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公开(公告)号：CN118475295A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202280086862.3
申请日：2022-12-19
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Abstract: 公开了用于监测成像系统的操作安全性的方法和装置。直接从一个或多个辐射探测器接收辐射信号。将未衰减的辐射信号和扫描元数据存储在存储器中，并且对所存储的辐射信号执行时域分析和频域分析。记录根据频率分析导出的频谱中所有大于预定信噪比(SNR)的峰值的幅度数据和频率数据。根据所记录的幅度数据和频率数据来监测所述成像系统的所述操作安全性。被写入数据文件的先前记录的幅度数据和频率数据可以用于与当前记录的幅度数据和频率数据进行比较，或者可以用于确定阈值，当所述当前记录的幅度数据和频率数据超过所述阈值时，生成警告和/或自动停止主动扫描。
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公开(公告)号：CN118450849A
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202280085843.9
申请日：2022-12-23
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Abstract: 公开了预测X射线管的维护和故障的方法和装置。X射线辐射信号直接从一个或多个X射线检测器接收，不会被受检查对象或受试者衰减。将未衰减的X射线辐射信号和扫描元数据存储在存储器中，并对存储的X射线辐射信号进行时域分析和频域分析。存储从频率分析导出的频谱中大于预定信噪比(SNR)的所有波峰的振幅和频率数据。根据存储的振幅和频率数据对X射线管的部件进行监控。存储的大于预定SNR的所有波峰的振幅和频率数据可被写入数据文件，以便进一步分析。
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公开(公告)号：CN111133532B
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN201880062054.7
申请日：2018-08-14
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Abstract: 一种用于X射线成像的防散射光栅(ASG)，具有由多个条带(LAM)形成的表面(S)。所述多个条带包括在平行于所述表面的方向上比所述多个条带(LAM)中的一个或多个条带(li)更厚的至少两个保护条带(Li、Li+1)。所述一个或多个条带(li)位于所述两个保护条带(Li、Li+1)之间。
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公开(公告)号：CN107072620B
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN201580062900.1
申请日：2015-11-11
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Abstract: 一种成像系统包括辐射源(108)，所述辐射源被配置为关于检查区域(106)旋转并且发射穿过所述检查区域的辐射。所述成像系统还包括辐射敏感像素(112)的阵列，其被配置为探测穿过所述检查区域的辐射并输出指示探测到的辐射的信号。辐射敏感像素的阵列被设置为跨检查区域与辐射源相对。所述成像系统还包括刚性通量滤波器设备(130)，所述刚性通量滤波器设备被设置在所述辐射源与光子计数像素的辐射敏感探测器阵列之间的检查区域中。所述刚性通量滤波器设备被配置为对穿过所述检查区域并且入射在所述刚性通量滤波器设备上的辐射进行滤波。离开所述刚性通量滤波器设备的辐射具有预定通量。
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公开(公告)号：CN108027447B
公开(公告)日：2022-03-11
申请号：CN201680053904.8
申请日：2016-09-09
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
IPC: G01T1/24
Abstract: 本发明涉及一种光子计数X射线辐射探测系统。所述系统(31)包括X射线辐射设备(2)，所述X射线辐射设备用于在扫描的探测时段期间提供用于穿过检查区(5)的多色X射线辐射(4)。包括探测元件(3)的光子计数探测设备(6)探测己经穿过所述检查区之后的所述X射线辐射，并且在所述探测时段期间测量针对每个探测元件的在一个或多个能量分箱中的光子计数。校正单元(12)估计针对每个探测元件的存在于所述探测元件中的积聚的电荷的量并且基于所述积聚的电荷的所估计的量来校正针对所述探测元件的测得的光子计数。这允许补偿由积聚的电荷引起的光子计数率的损坏并改进光子计数的确定。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112088320A
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN201980030697.8
申请日：2019-05-07
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Abstract: 公开了一种适于探测泄漏电流的辐射探测器(100)，并且所述辐射探测器包括直接转换材料(101)、至少一个第一电极(108)和多个第二电极(103)、至少一个电流测量设备(201)、以及多个信号处理链(210、220、230)，所述直接转换材料用于转换入射辐射，所述至少一个第一电极和所述多个第二电极被连接到所述直接转换材料(101)的表面以在施加电场后收集每个生成的电荷。每个信号处理链包括读出单元(215、216、217、218、219)和切换元件(214)，所述读出单元用于在关于所述入射辐射的能量值之间进行鉴别，所述切换元件用于在第一信号路径(2141)上或在第二信号路径上发送信号，所述第一信号路径将所述多个第二电极中的一个与所述读出单元电连接，所述第二信号路径将所述多个第二电极中的所述一个与到所述至少一个电流测量设备中的一个的输入端电连接。多个切换元件被配置为在所述第二信号路径上发送信号以在不存在入射辐射的情况下测量在所述探测器的对应的多个第二电极处接收的泄漏电流。
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公开(公告)号：CN104583806B
公开(公告)日：2018-08-10
申请号：CN201380043287.X
申请日：2013-07-15
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/247 , G01N23/046 , G01T1/171 , G01T1/248
Abstract: 本发明涉及一种用于探测入射X射线光子(X)的方法和X射线探测器(100)。X射线探测器(100)包括至少一个传感器单元(105)以及至少一个通量传感器(104)，其中，在所述至少一个传感器单元中X射线光子(X)被转换成传感器信号(s)，所述至少一个通量传感器用于生成与光子(X)的通量相关的通量信号(f)。所述传感器信号(s)基于所述通量信号(f)被校正。在优选实施例中，所述传感器信号(s)表示谱分辨的脉冲计数。所述通量传感器(104)可以被集成到ASIC(103)中，所述ASIC被耦合到所述传感器单元(105)。
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公开(公告)号：CN108289650A
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201680065705.9
申请日：2016-11-01
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/4241 , A61B6/481 , A61B6/482 , A61B6/486 , A61B6/50 , A61B6/504 , A61B6/507 , A61B6/5205
Abstract: 本发明涉及一种计算机断层摄影成像方法，包括：a.执行对根据至少两种造影剂进入血管网的图像数据的单个采集，所述至少两种造影剂中的第一造影剂比所述至少两种造影剂中的第二造影剂在所述血管网中存在了更长的时间，b.使用K边缘检测和/或碘描绘来处理所述图像数据以分离与每种造影剂相关联的数据，以便获得每种造影剂的浓度图，c.根据所述图像数据来确定所述血管网的包括所述第一造影剂和所述第二造影剂两者的第一部分，以及所述血管网的仅包括所述第一造影剂的第二部分，d.基于第二造影剂的总量和所述第二造影剂的所述浓度图来计算所述血管网的所述第一部分的部分血容量图，e.基于第一造影剂的总量、所述第一造影剂的所述浓度图以及所述血管网的所述第一部分的所述部分血容量图来计算所述血管网的所述第二部分的部分血容量图。
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公开(公告)号：CN107072620A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201580062900.1
申请日：2015-11-11
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
CPC classification number: A61B6/06 , A61B6/032 , A61B6/035 , A61B6/0407 , A61B6/4241
Abstract: 一种成像系统包括辐射源(108)，所述辐射源被配置为关于检查区域(106)旋转并且发射穿过所述检查区域的辐射。所述成像系统还包括辐射敏感像素(112)的阵列，其被配置为探测穿过所述检查区域的辐射并输出指示探测到的辐射的信号。辐射敏感像素的阵列被设置为跨检查区域与辐射源相对。所述成像系统还包括刚性通量滤波器设备(130)，所述刚性通量滤波器设备被设置在所述辐射源与光子计数像素的辐射敏感探测器阵列之间的检查区域中。所述刚性通量滤波器设备被配置为对穿过所述检查区域并且入射在所述刚性通量滤波器设备上的辐射进行滤波。离开所述刚性通量滤波器设备的辐射具有预定通量。
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公开(公告)号：CN105828718A
公开(公告)日：2016-08-03
申请号：CN201480069483.9
申请日：2014-12-16
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Abstract: 一种成像系统(100)包括具有焦斑(204)的辐射源(110)，其发出贯穿检查区域(106)的X?射线光子的射束。所述成像系统还包括光子计数探测器阵列(122)，其探测贯穿检查区域的X?射线光子的子集。所述成像系统还包括控制器(116)，其响应于在预定强度水平以下的所发出的X?射线光子的射束的强度的计算出的下降而生成和发射暂停信号，其令所述光子计数探测器阵列暂停探测所述X?射线光子的所述子集。所述成像系统还包括计数器(136)，其针对多个计数周期中的每个对在对应计数周期中由所述光子计数探测器阵列探测到的所述子集的所述X?射线光子进行计数。
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