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公开(公告)号:CN114125339B
公开(公告)日:2022-12-09
申请号:CN202111273118.8
申请日:2021-10-29
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明提供一种用于焊接火花飞溅检测的光电探测系统,解决现有火花飞溅探测易造成网络拥塞和带宽受限、数据传输效率低,数据冗余、计算和存储压力大的问题。该系统包括滤光片、成像镜头和智能相机;成像镜头对经滤光片滤除后的火花飞溅进行光线汇聚形成影像;智能相机包括电源模块、CMOS传感器、FPGA、存储器Ⅰ、PCIE接口、中央处理器和存储器Ⅱ;电源模块向中央处理器提供电源,中央处理器向FPGA和CMOS传感器提供电源;FPGA根据焊机输出的同步信号,驱动CMOS传感器对影像进行解串、位对齐以及数据重组,获得火花飞溅图像数据,此后通过PCIE接口传输给中央处理器;中央处理器对火花飞溅图像数据进行数据流控制和数据处理,获得处理结果;存储器Ⅱ对处理结果存储。
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公开(公告)号:CN115174760A
公开(公告)日:2022-10-11
申请号:CN202210715811.4
申请日:2022-06-22
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种LVDS接口数据解串和同步系统及其方法,具体涉及一种用于高速成像的串行数据解串与同步系统及方法,解决现有LVDS IP核难以实现数据位宽大于10bit的LVDS数据解串、对各个数据通道的独立字节对齐以及各数据通道数据之间同步的技术问题。该用于高速成像的串行数据解串与同步系统包括时钟与复位管理模块、解串模块、位宽转换模块、大小端与数据拼接模块、数据字节对齐与移位模块、数据解析模块以及数据重组模块;其最大能够实现图像像素级数据位宽为20bit的图像传感器输入到解串模块的多数据通道LVDS输出数据的解串和数据同步;本发明提供的一种用于高速成像的串行数据解串与同步方法,实现了对单个数据通道独立的字节同步功能。
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公开(公告)号:CN111486949B
公开(公告)日:2021-06-22
申请号:CN202010285150.7
申请日:2020-04-13
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 为了解决传统M2因子测量仪测量实时性差的技术问题,本发明提供了一种瞬态M2因子测量仪,发明利用成像系统、衰减片、第一分光元件、第二分光元件、三个成像器件和信号发生器组合,将三个成像器件在其对应监视物面处采集到的激光束宽,采用M2因子计算方法,实现对单脉冲、重频或连续激光脉冲M2因子的实时测量,提高了激光M2因子的测量精度和测量效率。
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公开(公告)号:CN108243185B
公开(公告)日:2020-05-12
申请号:CN201711396715.3
申请日:2017-12-21
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: H04L29/06
Abstract: 本发明涉及一种基于AX88180的科学级CCD千兆以太网通信系统及方法,解决现有图像传输系统中百兆网络会出现通信阻塞,甚至崩溃,造成设备采集到的图像数据丢失等问题。系统包括网络通信电路板和FPGA电路板;FPGA电路板包括FPGA芯片、EEPROM芯片和SDRAM芯片,FPGA芯片与EEPROM芯片根据IIC协议连接,SDRAM芯片与FPGA芯片连接进行数据的存储;网络通信电路板包括依次连接的MAC层芯片、PHY层芯片和RJ‑45接口,MAC层芯片为AX88180,PHY层芯片为88E1111;FPGA芯片采集的数据传输给MAC层芯片和PHY层芯片,经RJ‑45接口传输给PC上位机;FPGA芯片包括网络初始化模块、封包解包模块、网络协议模块、命令解析模块、控制调度模块、EEPROM参数存取模块,本发明还提供了一种基于上述系统实现科学级CCD千兆以太网通信的方法。
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公开(公告)号:CN107707842A
公开(公告)日:2018-02-16
申请号:CN201710977308.5
申请日:2017-10-19
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明属于激光探测技术领域,具体涉及一种用于高功率激光近场测量的高信噪比探测装置及探测方法。该探测装置包括CCD传感器、前置放大与预处理单元、采样转换机构、FPGA控制器、PHY芯片和光纤网络接口。本发明探测装置主要用于高功率激光的近场测量,能够很好的探测不同强度分布的激光,从而实现精密的近场测量。同时,该探测装置针对高功率激光进行近场测量时的高信噪比要求,能够实现高动态范围,高信噪比,低非均匀性成像,并且能够稳定输出高质量激光测量图像。此外,该探测装置能够进行采样位置的灵活选取和采样数据的高效处理,使得图像信噪比提高的同时数据处理的灵活性也极大增强。
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公开(公告)号:CN105933599A
公开(公告)日:2016-09-07
申请号:CN201610260354.9
申请日:2016-04-25
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: H04N5/232
CPC classification number: H04N5/232 , H04N5/23206 , H04N5/23267
Abstract: 本发明提供一种集成化多模式科学级CCD图像采集控制系统,包括前端采集控制模块,全局译码模块,时钟与复位模块和网络模块;网络模块主要接收上位机命令并进行命令的一级译码,为网络参数配置,则完成网络相关参数的具体配置;为非网络参数配置,则将一级译码后命令发送至全局译码模块后进行二级译码,并将送至前端采集控制模块;前端采集控制模块内部CCD驱动单元和AD配置单元用来控制CCD图像数据的采集和数模转换,数据合成单元需要将不同步的图像数据进行数据合成并发送至数据缓存与存储单元;数据缓存与存储单元将图像数据发送至网口;本发明可运行在多种工作模式下,工作模式灵活多变可调,系统集成度高。
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公开(公告)号:CN104570838A
公开(公告)日:2015-04-29
申请号:CN201410722818.4
申请日:2014-12-02
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G05B19/042
CPC classification number: G05B19/0426
Abstract: 本发明是一种多路触发延时的异步外触发装置,包括MCU、上位机、外部同步信号输入单元、系统电源以及多路外触发信号输出单元;上位机、外部同步信号输入单元、系统电源以及多路外触发信号输出单元分别与MCU连接。本系统能够实现多路触发延时的功能,系统开始运行后,当接受到外部的同步信号后,通过设置不同的触发延时时间,实现多路触发延时的信号输出功能。延时参数信息是通过上位机软件设置的,使用方便快捷,适用于各种不同的外触发系统中。
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公开(公告)号:CN216978130U
公开(公告)日:2022-07-15
申请号:CN202122785459.5
申请日:2021-11-12
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本实用新型涉及一种用于真空环境中的光电型激光功率计。克服现有激光功率计应用在真空环境存在的测试过程难度大、周期长以及无法实现远距离传输的问题。包括壳体及位于壳体内部的待测激光光学取样组件、光电转换模拟电路组件以及数字采样电路组件;待测激光光学取样组件包括积分球;光电转换模拟电路组件包括光电探测器与模拟采集板;光电探测器位于积分球的出光口位置;模拟采集板位于光电探测器的输出端,其上设有模拟放大滤波电路和预处理电路;数字采样电路组件包括依次位于模拟采集板后端的第一高速采样板、散热器、第二高速采样板以及工业以太网接口。该激光功率计能够应用于真空环境中,可以实现真空中激光功率的测量。
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公开(公告)号:CN209043456U
公开(公告)日:2019-06-28
申请号:CN201821811105.5
申请日:2018-11-05
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 为解决现有探测装置动态范围小、信噪比低、可靠性较低、集成度低、功耗较大的问题,本实用新型提供了一种用于高功率激光测量的制冷型高信噪比探测装置,包括置于真空腔体中的像元尺寸大于13um,读出噪声小于5e-,响应非均匀性小于1%的CCD芯片;为CCD芯片提供工作电压、根据设定参数为CCD芯片提供正确的驱动信号和驱动时序,及控制CCD芯片正常工作的CCD驱动单元;低噪声的信号调理转换单元;用于存储信号调理转换单元输出数字信号的数据存储单元;用于控制CCD驱动单元、信号调理转换单元、数据存储单元工作,及接收、解析、响应、执行上位机命令的控制单元;用于对CCD芯片进行制冷的制冷单元。本实用新型具有信噪比高、动态范围大、可靠性高、功耗低的优点。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号:CN207427326U
公开(公告)日:2018-05-29
申请号:CN201721355011.7
申请日:2017-10-19
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本实用新型属于激光探测技术领域,具体涉及一种用于高功率激光近场测量的高信噪比探测装置。该探测装置包括CCD传感器、前置放大与预处理单元、采样转换机构、FPGA控制器、PHY芯片和光纤网络接口。本实用新型探测装置主要用于高功率激光的近场测量,能够很好的探测不同强度分布的激光,从而实现精密的近场测量。同时,该探测装置针对高功率激光进行近场测量时的高信噪比要求,能够实现高动态范围,高信噪比,低非均匀性成像,并且能够稳定输出高质量激光测量图像。此外,该探测装置能够进行采样位置的灵活选取和采样数据的高效处理,使得图像信噪比提高的同时数据处理的灵活性也极大增强。
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