一体,在外加磁场的条件下对传感器实现拉伸、弯曲、振动或挤压,引起纤芯失配干涉仪偏振态发生相应变化,利用下述公式,确定传感器所受到的磁场:Y=aX-b,其中X为磁场浓度,Y为变化波长,a,b为常数。

    一种基于超声脉冲诱发光栅变形的用于测量应变的方法

    公开(公告)号:CN105890536A

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201610215074.6

    申请日:2016-04-08

    CPC classification number: G01B11/16

    Abstract: 本发明提供了一种基于超声脉冲诱发光栅变形的用于测量应变的方法,所述测量应变的方法包括如下步骤:a)搭接光纤传感器应变测量系统,所述系统包括一段带有连续均匀光栅的光纤、超声波发生器和解调仪,所述的带有连续均匀光栅的光纤具有多段光栅,每段光栅栅格均匀分布,所述光栅之间间隔相同;b)将光纤传感器应变测量系统与待测应变材料贴合,记录所述解调仪采集到的离峰偏离主峰的间距;c)将步骤b)中所述的离峰偏离主峰的间距与离峰偏离主峰的间距随应变变化的关系曲线比对,得到材料应变大小。

    一种基于联级sagnac干涉仪的折射率测量方法

    公开(公告)号:CN105784641A

    公开(公告)日:2016-07-20

    申请号:CN201610151204.4

    申请日:2016-03-16

    CPC classification number: G01N21/45

    Abstract: 本发明提供了一种基于级联Sagnac干涉仪的折射率测量方法,所述方法包括如下步骤:a)搭建所述级联Sagnac干涉仪测量系统,所述系统包括宽带光源泵浦源、第一掺杂稀土元素光纤、第二掺杂稀土元素光纤、一支波分复用器、第一光耦合器、第二光耦合器、第一光纤Sagnac环、隔离器、第二光纤Sagnac环、光谱仪;b)将第一光纤Sagnac环和第二光纤Sagnac环与可控折射率的折射率溶液中,进行折射率标定;c)逐渐增加折射率的大小,光谱仪采集第二光纤Sagnac环输出的光谱,记录梳状谱移动的长度,拟合梳状谱波长偏移随折射率变化的关系曲线;d)将标定好的折射率测量系统置于待测折射率溶液中;e)利用所拟合的梳状谱波长偏移随折射率变化的关系曲线对待测折射率溶液进行测量。

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