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公开(公告)号：CN103604776A
公开(公告)日：2014-02-26
申请号：CN201310636822.4
申请日：2013-11-29
申请人： 中国计量科学研究院
发明人： 冯国进
IPC分类号： G01N21/41
摘要： 本发明提供了一种相位延迟测量装置及方法，该装置包括：分束计、第一探测器、第二探测器、第一转台、格兰泰勒棱镜，所述第一转台用于承载待检测样品沿水平轴转动，且单色偏振光经分束计分光后，其中一束光束一照射到第一探测器，另一束光束二经过待检测样品照射到格兰泰勒棱镜上，并在经过格兰泰勒棱镜后照射到第二探测器上。本发明提供的相位延迟测量装置及方法，其测量的准确度可以独立与材料自身特性，且能够极大提高测量的精度。
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公开(公告)号：CN102095750B
公开(公告)日：2012-07-25
申请号：CN201010594721.1
申请日：2010-12-17
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本发明公开了一种红外法向发射率测量装置，包括：依次连接的测量模块、存储模块和计算模块，所述测量模块，用于测量待测信号数据和已知红外法向发射率的标准黑体的预设信号数据，并将所述待测信号数据和所述预设信号数据发送至所述存储模块；所述存储模块，用于存储所述待测信号数据、所述预设信号数据和所述已知红外法向发射率的标准黑体的红外法向发射率；所述计算模块，用于根据所述待测信号数据、所述预设信号数据和所述已知红外法向发射率的标准黑体的红外法向发射率计算所述待测样品的红外法向发射率，使本发明红外法向发射率测量装置及方法可直接测量样品的红外法向发射率，且测量的准确度高。
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公开(公告)号：CN102141515A
公开(公告)日：2011-08-03
申请号：CN201010599594.4
申请日：2010-12-22
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01N21/59
摘要： 本发明公开了一种曲面材料透射比测量装置，包括：测量模块、比较模块、移动控制模块、存储模块和计算模块，测量模块，用于测量入射信号数据、待测信号数据、入射光斑面积数据、待测光斑面积数据；比较模块，用于比较入射光斑面积数据与待测光斑面积数据，并将比较结果发送至移动控制模块；移动控制模块，用于根据比较模块的比较结果控制测量模块的移动，使入射光斑面积数据与待测光斑面积数据相等；存储模块，用于存储入射信号数据和待测信号数据；计算模块，用于根据入射信号数据和待测信号数据计算待测曲面材料的透射比，直接用于测量曲面材料的反射比，且测量值的准确性高。
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公开(公告)号：CN102128793A
公开(公告)日：2011-07-20
申请号：CN201010594901.X
申请日：2010-12-17
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01N21/17
摘要： 本发明公开了一种逆反射材料反射比测量装置，包括：依次连接的测量模块、存储模块和计算模块，所述测量模块，用于测量预设信号数据和待测信号数据，并将所述预设信号数据和待测信号数据发送至所述存储模块进行存储；所述存储模块，用于存储所述已知反射比的材料的反射比以及所述预设信号数据和待测信号数据；所述计算模块，用于根据所述已知反射比的材料的反射比以及所述预设信号数据和待测信号数据计算，获得所述待测逆反射材料的反射比，直接用于测量逆反射材料的反射比，且测量值的准确性高。
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公开(公告)号：CN118836986A
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN202411058545.8
申请日：2024-08-02
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本发明提供一种发射率测量方法、装置、系统、设备及介质，属于光辐射度量技术领域，该方法包括：在待测热辐射体达到第一温度时，获取待测热辐射体的第一辐射参数和对照辐射体的第一对照辐射参数；在待测热辐射体达到第二温度时，获取待测热辐射体的第二辐射参数和对照辐射体的第二对照辐射参数；利用第一辐射参数、第一对照辐射参数、第二辐射参数和第二对照辐射参数确定待测热辐射体的发射率。本发明解决了现有技术中待测热辐射体的发射率值、以及环境辐射值都可能发生较明显变化，导致计算结果偏差较大的问题，使得待测热辐射体的发射率值和环境辐射值的变化都控制在较小的范围内，更易获得接近于真实发射率的值。
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公开(公告)号：CN118392301A
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202410611467.3
申请日：2024-05-16
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本发明涉及光学领域，提供一种利用光压或光辐射压力效应的测量方法及测量装置，方法包括：将物体静止悬浮设置；将准直、连续、功率稳定的光束垂直入射于物体的表面；测量物体在光束作用下的加速度；根据物体的加速度、质量、透射比、反射比以及受到的阻力，确定光束的光辐射功率；或，根据光束的光辐射功率、物体的加速度、透射比、反射比以及受到的阻力，确定物体的质量。本发明提供的方法，可以根据已知参数测量特定光束的光辐射功率或特定物体的质量，而且通过合理的数学转换，可以实现特定光束的光辐射功率与特定物体的质量的双向测量，即在同一测量中既可以测量光辐射功率也可以测量物体质量，提高了测量的灵活性和多功能性。
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公开(公告)号：CN117250605A
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN202311066406.5
申请日：2023-08-23
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本发明涉及探测定标技术领域，提供一种漂浮式水面靶标，包括：漂浮底座与定标模组；定标模组设于漂浮底座上，定标模组呈多面体结构，多面体结构为半个阿基米德多面体；定标模组具有微波反射层与光学反射层当中的至少一者；光学反射层位于定标模组的表面；微波反射层用于反射雷达发出的微波，光学反射层用于向光学成像设备反射光线；本发明的漂浮式水面靶标可以漂浮在水面上，从而能够从探测对象与探测环境两方面尽可能真实地模拟探测设备的实际探测情形，以辅助探测设备开展水上目标的搜索训练。
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公开(公告)号：CN116156151A
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202211617237.5
申请日：2022-12-15
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： H04N17/00
摘要： 本发明提供一种针对智能感知系统的测试方法、系统、电子设备，所述智能感知系统能够基于输入的待识别数据，所述待识别数据包括场景和包含于所述场景内的目标，输出关于所述目标的识别结果，所述方法包括：获取多个测试用样本，其中，每个所述样本包括所述样本的分值、标签和第一数据；针对每个所述样本，判断所述识别结果是否正确，获取第一得分；将所有所述样本的第一得分相加求和，再除以所有所述样本的分值之和，得到第二得分，用来评估所述智能感知系统的感知能力。本发明能够对智能感知系统的识别能力给出客观的量化的得分，能够从各个场景类型层次、全面性考察智能感知系统的识别能力。
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公开(公告)号：CN108362726B
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN201810151308.4
申请日：2018-02-14
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01N25/12
摘要： 本发明提供的一种超导相变温度传感器及其制备方法，其中所述传感器包括：依次镀在基板上的第一层薄膜和第二层薄膜；第一层薄膜为超导材料；第二层薄膜的宽度与第一层薄膜的宽度的比值沿所述第一层薄膜的长度方向逐渐变化；所述第一层薄膜的厚度与所述第二层薄膜的厚度之和为0.2‑200nm。在所述第二层薄膜的宽度与所述第一层薄膜的宽度的比值的最大处的超导相变温度为第一温度，在所述第二层薄膜的宽度与所述第一层薄膜的宽度的比值的最小处的超导相变温度为第二温度，超导相变温度传感器的最佳工作范围为所述第一温度至所述第二温度。本发明提供的超导相变温度传感器具有较宽的工作范围，使得超导相变温度传感器的适用范围更广泛。
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公开(公告)号：CN110927841A
公开(公告)日：2020-03-27
申请号：CN201911261487.8
申请日：2019-12-10
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本发明提供一种光陷阱，包括腔体、低反射镜以及锥形反射组；所述腔体的第一端设置有第一开口，所述腔体的第二端倾斜设置；所述低反射镜位于所述腔体的第二端并固定设置于所述腔体内；所述锥形反射组与所述低反射镜位置相对地设置在所述腔体内且所述锥形反射组上与所述第一开口相对应的位置处设置有第二开口。本发明提供的光陷阱，通过在腔体内设置斜向放置的低反射镜，并在腔体内与低反射镜相对的位置处设置锥形反射组，能够在不增加腔体长度的前提下，通过低反射镜的反射以及锥形反射组的漫反射，有效增加了光程，减小了光泄露，大幅度降低了漫射光逃逸的比例，提高了光陷阱的光吸收率。
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