Patent search ap:("三菱电机株式会社") AND inv:"川藤寿" Page 4

31.

外观设计
半导体装置失效

公开(公告)号：CN3276375D

公开(公告)日：2003-02-05

申请号：CN02309355.2

申请日：2002-04-30

Applicant: 三菱电机株式会社

Designer： 岩崎光孝 , 岩上彻 , 川藤寿

Patent Agency Ranking