一种结合蜘蛛包卵丝的光纤湿度传感器及其制作方法

    公开(公告)号:CN109142271B

    公开(公告)日:2020-12-04

    申请号:CN201810777906.2

    申请日:2018-07-16

    Abstract: 本发明属于光纤传感技术研究领域,具体涉及一种能够检测环境湿度的结合蜘蛛包卵丝的光纤传感器及其制作方法。光纤传感器包括光纤光源,输入、输出光纤,模式泄漏光纤,蜘蛛包卵丝,光功率探测器。输入光纤将光纤光源与模式泄漏光纤相连接,输出光纤将模式泄漏光纤另一端与光功率探测器相连接,蜘蛛包卵丝缠绕在模式泄漏光纤上。损耗光强与蜘蛛包卵丝材料的折射率有关,不同湿度下蜘蛛包卵丝折射率发生变化并改变损耗光强,监测光纤传感器透射光的功率变化值来实现对环境湿度的测量。本发明具有结构简单,易于制作,响应速度快,灵敏度高等优点,利用本专利的方法可以实现对环境湿度的测量,并将蜘蛛包卵丝作为一种湿度敏感材料用于光纤传感领域。

    一种基于回音壁模式激光的脲酶传感装置及其制作方法

    公开(公告)号:CN110927131A

    公开(公告)日:2020-03-27

    申请号:CN201911214615.3

    申请日:2019-12-02

    Abstract: 本发明设计属于光学微传感领域,具体涉及大幅度提高了脲酶的检测灵敏度的一种基于回音壁模式激光的脲酶传感装置及其制作方法。本发明包括532nm泵浦脉冲激光器1、光谱分析仪2、电荷耦合器件CCD3、功能化5CB微滴4、反应溶液5;所述功能化5CB4微滴中共掺杂pH敏感分子硬脂酸与荧光染料尼罗红,并通过毛细微管7在反应溶液5中生成。本发明的优点:1.由于表面张力形成的5CB微滴球形腔具有极高的表面光滑度以及几何结构均匀度,降低了表面散射损失。使得所激发出的回音壁模式激光具有极高的Q值与超低的激光阈值,从而大幅度提高了脲酶的检测灵敏度。

    一种基于光纤光镊的高精度粒径测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN110793450A

    公开(公告)日:2020-02-14

    申请号:CN201910975783.8

    申请日:2019-10-15

    Abstract: 本发明涉及光学精确测量技术领域,特别涉及一种基于光纤光镊的高精度粒径测量装置及测量方法领域。一种基于光纤光镊的高精度粒径测量装置,包括:激光器,数据采集处理系统,光纤环形器,光纤探针,激光器与光纤环形器的输入端口相连,光纤探针与光纤环形器的输出端口相连,数据采集处理系统与光纤环形器的反射输出端口相连。本发明利用基于光纤光镊的反射式双光束干涉,可以实现实时在线检测微纳粒子粒径的变化;采用光纤光镊,使得粒子检测操作更加灵活自由,成本低廉,便于集成化和小型化;采用干涉光强度作为粒子粒径检测标准,可以精确检测小于波长范围的粒子粒径变化,精度可以达到纳米级别。

    偏振复用的共光路自校准薄膜厚度测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN107339943B

    公开(公告)日:2019-09-27

    申请号:CN201710537207.6

    申请日:2017-07-04

    Abstract: 本发明提供的是一种偏振复用的共光路自校准薄膜厚度测量装置及测量方法。包含光源输出模块、膜厚测量探头模块、解调干涉仪模块、偏振分束模块以及采集与控制模块。本发明采用偏振复用技术,两探头使用正交态偏振光。测量探头能实现传输光线的透射和反射,无待测薄膜时可实现两探头绝对距离H的测量;待测薄膜安置两探头间,实现两探头与待测薄膜前后表面的绝对距离H1和H2的测量;待测薄膜厚度d可由d=H‑(H1+H2)确定。本发明实现不需要标定物即可对待测薄膜厚度进行测量,共光路的设计克服了测量过程中由于系统内部机械不稳定和外部环境变化带来的影响,具有自校准、特征白光干涉峰识别简单、动态范围大、测量结果可溯源等优点。

    一种基于伪随机码的多路光纤干涉仪复用装置及方法

    公开(公告)号:CN109883460A

    公开(公告)日:2019-06-14

    申请号:CN201910196504.8

    申请日:2019-03-14

    Abstract: 一种基于伪随机码的多路光纤干涉仪复用装置及方法,属于光纤传感技术领域。该装置包括光源、伪随机码编码解码装置、多路光纤干涉仪级联阵列、信号探测采集及解调装置四部分。该方法采用伪随机码实现多路光纤干涉仪复用技术,利用伪随机码对阵列输入光信号编码并利用延时光纤控制各路传输光信号延时,在传输光路末端通过匹配各路光信号的传输时延完成解码与信号提取。该方法实现了单根光纤的多路光纤干涉仪阵列传输信号的复用集成,减少了大规模复用阵列传输光路系统的复杂性,且伪随机码具有尖锐的自相关性且与噪声的互相关值很小,可以降低传输系统噪声,实现系统噪声抑制。该方法适合于大规模干涉型光纤传感器阵列中应用。

    一种利用微结构实现微球操控及激光推进效率提高的方法

    公开(公告)号:CN109732203A

    公开(公告)日:2019-05-10

    申请号:CN201910037374.3

    申请日:2019-01-15

    Abstract: 本发明提供一种利用微结构实现微球操控及激光推进效率提高的方法,在挑选与石英玻璃管匹配的玻璃微球作为推进靶材料;确定脉冲激光的参数设置,使脉冲激光光源发射的纳秒脉冲激光焦点聚焦照射到多模光纤横截面处,确保进入多模光纤的脉冲激光能量最大;通过改变脉冲激光光源输出的能量,实现玻璃微球在微结构中定向运动;在微结构的末端利用光学光谱仪进行光谱采集,通过电脑处理对光谱进行表征;取下微结构,使用超声机进行酒精超声,去除微结构中的杂质粒子。本发明主要构成器件为普通光学器件,成本低,推进装置微型化,能够极端环境下完成艰巨任务,实验设置简单,实际操作容易,玻璃微球的运动方向可操控,降低能量的损失,提高推进效率。

    一种基于纳米钻石NV色心的光纤磁场传感器

    公开(公告)号:CN109270478A

    公开(公告)日:2019-01-25

    申请号:CN201810777876.5

    申请日:2018-07-16

    Abstract: 本发明涉及光纤传感技术领域,具体涉及一种基于纳米钻石NV色心的光纤磁场传感器。包括激发光源、波分复用器、第一尾纤、第二尾纤、第三尾纤、磁场传感光纤、微波波导、微波源以及光子探测器;其中,激发光源通过第一尾纤与波分复用器连接,光子探测器通过第三尾纤与波分复用器连接;波分复用器通过第二尾纤与磁场传感光纤连接;磁场传感光纤连接微波波导;微波波导连接微波源。本发明可极大地减小了传感器体积,有利于传感器的纤维集成;提高了光纤磁场传感器的灵敏度;发展了纳米钻石在光纤传感领域内的应用。

    一种基于卡尔曼滤波的椭圆拟合非线性误差校正方法

    公开(公告)号:CN109000782A

    公开(公告)日:2018-12-14

    申请号:CN201811128365.7

    申请日:2018-09-27

    Inventor: 侯长波 郭帅 杨军

    Abstract: 本发明属于相位生成载波解调技术领域,公开了一种基于卡尔曼滤波的椭圆拟合非线性误差校正方法,随机选取五个数据点,代入椭圆方程中,构建出一个五元代数方程组;选取椭圆参数估计值的偏差作为状态向量;将待拟合的数据点依次利用卡尔曼滤波算法,不断的更新状态向量和状态协方差矩阵;新更新的协方差矩阵作为下一时刻的误差协方差矩阵;将更新获得的新参数的偏差值与初始的参数估计值进行相加,得到椭圆参数新的估计结果;当更新过程中相邻两次估计的结果变化均小于给定误差10-8时认为达到收敛状态,停止迭代;估计值作为最优估计值,即最优的椭圆参数。本发明相对幅度和谐波抑制比有了很大的改善,可以有效校正非线性误差,提高解调的精度。

    一种光纤偏振器件的高消光比测量方法

    公开(公告)号:CN105841928B

    公开(公告)日:2018-08-17

    申请号:CN201610157528.9

    申请日:2016-03-18

    Abstract: 本发明设计属于光纤测量技术领域,具体涉及到一种光纤偏振器件的高消光比测量方法。一种光纤偏振器件的高消光比测量方法,在待测高消光比偏振器件即Y波导的输入、输出端分别焊接两段不同长度的保偏光纤,构成带有定量串扰标记的测量组件;焊接时利用集总式消光比测试仪对焊接点的消光比进行定量控制并记录其测量值,同时对起偏器尾纤、检偏器尾纤、高消光比偏振器件尾纤、焊接保偏光纤的长度进行设定;将测量组件接入分布式光纤偏振串扰测试装置中,利用外接光纤焊接点之间的二阶串扰测量值对待测偏振器件消光比进行标定和自校准。在测量过程时,可对串扰标记和测量峰进行同步测量,杜绝测量环境改变和器件连接精度等引入的误差。

    一种光纤器件的透射和反射性能测试装置及方法

    公开(公告)号:CN105784336B

    公开(公告)日:2018-05-18

    申请号:CN201610265283.1

    申请日:2016-04-26

    Abstract: 本发明提供的是一种光纤器件的透射和反射性能同时测试的装置及方法。向待测器件中注入宽谱光,产生能反映其透射和反射性能的两路光信号,并将光信号注入到光学相干域偏振测量技术透射性能测试结构和光学低相干反射技术的反射性能测试结构中,使用共用延迟部件进行扫描,对两路光信号进行测量,同时得到待测光纤器件的透射和反射特征。在使用同一光源和同一延迟部件的情况下,光纤器件的透射和反射性能测试装置可精确测量待测器件的偏振性能、色散特性、损耗特性、相干光谱特性等特征参数。本发明具有集成程度高、测试参数全、抗电磁干扰、器件组成简单等优点,可广泛用于保偏光纤、集成波导调制器等光学器件性能的高精度测量与分析。

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