-
公开(公告)号：CN101261867B
公开(公告)日：2012-05-02
申请号：CN200810083209.3
申请日：2003-10-01
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G11B20/18
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 本发明提供了一次性写入光学记录介质，用于分配所述一次性写入光学记录介质的缺陷管理区的方法，以及用于分配所述一次性写入光学记录介质的备用区的方法。这里提供的具有至少一个记录层的一次性写入光学记录介质上的缺陷的管理方法包括下列步骤：分别分配至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区至所述光学记录介质，将缺陷管理信息记录在所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上；以及使用所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区。
-
公开(公告)号：CN101635152B
公开(公告)日：2012-02-29
申请号：CN200910163735.5
申请日：2003-10-01
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B7/00375 , G11B7/0053 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B7/24038 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2541
Abstract: 本发明涉及一种缺陷区域管理方法及装置。揭示了一种管理具有至少一个记录层的只写一次的光学记录介质上的缺陷的方法。管理至少一记录层上缺陷的方法包括以下步骤：将至少一个替换区域和多个临时缺陷管理区域分配到光学记录介质，其中临时缺陷管理区域分开提供，并将缺陷管理信息记录在多个临时缺陷管理区域的至少一个上。
-
公开(公告)号：CN101635152A
公开(公告)日：2010-01-27
申请号：CN200910163735.5
申请日：2003-10-01
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B7/00375 , G11B7/0053 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B7/24038 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2541
Abstract: 本发明涉及一种缺陷区域管理方法及装置。揭示了一种管理具有至少一个记录层的只写一次的光学记录介质上的缺陷的方法。管理至少一记录层上缺陷的方法包括以下步骤：将至少一个替换区域和多个临时缺陷管理区域分配到光学记录介质，其中临时缺陷管理区域分开提供，并将缺陷管理信息记录在多个临时缺陷管理区域的至少一个上。
-
公开(公告)号：CN100541611C
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：CN03821406.7
申请日：2003-09-30
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B20/10009 , G11B20/22 , G11B2020/1288 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/2541
Abstract: 提供一种用于管理记录介质上缺陷区的方法和设备。所述方法包括：在进行数据写入操作时，数据一经写入数据区，则在该记录介质的数据区内检测存在的缺陷区；如果检测到缺陷区，则将写入缺陷区的数据写入数据区的备用区；将与缺陷区相关的临时缺陷列表写入该记录介质的临时缺陷列表区；以及在所述记录介质的临时盘定义结构区中写入包括用于指示该临时缺陷列表位置的信息的临时盘定义结构。
-
公开(公告)号：CN100474403C
公开(公告)日：2009-04-01
申请号：CN03812082.8
申请日：2003-09-26
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B20/10009 , G11B20/1883 , G11B20/22 , G11B2020/1288 , G11B2220/20 , G11B2220/2541
Abstract: 提供了一种用于管理一次性写入光记录介质的有缺陷的区域的方法和一种使用其的光记录介质。该方法包括步骤：首先，在预先确定的区域中写入替换数据，该替换数据对应于在数据再现操作期间检测到的有缺陷的区域；其次，在预先确定的区域中写入定位器信息，该定位器信息表示有缺陷的区域和相应的替换数据各自的位置；和第三，在引入区域中写入辅助访问指针，该访问指针用于访问在预先确定的区域中写入的定位器信息。预先确定的区域可以位于数据区之内或者位于数据区之外，在一次性写入型光盘，诸如BD-WO光盘上记录数据之后，当主机新近检测到有缺陷的区域的时候，该预先确定的区域存储使得可以进行数据读取操作的辅助缺陷列表信息。
-
Patent Agency Ranking
-
公开(公告)号：CN101252016A
公开(公告)日：2008-08-27
申请号：CN200810082036.3
申请日：2003-10-01
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G11B20/18
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 一种一次写入型光盘和在一次写入型光盘分配备用区的设备和方法。所述方法包括在一次写入型记录介质上分配数据区和在记录介质上在该数据区内分配用户数据区和至少一个备用区。所述至少一个备用区具有可变大小，其中记录介质上的所述至少一个备用区的最大记录容量比在可重写型光盘上的至少一个可变备用区的最大记录容量小。
-
公开(公告)号：CN101183550A
公开(公告)日：2008-05-21
申请号：CN200710194086.6
申请日：2003-09-26
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G11B20/18
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2541
Abstract: 提供了一种一次性写入记录介质以及一种用于管理该记录介质上的缺陷区的方法和装置。该方法包括：在数据写操作中，当数据被写到数据区上时检测记录介质的数据区中的缺陷区的存在；如果检测到缺陷区，则把写在缺陷区中的数据写到另一数据用户区上；以及把与该缺陷区相关的缺陷管理信息写到记录介质上的至少一个缺陷管理区上。
-
公开(公告)号：CN100383862C
公开(公告)日：2008-04-23
申请号：CN200480008748.0
申请日：2004-02-25
Applicant: LG电子株式会社
Abstract: 一种用于光学记录媒体的缺陷管理的方法，使用多个临时缺陷管理区域(TDMA)使缺陷管理信息可记录在诸如只写一次Blu-ray盘的光学记录媒体的指定区域，以包括在各临时缺陷管理区域中指定最后缺陷管理区域的位置的信息，以表示最近记录区域并因此包含最新的信息。缺陷管理信息记录(更新)在两个临时缺陷管理区域之一中，其中使用中盘的缺陷管理信息记录在一个TDMA中，而退出盘的缺陷管理信息记录在另一TDMA中，从而在退出该盘时记录使用中盘最后的缺陷管理信息。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
50
records
(took 0.022 seconds)
