用于相变存储器的M-Sb-Se相变薄膜材料

    公开(公告)号:CN101488558A

    公开(公告)日:2009-07-22

    申请号:CN200910046633.5

    申请日:2009-02-25

    Abstract: 本发明揭示了一种用于相变存储器的M-Sb-Se相变薄膜材料,其组分为(SbxSe1-x)1-yMy,y为0.2%-15%原子比,x为50%- 95%原子比,掺杂元素M为钨元素、铝元素、铟元素、银元素、铜元素、镍元素、镓元素、钛元素、锡元素、氧元素、及氮元素中的一者或两者。本发明所提供的M-Sb-Se相变薄膜材料比常用的Ge2Sb2Te5材料具有更快的结晶速度,可以有更快的读写速度,有着更好的数据保持特性,有着比SbSe两元材料更好的热稳定性。同时该材料不含元素Te,是一种环境友好材料,与CMOS工艺兼容性好。

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