一种纳米梯度结构材料表层EBSD样品的制备方法

    公开(公告)号:CN107063786A

    公开(公告)日:2017-08-18

    申请号:CN201611106563.4

    申请日:2016-12-06

    Applicant: 重庆大学

    CPC classification number: G01N1/286 G01N1/32 G01N2001/2866

    Abstract: 本发明提供了一种纳米梯度结构材料表层EBSD样品的制备方法,属于电镜样品制备技术领域。本发明针对当前纳米梯度结构材料表层EBSD样品制备周期长、成本高、标定效果差、最表层信号遮挡等不足,提出了一种操作简单、快速、成本低、抛光效果好的纳米梯度结构材料表层EBSD样品的制备方法,且成功解决了纳米梯度材料最表层微米尺度区域内标定时保护层遮挡信号的问题。具体工艺为:(1)电镀;(2)砂纸研磨;(3)机械抛光;(4)短时间电解抛光。砂纸研磨之前先对样品进行电镀以保护材料表面的纳米梯度结构,然后经砂纸研磨至5000目,机械抛光至0.25μm的粒度、时间3‑4分钟,最后进行短时间电解抛光,时间取该类金属正常电解抛光工艺所用时间的1/3‑1/5。

    一种高纯铝硅靶材的制备方法

    公开(公告)号:CN104451566A

    公开(公告)日:2015-03-25

    申请号:CN201410776759.9

    申请日:2014-12-17

    Applicant: 重庆大学

    CPC classification number: C23C14/3414 C22F1/043

    Abstract: 本发明公开了一种高纯铝硅靶材的制备方法,它包括步骤1的固溶处理,将高纯铝硅材料在520-550℃下保温2-6小时后,取出后水淬;步骤2的轧制,经过固溶处理的高纯铝硅材料在轧机上冷轧,厚度变形量为75-90%,轧制过程中用水冷却;步骤3的再结晶退火,经轧制后的高纯铝硅材料在温度350-450℃下保温1-10小时。与现有技术相比,本发明的技术效果是:所得的高纯铝硅溅射靶材的晶粒尺寸控制在60um以内,晶粒取向为随机织构,该溅射靶材的晶粒尺寸和织构分布完全能满足工业生产需求,加工简单,加工参数控制可靠。

    一种3DTEM与3DAP跨尺度表征通用样品台

    公开(公告)号:CN208580050U

    公开(公告)日:2019-03-05

    申请号:CN201821106689.6

    申请日:2018-07-13

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本实用新型属于纳米材料技术领域,公开了一种3DTEM与3DAP跨尺度表征通用样品台设置有:样品台底座;样品台底座尾端呈矩形,前端呈燕尾形,与后端呈直角,样品台底座尾端开设有圆孔,样品台底座前端焊接有外铜管,外铜管前端套设有内铜管,外铜管和内铜管之间通过摩擦力固定,内铜管前端卡接有三维原子探针针状试样。本实用新型设计巧妙,容易拆卸,操作方便,成本较低,样品台可以重复利用,该样品台容易与两种三维原子探针针状样品的制备方法结合起来,制样和电子显微分析有效率地联系了起来,将三维原子探针的化学成分信息与三维透射电子显微镜的微观组织信息充分结合,具有较好的适用性,能够得到更为普遍的应用。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种XRD三维晶体学重构三轴样品台、扫描电子显微镜

    公开(公告)号:CN210427409U

    公开(公告)日:2020-04-28

    申请号:CN201920859473.5

    申请日:2019-06-10

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本实用新型属于材料衍射三维重构技术领域,公开了一种XRD三维晶体学重构三轴样品台、扫描电子显微镜,设置有圆形样品台底座;圆形样品台底座中心开有一螺纹孔,圆形样品台底座与旋转台通过螺纹孔用螺栓连接;旋转台与样品台底座间设有滚动轴承,旋转台侧壁设有涡轮;样品台底座上通过螺栓固定有第一电机,第一电机通过涡轮与旋转台中的滚动轴连接;旋转台两端通过螺栓固定有对称放置的第一立柱和第二立柱;第一立柱和第二立柱中心偏上位置开孔,在两孔中插入一摇篮杆;摇篮杆中部通过螺栓固定有第三电机,第三电机上端通过轴承与载物台连接。本实用新型便于放置与拆卸样品,可以在扫描电子显微镜中使用,能够得到更为普遍的应用。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种兼容针状试样的透射电镜高倾转原位力学样品座

    公开(公告)号:CN207148005U

    公开(公告)日:2018-03-27

    申请号:CN201720289665.8

    申请日:2017-03-23

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本专利为一种兼容针状试样的透射电镜高倾转原位力学样品座,此透射电镜样品座包括样品座杆部,样品座头部,压片和装载样品辅助台。本专利中设计的样品座,结构简单,便于加工和维护,设计的样品台上可放针状,圆弧状和矩形状样品,便于各种类型样品进行透射电镜组织观察。除此之外,将样品座配合原位加载样品杆,在进行原位加载实验的同时能够进行大角度倾转操作(≥±60°),比原有样品杆设计的约±20°有了极大的提高,可以完成以往样品杆无法进行的观察与分析操作,并且兼容三维原子探针样品,在组织-性能-成分耦合分析方面有了质的改变。

Patent Agency Ranking