X-射线诊断装置及获得X-射线图象的方法

    公开(公告)号:CN100377690C

    公开(公告)日:2008-04-02

    申请号:CN200410004945.7

    申请日:2004-02-13

    CPC classification number: G01N23/20 A61B6/4014 A61B6/503 A61B6/5282

    Abstract: 一种为包括多个成像系统的X-射线诊断装置获得X-射线图象的方法,包括:在从第一成像系统内的第一X-射线管辐射出X-射线之后,用第一X-射线探测器收集第一散射数据;在从第二成像系统内的第二X-射线管辐射出X-射线之后,用第二X-射线探测器收集第二散射数据;在从第一成像系统内的第三X-射线管辐射出X-射线之后,用X-射线探测器收集包括散射分量的第一图象数据;在从第二成像系统内的第四X-射线管辐射出X-射线之后,用X-射线探测器收集包括散射分量的第二图象数据;和通过分别从包括散射分量的第一和第二图象数据中减去第一和第二散射数据为第一和第二成像系统获得X-射线图象。

Patent Agency Ranking