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公开(公告)号：CN118670518A
公开(公告)日：2024-09-20
申请号：CN202410700116.X
申请日：2024-05-31
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种多狭缝高光谱数据处理方法，特别涉及一种多狭缝高光谱数据重构处理方法，解决了现有技术难以实时获取高精度的多狭缝高光谱重构后数据的问题。该方法包括步骤：步骤1：对多狭缝面阵数据进行暗电流校正；步骤2：相对辐射校正；步骤3：坏像元校正；步骤4：将其中一个狭缝定义为基准狭缝，将基准狭缝的坏像元校正后数据定义为基准狭缝高光谱数据；然后以基准狭缝高光谱数据为校正基准，对其余各狭缝的坏像元校正后数据分别进行横向像移误差校正；步骤5：光谱位置误差校正；步骤6：帧间误差校正，得到其余各狭缝的校正完成数据；步骤7：将其余各狭缝的校正完成数据与基准狭缝高光谱数据合并重构，得到多狭缝高光谱重构后数据。
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公开(公告)号：CN118464191A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410932000.9
申请日：2024-07-12
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及光谱偏振成像装置及方法，具体涉及一种基于光栅‑晶体的时空混合调制光谱偏振成像装置及方法，解决了现有光谱偏振成像系统测量精度较差的技术问题。本发明包括沿光束传输方向依次设置的前置光学镜组、狭缝、第一准直透镜、衍射光栅组件、第二准直透镜、萨瓦板、检偏器、二次成像镜组和面阵探测器，以及数据采集处理单元，利用衍射+干涉原理，先通过衍射光栅组件实现波长维度的分割，通过萨瓦板实现光束的横向剪切，进而通过干涉实现振幅调制，从而实现偏振信息在频域上的分离，可同时获得目标场景的光谱信息、线偏振成像信息和空间成像信息，测量精度高，光路简单易调、成本低廉，数据处理简单快速，可实现对目标场景的实时检测。
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公开(公告)号：CN111693733B
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202010510959.5
申请日：2020-06-05
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01P5/26
Abstract: 本发明提供了一种双视场近红外多普勒差分干涉仪，解决同时对60～80km平流层两个方向的风场进行探测，存在设备体积较大、成本较高的问题。该干涉仪包括沿光路依次设置的双视场前置成像耦合系统、干涉仪、条纹成像镜头及探测器；双视场前置成像耦合系统为具有中间像面的像方远心系统，其F数为15，包括第一前置分系统、第二前置分系统及第一前置分系统和第二前置分系统出射光线共用的前置耦合系统；第一前置分系统和第二前置分系统将相互垂直两个视场的入射光线引入前置耦合系统，再依次经干涉仪、条纹成像镜头后，在探测器靶面形成两个视场的干涉条纹；条纹成像镜头为物方远心、像方远心的有限共轭距成像系统，其近轴放大率为‑0.3，F数为4.5。
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公开(公告)号：CN117553914A
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN202311521453.4
申请日：2023-11-15
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及哈达玛高光谱成像系统的校正方法，具体涉及一种哈达玛高光谱成像系统编码模板透过率误差校正方法，解决了哈达玛编码模板原始测量值与实际成像编码调制结果存在误差，从而使哈达玛高光谱成像系统探测精度较低的技术问题。本发明基于哈达玛高光谱成像系统特殊的成像机理，利用单色光入射，对比有无编码模板情况下探测器所获数据，进而完成对编码模板透过部分及遮挡部分实际透过率的测量，根据测量值完成对编码模板透过率误差的校正，不仅能实现哈达玛高光谱成像系统编码模板透过率误差的测量，还可根据测量结果对解码矩阵进行修正，提高系统光谱探测准确度，可进一步提高系统的光谱探测能力。
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公开(公告)号：CN113899450B
公开(公告)日：2022-12-09
申请号：CN202111123007.9
申请日：2021-09-24
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明提供了一种消热差的中波红外光谱仪，解决了现有方法中红外光学系统在常温和低温下无法获得相同成像质量的问题。本发明中包括低温箱体、中波红外窗口和光谱成像系统；中波红外窗口设置在低温箱体下侧壁上；光谱成像系统设置在低温箱体腔内；光谱成像系统包括狭缝、反射镜、透镜组件和探测器光敏面；透镜组件包括依次设置在同一光轴上的第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜、孔径光阑和色散元件；光束从中波红外窗口入射至狭缝后经反射镜反射进入透镜组件，光束在透镜组件中入射至色散元件后色散并反射回透镜组件，最终入射至探测器光敏面。本发明实现了红外光学系统在常温下与低温下具有相同的成像质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113777766A
公开(公告)日：2021-12-10
申请号：CN202110896071.4
申请日：2021-08-05
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G02B17/06
Abstract: 本发明涉及一种替代同轴三反系统对高光谱成像分系统调试用光学系统，其目的是解决在轨测试之前，现有技术尚无可代替前置物镜，对高光谱成像系统的后续各分系统进行测试的光学系统的技术问题。该系统包括物面a和像面b，及二者间沿光路依次设置的光阑、调焦镜、第一球面反射镜、第二球面反射镜、第三球面反射镜、第四球面反射镜和平面反射镜；调焦镜和第一球面反射镜与原同轴三反系统的调焦镜及其前一片球面反射镜的结构和参数一致；第二球面反射镜、第三球面反射镜和第四球面反射镜的光焦度符号相同，与平面反射镜形成折叠式离轴三反系统代替原同轴三反系统中的其余镜片；物面a位于原同轴三反系统的像面处，像面b模拟无穷远物体作为成像物面。
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公开(公告)号：CN109656006A
公开(公告)日：2019-04-19
申请号：CN201910007970.7
申请日：2019-01-04
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种气辉成像仪，针对现有气辉成像仪探测视场小、光谱范围窄以及需采用机械调焦装置，导致成像仪结构及使用操作复杂以及成像仪的光通量低等问题，提供一种宽谱段非调焦全天空气辉成像仪。成像仪包括像方远心鱼眼镜头、物方远心成像镜头和探测器；鱼眼镜头和成像镜头之间设置滤光轮，滤光轮上设有多个不同波段且光焦度为零的窄带滤光片，滤光轮可将窄带滤光片切换至鱼眼镜头的焦平面；鱼眼镜头包括负光焦度前透镜组和正光焦度后透镜组，前透镜组与后透镜组之间的光路上设有孔径光阑；成像镜头包括多个由正透镜和负透镜胶合而成的胶合镜，正透镜和负透镜相对阿贝数差值的绝对值≥5，且其相对色散差值的绝对值≤0.001。
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公开(公告)号：CN106872038B
公开(公告)日：2019-01-22
申请号：CN201710140962.0
申请日：2017-03-10
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明提出一种高通量高稳定相干色散光谱成像装置，该装置包括依次设置的共光路干涉分光光路、色散分光光路以及光电探测器；所述共光路干涉分光光路采用非对称结构的共光路Sagnac干涉仪，使得最终经共光路Sagnac干涉仪中分束面返回的光束不再与入射光束重合，而是在空间上平行分离；在二次分光前的光路上对应于空间上平行分离的光束还设置有光程调节结构，使得两路一级光束最终产生光程差，以干涉光束出射；其中一路干涉光束经会聚后到狭缝上，该狭缝成为色散分光光路的入射像面位置；另一路干涉光束即所述最终经共光路Sagnac干涉仪中分束面返回的光束也经会聚后进入色散分光光路。
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公开(公告)号：CN212351342U
公开(公告)日：2021-01-15
申请号：CN202020439382.9
申请日：2020-03-31
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本实用新型提供一种Sagnac型干涉仪组件的膜层面形离子束抛光装置，实现对反射膜层面型精度低的Sagnac型干涉仪进行面形修整，避免重新投产，实现加工后再次使用的目的。该抛光装置包括离子抛光机安装基板、水平安装板、垂直安装板、右侧保护板和左侧保护板；右侧保护板和左侧保护板安装在水平安装板的前侧；Sagnac型干涉仪组件安装在水平安装板的顶面，且其抛光面位于右侧保护板和左侧保护板之间；垂直安装板安装在水平安装板的后侧，且其端面上设置有沿水平和竖直方向的多个第一腰形孔；离子抛光机安装基板位于垂直安装板的后侧，且其表面设置有沿水平和竖直方向的多个T形槽；垂直安装板和离子抛光机安装基板通过连接件安装。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN212748972U
公开(公告)日：2021-03-19
申请号：CN202021028022.6
申请日：2020-06-05
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01P5/26
Abstract: 本实用新型提供一种双视场近红外多普勒差分干涉仪，解决同时对60～80km平流层两个方向风场进行探测，存在体积较大、成本较高的问题。干涉仪包括沿光路依次设的双视场前置成像耦合系统、干涉仪、条纹成像镜头及探测器；双视场前置成像耦合系统为具有中间像面的像方远心系统，其F数为15，包括第一前置分系统、第二前置分系统及第一前置分系统和第二前置分系统出射光线共用的前置耦合系统；第一前置分系统和第二前置分系统将相互垂直两个视场入射光线引入前置耦合系统，经干涉仪、条纹成像镜头后，在探测器靶面形成两个视场的干涉条纹；条纹成像镜头为物方远心、像方远心的有限共轭距成像系统，近轴放大率为‑0.3，F数为4.5。
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